具体描述
| GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 | ||
| 定价 | 54.00 | |
| 出版社 | 中国标准出版社 | |
| 版次 | B1 | |
| 出版时间 | 2017年02月 | |
| 开本 | 16 | |
| 作者 | 中国标准化委员会 | |
| 装帧 | 钉装 | |
| 页数 | 0 | |
| 字数 | 0 | |
| ISBN编码 | GB/T 17626.32016 | |
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用户评价
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评分作为一名在消费电子产品研发一线摸爬滚打多年的工程师，我深知产品可靠性和用户体验是我们在市场中立足的根本。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，如同一面透彻的镜子，让我看到了产品在复杂电磁环境下可能面临的挑战，并为我提供了应对这些挑战的有力武器。 本书在内容编排上的最大特色，便是其对试验过程的全面而细致的描绘。从试验的理论基础，到具体的设备配置、操作流程，再到结果的分析与判定，无一不涵盖其中。我特别喜欢书中关于试验设备选型那一章节的论述。它详细列举了各类试验设备应具备的关键技术指标，比如信号发生器的频率扫描速度、功率放大器的线性度、以及电磁场探头的灵敏度和频率响应范围等等。这对于我们工程技术人员来说，能够更准确地选择和配置试验设备，确保试验结果的有效性和可靠性，避免了过去那种“差不多就行”的模糊做法。 更让我印象深刻的是，书中对试验过程中可能出现的各种干扰源和影响因素进行了深入的探讨。它解释了为何在进行辐射抗扰度试验时，需要严格控制试验场地内的电磁环境，避免外部射频信号的引入，也强调了如何正确地放置和屏蔽受试设备（EUT）的各种线缆，以防止这些线缆成为接收外部干扰的“天线”。这些细节的强调，恰恰是我们在实际产品设计和测试中，最容易忽略但又至关重要的环节，而本书则将其清晰地呈现在我们面前。 此外，本书对试验结果的评定标准也做得非常到位。它不仅仅是给出了一个简单的“通过”或“不通过”的结论，而是通过对EUT在不同电磁场强度下的性能表现进行分级，让我们能够更直观地了解产品的EMC性能极限。这对于我们进行产品设计优化非常有帮助。例如，当我们在试验中发现EUT在某个特定频率范围或电磁场强度下出现功能异常时，就可以根据本书提供的评定标准，来判断这种异常是否严重，是否需要进行进一步的整改，从而更有效地分配研发资源，提升产品的整体竞争力。 总而言之，这本书不仅是一本技术标准的解读，更是一本实操手册，它为我们提供了一个全面、系统、科学的射频电磁场辐射抗扰度试验的指南。它帮助我更深入地理解了EMC设计的重要性，并为我提供了切实可行的技术方案，对提升我所在公司产品的EMC性能起到了至关重要的作用。
评分作为一名在电子产品设计领域摸爬滚打多年的工程师，我手边陆陆续续积累了不少关于电磁兼容（EMC）的书籍，其中，《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》无疑是近期我最常翻阅的一本。这本书给我最直观的感受是，它不仅仅是一本标准的技术规范，更像是一本实操手册，深入浅出地为我们这些一线的设计者和测试人员提供了一个清晰、系统化的指导框架。 首先，它在内容组织上极其严谨。标准中对于射频电磁场辐射抗扰度试验的各个方面，从试验的基本原理、试验目的，到具体的试验设备选择、试验环境要求，再到试验的实施步骤、数据记录和结果评定，都进行了详尽的阐述。读这本书，就像是有一位经验丰富的老师在一步步地带领你完成整个试验流程。特别值得称赞的是，标准中对试验设备的要求非常具体，例如对场强的测量精度、频率范围、调制方式等方面都有明确的规定，这对于保证试验结果的准确性和可重复性至关重要。我尤其关注了其中关于天线选型和放置的要求，这直接关系到能否在受试设备（EUT）的关键区域产生足够且均匀的电磁场，避免了许多以往在实际操作中容易遇到的盲点。 此外，书中对于不同类型产品的抗扰度性能要求，也提供了非常实用的参考。虽然标准本身是一个通用规范，但通过其附录或者相关引用标准，可以了解到针对不同行业（如信息技术设备、家用电器、医疗器械等）的特定要求和豁免条件。这对于我们在进行产品设计时，能够更有针对性地进行EMC防护设计，预先规避潜在的风险，减少后期重复测试和修改的成本。比如，在信息技术设备的章节，我发现它详细列举了不同接口（如USB、HDMI、Ethernet）在承受射频干扰时的可能表现，以及相应的测试方法，这对我目前正在负责的一款高性能服务器的设计工作提供了极大的帮助。 再者，这本书对于试验结果的评定标准也做了非常清晰的界定。不仅仅是“合格”或“不合格”，而是根据EUT在不同等级电磁场照射下的性能变化，进行详细的分级。这使得我们能够更精确地评估产品的EMC性能，并根据市场需求和产品定位，来决定最终的EMC性能等级。这种细致的评定方式，也促进了我们对产品进行更深层次的优化，不仅仅是为了满足最低标准，更是为了追求更高的可靠性和用户体验。 总的来说，这本书为射频电磁场辐射抗扰度试验提供了一个坚实的技术基础和操作指南。它不仅适合EMC工程师、产品设计工程师，也对质量检测人员、产品认证机构等相关从业人员具有重要的参考价值。它帮助我系统地梳理了射频辐射抗扰度试验的方方面面，为我的实际工作提供了强大的支持。
