發表於2024-11-22
緒論 1
0.1 電路與電子係統的復雜性 1
0.2 電路與電子係統故障診斷的必要性 2
0.3 電路與電子係統測試的特點 2
0.3.1 模擬電路與係統測試的特點 2
0.3.2 數字電路與係統測試的特點 3
0.3.3 混閤電路測試的特點 4
0.4 本書主要內容 4
本章參考文獻 6
第1章 電子係統常用故障診斷方法 7
1.1 常見故障診斷方法 7
1.1.1 基於故障模型的診斷方法 7
1.1.2 基於機器學習的診斷方法 9
1.1.3 基於信號處理的方法 10
1.1.4 基於解析模型的方法 11
1.1.5 基於知識的故障診斷方法 12
1.1.6 故障診斷方法的發展趨勢 14
1.2 基於故障樹的故障診斷方法 15
1.2.1 故障樹分析法中的基本概念和
符號 16
1.2.2 故障樹的生成 17
1.2.3 IEEE 1232的係統結構 19
1.2.4 IEEE 1232模型文件 19
1.2.5 IEEE 1232的推理機服務 20
本章參考文獻 21
第2章 數字電路測試與故障診斷 22
2.1 數字電路測試方法概述 22
2.1.1 數字電路測試的基本概念 22
2.1.2 數字電路測試的必要性和復雜性 22
2.1.3 數字電路測試的發展 24
2.2 數字電路故障模型與測試 25
2.2.1 故障及故障模型 25
2.2.2 故障測試 27
2.2.3 故障冗餘 29
2.3 數字電路測試的基本任務 30
2.3.1 測試矢量的産生 30
2.3.2 測試響應的觀測 31
2.4 可測性與完備性 32
2.4.1 可測性 32
2.4.2 完備性 32
2.5 復雜係統的分級測試 33
2.5.1 子係統一級的測試 33
2.5.2 微機係統的測試 34
2.6 窮舉測試法 34
2.6.1 單輸齣無扇齣電路 35
2.6.2 帶匯聚扇齣的單輸齣電路 38
2.6.3 各輸齣不依賴於全部輸入的
多輸齣電路 40
2.7 故障錶方法 40
2.7.1 固定式列錶計劃偵查 41
2.7.2 固定計劃定位 42
2.7.3 適應性計劃偵查和定位 44
習題 47
本章參考文獻 48
第3章 組閤電路與時序電路的故障診斷 50
3.1 通路敏化 50
3.1.1 敏化通路 50
3.1.2 通路敏化法 51
3.1.3 關於一維敏化的討論 53
3.1.4 多維敏化 55
3.2 d算法 56
3.2.1 d算法的基礎知識 56
3.2.2 d算法的基本步驟 58
3.2.3 d算法舉例 58
3.2.4 擴展d算法 63
3.3 布爾差分法 68
3.3.1 布爾差分的基本概念 68
3.3.2 布爾差分的特性 69
3.3.3 求布爾差分的方法 70
3.3.4 單故障的測試 73
3.3.5 多重故障的測試 76
3.4 故障字典 78
3.5 時序邏輯電路的測試 78
3.6 迭接電路法 79
3.6.1 基本思想 79
3.6.2 同步時序電路的組閤迭接 80
3.6.3 異步時序電路的組閤迭接 82
3.7 狀態變遷檢查法 85
3.7.1 初始狀態的設置 85
3.7.2 狀態的識彆 88
3.7.3 故障的測試 88
3.7.4 區分序列的存在性 89
習題 91
第4章 模擬電路與混閤信號的故障診斷 92
4.1 模擬電路測試的復雜性 92
4.1.1 模擬電路故障診斷概述 92
4.1.2 模擬電路故障診斷技術的産生 92
4.1.3 模擬電路故障特點 93
4.1.4 故障診斷是網絡理論的一個重要
分支 93
4.2 模擬電路的故障模型 94
4.3 模擬電路的故障診斷方法 95
4.3.1 傳統的故障診斷方法 96
4.3.2 目前的故障診斷方法 96
4.3.3 發展中的新故障測試方法 97
4.4 故障字典法 99
4.4.1 直流域中字典的建立 99
4.4.2 頻域中字典的建立 103
4.4.3 時域中字典的建立 107
4.4.4 故障的識彆與分辨 110
4.5 混閤信號測試概述 112
4.5.1 混閤信號的發展 112
4.5.2 混閤信號測試麵臨的挑戰 112
4.5.3 混閤信號的基本測試方法 113
4.5.4 混閤信號測試的展望 114
4.6 數模/模數轉換器簡介 115
4.6.1 數模轉換器 115
4.6.2 模數轉換器 118
4.7 混閤信號測試總綫 124
4.7.1 IEEE 1149.4電路結構 124
4.7.2 IEEE 1149.4測試方法 126
4.7.3 IEEE 1149.4標準指令 126
本章參考文獻 128
第5章 電路闆維修技術 130
5.1 維修前的準備 130
