書名:電子係統測試原理
:39.00元
售價:26.5元,便宜12.5元,摺扣67
作者:(美)莫瑞達,(美)佐瑞安,張威,王仲
齣版社:機械工業齣版社
齣版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:平裝
開本:
商品重量:0.459kg
隨著電子技術的不斷發展,電子係統測試麵臨越來越大的挑戰:研究更的故障模型,在高層設計上檢查易測試性,在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識,來麵對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識,講解設計驗證的主要手段,有助於測試的設計檢查;研究瞭如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後,提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理,並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括:
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。
第I部分 設計與測試
章 測試綜述
1.1 可靠性與測試
1.2 設計過程
1.3 驗證
1.3.1 功能模擬
1.3.2 時間模擬
1.4 測試
1.5 故障及其檢測
1.6 測試碼生成
1.7 故障覆蓋率
1.8 測試類型
1.8.1 窮舉測試
1.8.2 僞窮舉測試
1.8.3 僞隨機測試
1.8.4 確定性測試
1.9 測試應用
1.9.1 在綫測試與離綫測試
1.9.2 自動測試儀器
1.9.3 片上測試與片外測試
1.10 易測試性設計
1.10.1 可控性
1.10.2 可觀察性
1.11 測試經濟
1.11.1 收益和缺陷級
1.11.2 故障覆蓋率和缺陷級彆
1.12 進一步研究
參考文獻
習題
第2章 缺陷、失效和故障
2.1 簡介
2.2 物理缺陷
2.2.1 材料過多和缺失
2.2.2 氧化物斷裂
2.2.3 電遷移
2.3 故障模式
2.3.1 開路
2.3.2 短路
2.4 故障
2.5 固定型故障
2.5.1 單固定型故障
2.5.2 多固定故障
2.6 故障列錶
2.6.1 等價關係
2.6.2 支配關係
2.6.3 故障精簡
2.7 橋接故障
2.8 短路和開路故障
2.8.1 NMOS電路
2.8.2 CMOS電路
2.9 時延故障
2.10 暫時失效
2.10.1 瞬時故障
2.10.2 間歇故障
2.11 噪聲失效
參考文獻
習題
第3章 設計錶示
第4章 VLSI設計流程
第II部分 測試流程
第5章 測試中模擬的角色
第6章 自動測試碼生成
第7章 電流測試
第III部分 易測試性設計
第8章 專用技術
第9章 路徑掃描設計
0章 邊界掃描測試
1章 內建自測試
第IV部分 特殊結構
2章 存儲器測試
3章 FPGA與微處理器的測試
第V部分 高級論題
4章 易測試性綜閤
5章 SOC測試
附錄A 參考書目
附錄B 縮寫詞錶
Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖剋拉拉大學電子工程係教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。
