基本信息
书名:微电子封装超声键合机理与技术
定价:150.00元
作者:韩雷
出版社:科学出版社
出版日期:2014-06-01
ISBN:9787030412140
字数:
页码:
版次:1
装帧:精装
开本:16开
商品重量:0.4kg
编辑推荐
《微电子封装超声键合机理与技术》可作为高等院校微电子制造工程专业的研究生参考书,也可供机械、材料、测控技术等领域从事微电子制造研究的科研人员使用和参考。
内容提要
《微电子封装超声键合机理与技术》是作者关于超声键合机理和技术研究的总结。主要内容包括:微电子制造的发展,超声键合在封装互连中的地位、研究现状、存在问题;换能系统的设计原则、仿真手段和实际使用中的特性测试;对超声键合微观实验现象以及机理的科学认识和推断;热超声倒装键合工艺的技术研究;键合过程和键合动力学的检测;叠层芯片互连;铜线键合、打火成球、引线成形、超声电源。
目录
作者介绍
文摘
序言
我是一名电子工程专业的在读研究生,目前的研究方向与微电子封装紧密相关。在导师的推荐下,我阅读了这本书。这本书在超声键合的理论深度和技术广度上,都给我留下了深刻的印象。书中对超声波在固体材料中传播的物理现象,以及能量如何耦合到键合界面,实现原子间的冶金连接,有着非常详尽的阐述。我特别喜欢书中对几种主流微电子封装中超声键合技术的比较分析,这让我能够清晰地认识到不同技术在应用场景、优缺点以及技术瓶颈上的差异。比如,在讨论引线键合时,书中对金丝、铜丝、铝丝在超声能量作用下的形变特性进行了细致的比较,这对于我选择合适的键合材料非常有启发。虽然书中的部分内容涉及到高级的数值模拟和实验表征技术,需要结合其他文献一起学习,但整体而言,这本书为我构建了关于微电子封装超声键合的扎实理论基础,为我后续深入研究打下了坚实的地基。
评分作为一个多年从事封装工艺优化的工程师,我一直在寻找能够真正解决生产中遇到的瓶颈的书籍。这本书在微电子封装的超声键合机理与技术方面,可以说是我近几年来读过的最系统、最深入的一本。书中对超声振动在键合过程中的能量传递、应力分布以及材料塑性变形的理论模型推导,非常严谨,并且提供了详细的数学公式和物理图像,这对于我理解和优化工艺参数非常有指导意义。例如,在解决虚焊或金丝球(ball bond)强度不足的问题时,书中的理论分析能够帮助我 pinpoint 问题的根源,而不是仅仅依靠经验进行反复试错。另外,书中关于键合过程中产生的各种失效模式的分析,以及相应的预防和诊断方法,更是我解决实际生产难题的宝贵财富。它不仅仅停留在“是什么”,更深入到“为什么会这样”以及“如何去解决”。我尤其赞赏书中对新材料和新工艺的探讨,虽然这些内容可能还不那么成熟,但其前瞻性为我们指明了未来技术发展的方向。
评分这本书我拿到手大概有半个月了,一直想写点什么,但总觉得言语难以尽述。从封面上那略显专业的术语“微电子封装”、“超声键合”,我就知道这绝对不是一本能轻松“读”的书。我本身是做电子产品研发的,虽然不是直接接触封装设备,但产品能否稳定可靠地工作,封装环节至关重要,尤其是在集成电路越来越小型化、集成度越来越高的今天。这本书的出现,就像是为我打开了一个新的窗口,让我有机会窥探到那些隐藏在精密电路背后的关键技术。翻开目录,我看到了从基础理论到实际应用的各个层面,从材料的相互作用,到设备的工作原理,再到工艺的优化和失效分析,每一章都像是通往真相的一段阶梯。我尤其对其中关于超声能量如何传递、如何与材料发生耦合,最终实现键合的详细阐述感到着迷。那种细致入微的分析,让我对日常工作中习以为常的电子元件产生了全新的敬畏感。虽然其中涉及的物理化学原理和数学模型对我来说是很大的挑战,需要反复研读,但正是这种深度,才让我觉得这本书的价值所在。它不像市面上很多技术手册那样浅尝辄止,而是深入到问题的本质,试图解释“为什么”。
评分我的工作涉及电子产品的质量控制,对于任何可能影响产品可靠性的环节都异常敏感。微电子封装中的键合工艺,特别是超声键合,是连接芯片和外部电路的关键,其质量直接关系到产品的长期稳定性。拿到这本书后,我首先关注的是其对于键合失效模式的分析。书中详细列举了诸如拉力不足、剪切强度不够、虚焊、氧化层影响等多种典型失效情况,并从机理上进行了深入剖析。这对于我制定更完善的质量检测标准和失效分析流程非常有帮助。例如,书中关于金丝键合过程中金球形成的不均匀性与界面结合强度的关系,提供了科学的解释,让我能够更精准地定位潜在的质量风险。虽然书中涉及的一些声学和材料力学公式对我来说略显晦涩,但我通过书中提供的图示和案例,仍然能够抓住核心的理解点。这本书就像一个经验丰富的“老医生”,能够准确地诊断出封装过程中的“病症”,并开出“药方”。
评分我是一位对半导体封装技术充满好奇的业余爱好者,虽然没有科班出身的背景,但凭着一股热情,一直在自学相关知识。市面上关于封装的书籍不少,但大多要么过于理论化,要么过于偏向商业推广,很少有能像这本书这样,既有扎实的理论基础,又注重实际操作细节的。我特别欣赏书中对于超声键合过程中各种参数的分析,比如频率、功率、时间和压力等,以及这些参数如何相互影响,最终决定键合的质量。书中还配有很多原理图和实验数据,这对我理解抽象的概念非常有帮助。举个例子,书中对不同金属材料在超声键合下的界面形成过程进行了详细的讲解,包括金属的塑性变形、表面氧化物的破碎以及新界面的形成等,这些细节的披露,让我对微观世界的奇妙变化有了更直观的认识。虽然有些篇章对我的知识储备来说还是有些吃力,需要查阅大量补充资料,但这种“啃硬骨头”的过程本身就充满了乐趣。我希望通过阅读这本书,能够更深入地理解现代电子产品之所以能够如此小巧、强大,背后的工程智慧有多么令人惊叹。
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