5.1.1 維修設備和工具 130
5.1.2 安全技術 130
5.1.3 感官訓練 131
5.2 檢修技術和方法 131
5.2.1 電路檢修原則 131
5.2.2 具體電路問題及故障處理順序 132
5.2.3 故障維修方法 132
5.2.4 小結 145
第6章 微機係統的故障診斷 147
6.1 存儲器的測試 147
6.1.1 RAM中的故障類型 148
6.1.2 測試的若乾原則性考慮 149
6.1.3 存儲器測試方法 150
6.1.4 各種測試方法的比較 155
6.2 ROM的測試方法 156
6.3 微處理器的測試 157
6.3.1 ?P的算法産生測試 158
6.3.2 ?P功能性測試的一般方法 161
6.3.3 ?P功能性測試的係統圖方法 166
6.4 利用被測係統的應用程序進行測試 168
6.4.1 基本概念 168
6.4.2 應用程序的模型化 168
6.4.3 關係圖 170
6.4.4 測試的組織 172
6.4.5 通路測試的算法 174
習題 177
本章參考文獻 177
第7章 可測性設計 178
7.1 可測性設計的概念 178
7.1.1 可靠性的定義 178
7.1.2 可靠性的主要參數指標 179
7.1.3 可測性設計的提齣 179
7.2 可測性設計的發展 180
7.2.1 可測性的起源與發展過程 180
7.2.2 國內情況 181
7.2.3 關鍵的技術 182
7.2.4 國際標準 183
7.2.5 可測性設計發展趨勢 185
7.3 可測性的測度 186
7.3.1 基本定義 186
7.3.2 標準單元的可測性分析 188
7.3.3 可控性和可觀測性的計算 190
7.4 可測性設計方法 191
7.5 內建自測試設計 194
7.5.1 多位綫性反饋移位寄存器 195
7.5.2 僞隨機數發生器 197
7.5.3 特徵分析器 198
7.5.4 內建自測試電路設計 200
7.6 邊界掃描技術 202
7.6.1 JTAG邊緣掃描可測性設計
的結構 203
7.6.2 工作方式 205
7.6.3 邊緣掃描單元的級聯 206
7.6.4 JTAG的指令 207
7.6.5 JTAG應用舉例 208
7.6.6 JTAG的特點 210
本章參考文獻 210
第8章 網絡化測試儀器 212
8.1 分布式自動測試係統 212
8.1.1 分布式係統概述 212
8.1.2 分布式係統結構及其特點 213
8.1.3 分布式係統的優勢 214
8.1.4 分布式自動測試係統 215
8.2 網絡化測試儀器 217
8.2.1 網絡化測試儀器概述 217
8.2.2 網絡化測試儀器設計規範 217
8.3 LXI總綫測試儀器 233
8.3.1 LXI總綫的發展 233
8.3.2 LXI測試儀器的基本特性 233
8.3.3 LXI測試儀器的分類 235
8.3.4 LXI測試儀器的結構與電氣
特性 238
8.3.5 LXI測試儀器的網絡設置
與通信 242
8.3.6 LXI測試儀器的觸發與同步 247
8.3.7 LXI測試儀器IVI驅動接口設計
方法 250
本章參考文獻 253
第9章 麵嚮信號的自動測試係統 254
9.1 自動測試係統概述及發展 254
9.1.1 自動測試係統的框架結構 254
9.1.2 自動測試係統的提齣與發展 255
9.1.3 麵嚮信號自動測試係統 257
9.1.4 麵嚮信號的自動測試係統的
技術框架 258
9.2 IEEE 1641協議 260
9.2.1 IEEE 1641的提齣 260
9.2.2 信號的層次結構 261
9.2.3 IEEE 1641標準的不足 263
9.3 ATML標準 263
9.3.1 XML標記語言 263
9.3.2 ATML標準 264
9.3.3 協議與自動測試係統各部分
的關係 265
9.4 IVI技術 266
9.4.1 可互換虛擬儀器技術 266
9.4.2 IVI技術 267
9.4.3 IVIsignal 269
9.5 自動測試係統應用 270
9.5.1 自動測試係統的軟件結構 270
9.5.2 測試過程 272
本章參考文獻 272
電路與電子係統故障診斷技術 下載 mobi pdf epub txt 電子書 格式 2024
電路與電子係統故障診斷技術 下載 mobi epub pdf 電子書書還行,物流有點磨嘰
評分書還行,物流有點磨嘰
評分可以
評分書還行,物流有點磨嘰
評分可以
評分書還行,物流有點磨嘰
評分可以
評分可以
評分可以
電路與電子係統故障診斷技術 mobi epub pdf txt 電子書 格式下載 2024