作為一名長期從事硬件維護工作的技術人員,我一直苦於缺乏一本能夠係統講解“測試與可維護性”之間關係的權威讀物。這本書恰好填補瞭我的知識空白。它不僅僅停留在告訴你如何使用測試設備,更關鍵的是,它教會瞭我們如何在設計初期就嵌入可測試性的考量,從而從源頭上減少後期的維護成本和時間。書中關於故障模式、影響和關鍵性分析(FMECA)的應用實例,簡直是教科書級彆的範例。通過書中的案例分析,我學會瞭如何將抽象的可靠性指標轉化為具體的測試指標。此外,作者對測試環境的搭建和測試夾具的設計也給齣瞭不少實用的建議,這些都是課堂上學不到的“真知灼見”。這本書的深度和廣度兼備,無論是對優化現有測試流程,還是對探索下一代産品的測試方案,都提供瞭堅實的理論支撐和前瞻性的視野。
評分這本《電子係統測試原理》讀完後,我感覺自己對電子係統的工作原理和故障排查有瞭全新的認識。書裏對各種測試方法,比如功能測試、性能測試、環境測試的講解非常透徹,每一個概念都配有清晰的圖示和實際案例,這對於我們這些剛入門的工程師來說,簡直是福音。尤其是關於測試自動化和可測試性設計的章節,作者的思路非常新穎,把理論和實踐完美地結閤瞭起來。我特彆欣賞作者在描述復雜概念時所采用的循序漸進的方式,讓你在不知不覺中就掌握瞭核心要點。比如,在講解BIST(內建自測試)時,作者沒有直接拋齣復雜的算法,而是先從係統層麵的需求齣發,逐步深入到具體的電路實現,這種講解方式極大地降低瞭學習的門檻。看完這本書,我感覺自己不僅僅是學會瞭“怎麼測”,更理解瞭“為什麼這麼測”,這纔是真正的原理精髓所在。書中還涉及瞭最新的測試標準和行業規範,確保瞭我們學到的知識是最前沿、最實用的。
評分翻開這本書,首先映入眼簾的是作者深厚的學術功底和嚴謹的治學態度。這本書的結構安排非常閤理,邏輯層次分明,從基礎的信號完整性分析到復雜的係統級故障診斷,每一步都銜接得天衣無縫。我尤其喜歡作者在探討測試覆蓋率時所使用的數學模型和統計學分析,這些內容在很多同類書籍中往往一帶而過,但在這裏卻被深入挖掘,讓人對測試的“充分性”有瞭更深刻的理解。更值得稱贊的是,作者並沒有拘泥於傳統理論,而是加入瞭大量的現代電子設計趨勢,比如高頻電路的測試挑戰和SoC(係統級芯片)的測試策略,這使得這本書的價值遠超一本基礎教材。對於有一定經驗的工程師來說,這本書可以作為一本絕佳的進階參考書,幫助我們係統性地梳理和提升自己的專業知識體係。文字的組織非常流暢,讀起來毫不費力,即便麵對晦澀的理論,作者也能用精準而富有洞察力的語言將其闡述清楚。
評分我嚮來對那些隻談理論而不顧工程實踐的書持保留態度,但《電子係統測試原理》完全打破瞭我的固有印象。這本書的實用性強到令人稱奇。作者對主流測試儀器(如示波器、邏輯分析儀、頻譜分析儀)的高級功能應用描述得極其到位,很多我以前隻能靠反復試錯纔能掌握的操作技巧,在書中得到瞭係統性的歸納和總結。尤其對數字信號的定時偏差和抖動分析部分,作者給齣瞭業內公認的權威處理流程,這對於處理高速數字接口問題至關重要。更貼心的是,書中還穿插瞭一些“陷阱”和“常見錯誤”的警示,這些經驗之談,往往能為讀者節省大量的調試時間。總的來說,這本書就像一本武功秘籍,不僅展示瞭高超的招式(測試方法),更揭示瞭招式背後的內功心法(測試哲學),使人茅塞頓開,受益匪淺。
評分這本書的閱讀體驗非常獨特,它更像是一位經驗豐富的導師在身邊耳提麵命,而不是一本冰冷的教科書。作者在描述各種測試技術時,總是能夠巧妙地融入其背後的物理原理和工程妥協。比如,在講解阻抗匹配對信號測試結果的影響時,書中詳細剖析瞭電纜特性阻抗與信號源/負載阻抗失配時産生的反射波形,配圖清晰到讓人仿佛能親眼看到信號在導綫中“跳躍”的樣子。這種從微觀到宏觀的分析角度,極大地增強瞭讀者的直觀感受。我特彆欣賞作者在討論測試成本控製時所展現齣的務實精神,他清晰地指齣,完美的測試是不存在的,關鍵在於如何在滿足産品質量要求和控製測試投入之間找到最佳平衡點。這本書的章節之間關聯緊密,形成瞭一個完整的知識閉環,讀完後你會發現,對電子係統測試的理解已經從零散的經驗總結,升華到一套完整的科學方法論。
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