可靠性基础与几何分布产品的统计分析 [Reliability Basis and Statistical Analysis of Geometric Distribution Products]

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金莹 著

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发表于2024-11-24

图书介绍


出版社: 经济管理出版社
ISBN:9787509652862
版次:1
商品编码:12237959
包装:平装
外文名称:Reliability Basis and Statistical Analysis of Geometric Distribution Products
开本:16开
出版时间:2017-09-01
用纸:胶版纸
页数:


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图书描述

内容简介

  可靠性的概率模型、寿命(失效)数据的统计分析、可靠性中的优化模型、软件可靠性问题组成了可靠性方法研究的主要方面。寿命(失效)数据的统计分析中关于几何分布产品的讨论较少,《可靠性基础与几何分布产品的统计分析》重点讨论几何分布产品寿命(失效)数据的统计分析。
  《可靠性基础与几何分布产品的统计分析》介绍了可靠性发展史,可靠性概率统计基础知识,可靠性常用分布及相关指标,可靠性与寿命试验的概念、分类及加速寿命试验相关内容,几何分布参数估计,恒加应力和步加应力下的统计分析,定时和定数截尾、恒加和步加应力下的设计,TFR模型下两步和多步步加试验下贝叶斯分析等内容。

作者简介

  金莹,1980年出生,2006年6月毕业于上海师范大学数学与信息科学学院,获得硕士学位。主要研究领域为可靠性统计、经济统计。2006年9月至今在河南财经政法大学统计学院工作,主讲《数理统计学》、《统计学》和《信用风险度量》三门课程。已发表文章10余篇,主持和参与项目9项。

内页插图

目录

第一章 绪论
第一节 什么是可靠性
一、可靠性的定义
二、质量与可靠性
第二节 可靠性发展史
第三节 可靠性工作的内容
第四节 研究可靠性的意义
一、保证和提高产品的可靠性水平,提高产品的安全性和实用性
二、提高经济效益
三、提高市场竞争能力
第五节 可靠性数据的收集与整理
第六节 可靠性理论

第二章 可靠性概率统计基础知识
第一节 随机事件及其概率
一、随机试验、随机事件及其运算
二、概率的定义和性质
三、五大公式(加法、减法、乘法、全概、贝叶斯)
四、事件的独立性
第二节 随机变量及其分布
一、一维随机变量及其分布
二、二维随机变量及其分布
第三节 随机变量的数字特征
一、一维随机变量的数字特征
二、二维随机变量的数字特征
第四节 大数定律和中心极限定理
一、切比雪夫不等式
二、大数定律
三、中心极限定理
四、二项定理和泊松定理
第五节 统计量及其抽样分布
一、总体、个体和样本
二、样本函数与统计量
三、三个常用抽样分布
四、常用统计量的分布
第六节 参数估计
一、点估计
二、估计量的评选标准
三、单正态总体区间估计
四、贝叶斯估计
第七节 蒙特卡洛模拟
一、蒙特卡洛模拟原理
二、随机数的产生
三、随机变量的产生
……

第三章 可靠性设计
第四章 可靠性管理
第五章 可靠性试验
第六章 可靠性分析
第七章 几何分布参数估计
第八章 几何分布产品加速寿命试验的统计分析
第九章 几何分布产品加速寿命试验的最优设计
第十章 TFR模型下关于几何分布产品加速寿命试验的贝叶斯分析

参考文献
后记

前言/序言

  产品的可靠性是设计和制造出来的,也是试验出来的。可靠性与寿命试验工作贯穿于产品的全寿命周期,是评价产品可靠性与寿命的一个重要手段,是可靠性工程的重要组成部分。在产品的研制阶段,为了保证产品具有一定的可靠性水平或提高产品的可靠性,要通过可靠性研制试验暴露产品的缺陷,进而进行分析,并采取有效的纠正措施,使产品的可靠性得到保证或提高;在设计定型前,要对产品进行可靠性鉴定试验,验证产品的可靠性指标是否达到规定的要求,为产品设计定型提供依据;在生产阶段,成批生产的产品在交付使用前,要通过可靠性验收试验来对产品的可靠性进行验收,对用户而言,合格的接收,不合格的拒收;在研制阶段和生产阶段,产品均要实施环境应力筛选,以便发现和排除不良元器件、制造工艺或其他原因引起的缺陷造成的早期故障;在使用维护阶段,为了了解产品在使用现场的可靠性水平,还要进行外场试验等。
  可靠性试验是为了了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。寿命试验是指为了测定产品在规定条件下的寿命所进行的试验。广义而言,寿命试验也属于可靠性试验,但寿命试验主要针对具有耗损特性的产品。
  通过可靠性试验,可以发现产品在设计、材料和工艺方面的缺陷,确认产品是否符合可靠性定量要求,为评估产品的战备完好性、任务成功性、维修人力费用和保障资源费用提供信息。通过寿命试验,可以验证产品在规定条件下的使用寿命、储存寿命。通过寿命试验,还可以发现设计中可能过早发生耗损故障的零部件,并确定故障的根本原因和可能采取的纠正措施。
  可靠性与寿命试验技术是从20世纪50年代初开始发展起来的,最早应用于军工产品,至今已在航空、航天、电子、汽车、计算机等行业得到了广泛的应用。粗略地讲,可靠性的概率模型、寿命(失效)数据的统计分析、可靠性中的优化模型、软件可靠性问题组成了可靠性方法研究的主要方面。寿命(失效)数据的统计分析中常用的分布有指数分布、威布尔分布、对数正态、伽马分布和极值分布等。几何分布通常描述的是首次“成功”问题。许多产品的寿命是离散型的,譬如一些接插件产品(如开关等),其寿命就可以用几何分布来描述。由于几何分布具有无记忆性,因此其在可靠性理论与应用概率中有着非常重要的地位,是构成各种随机模型的基本构件。所以,几何分布是离散型寿命分布中最为重要的,它在信息工程、电子工程、控制论以及经济学中有着重要的应用。由此可见,对几何分布产品的研究有着重要的理论与应用价值,但是关于几何分布产品寿命(失效)数据的统计分析的讨论较少。本书重点讨论几何分布产品寿命(失效)数据的统计分析。
  本书共十章:第一章为绪论,介绍了可靠性、可靠性发展史等;第二章为可靠性概率统计基础知识;第三章为可靠性设计;第四章为可靠性管理;第五章为可靠性试验,介绍了可靠性试验的基本理论、分类及加速寿命试验的相关的内容;第六章为可靠性分析,第七章为几何分布参数估计;第八章为几何分布产品加速寿命试验的统计分析,介绍了恒加应力和步加应力下的统计分析;第九章为几何分布产品加速寿命试验的最优设计,分别介绍了定时截尾、定数截尾、恒加应力和步加应力下的最优设计;第十章为TFR模型下关于几何分布产品加速寿命试验的贝叶斯分析,介绍了两步和多步步加试验下贝叶斯分析。
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