评分作为一名在嵌入式系统领域深耕多年的技术开发者，我深知电子设备在复杂电磁环境下的生存能力至关重要。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，以其深入的专业性和严谨的技术论述，为我打开了射频电磁场辐射抗扰度试验的一扇新大门。 这本书最大的价值在于它对试验方法论的系统性梳理。它不仅仅是罗列了一堆数据和公式，而是从科学原理出发，层层递进地剖析了射频电磁场对电子设备造成干扰的机理，以及如何通过规范化的试验来模拟和评估这种干扰。书中对试验设备的详细介绍，例如对于信号发生器的频率稳定性、输出功率的准确性，以及天线的辐射效率和方向性等方面的要求，都让我对如何搭建一个科学可靠的试验环境有了更清晰的认识。过去，我们可能会凭经验来选择设备，但这本书则提供了量化的标准，让我能够更有依据地进行设备选型，避免因设备本身的不稳定性导致试验结果的偏差。 我特别欣赏书中关于试验布局和操作规程的详细描述。例如，它明确规定了受试设备（EUT）与测试天线之间的距离，以及EUT的摆放角度和高度。这些细节看似微不足道，但却直接影响到EUT所承受的电磁场强度和均匀性，进而影响到试验结果的代表性。书中还针对不同类型的EUT，提供了不同的测试配置建议，例如对于机架式设备，如何进行多角度的扫描；对于便携式设备，如何模拟用户手持或放置在桌面上的情况。这些具体的指导，让我能够更好地理解标准背后的意图，并在实际操作中更精准地执行。 此外，书中对试验结果的解释和判定标准也进行了详尽的阐述。它不仅仅是告诉我们“通过”或“不通过”，而是提供了一个分级的评价体系，让我们可以根据EUT在不同电磁场强度下的性能变化，来准确评估其抗扰度水平。这对于我们进行产品设计优化非常有指导意义。例如，当发现EUT在某个特定频率或电磁场强度下出现性能下降时，我们可以根据标准提供的判定依据，来判断这种下降是否已经超出了可接受的范围，并据此来调整设计策略。 这本书给我最大的启发是，EMC试验并非简单的“找茬”，而是对产品在真实电磁环境中稳定运行能力的一种科学的、系统的评估。它要求我们不仅要掌握试验的技术细节，更要理解试验的本质意义。对于任何想要提升产品EMC性能的工程师而言，这本书都是一本不可多得的指导手册。
评分在电子产品日新月异的今天，电磁兼容性（EMC）已不再是锦上添花，而是关乎产品生命力的基石。我最近深入研读的《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，就如同一位严谨的导师，为我揭示了射频电磁场辐射抗扰度这一关键领域的奥秘。 这本书最大的亮点在于其极高的实用性和操作性。它并非那种停留在理论层面的泛泛而谈，而是以一种“手把手”的教学方式，引导读者一步步深入理解并掌握射频辐射抗扰度试验的相关技术。书中详细描述了试验的原理，解释了为何需要进行此类试验，以及它在保护电子设备免受外界射频干扰方面的不可替代的作用。我特别喜欢其中关于试验装置的章节，它详细列举了包括信号发生器、功率放大器、天线、场强仪等关键设备的性能要求和选型指南，甚至还给出了具体的连接示意图，这对于初涉此领域的新人来说，无疑是宝贵的财富，能够有效避免在设备采购和搭建过程中走弯路。 更让我印象深刻的是，书中对试验的实施步骤进行了非常细致的分解。从试验前的准备工作，包括对受试设备（EUT）的正确安装、供电和接口连接，到试验过程中的参数设置，如扫描频率范围、步进间隔、调制方式、电平控制等，都给出了清晰的操作流程。而且，书中还特别强调了试验过程中需要注意的细节，例如如何避免反射和杂散辐射对测试结果的影响，如何确保测试环境的电磁洁净度等。这些看似微小的细节，却往往是影响试验结果准确性的关键所在，而这本书将其一一罗列，足见其严谨和专业。 此外，书中对试验结果的判定准则也进行了非常详尽的说明。它不仅提供了不同等级的性能指标，还结合了具体的案例，阐述了如何根据EUT在不同电磁场强度下的性能表现来判定其是否合格。这种清晰的判定标准，对于我们进行产品设计和优化至关重要，它能够帮助我们准确地识别产品的EMC薄弱环节，并采取相应的改进措施，以确保产品在实际使用环境中能够稳定可靠地运行。 这本书不仅仅是技术规范的堆砌，它更体现了一种对科学严谨的态度和对工程实践的深刻理解。它帮助我将抽象的EMC理论与具体的试验操作紧密结合起来，极大地提升了我对射频辐射抗扰度试验的认知深度和实操能力。对于任何从事电子产品研发、生产和质量控制的工程师来说，这本书都是一本不可或缺的参考书。
评分作为一名电子工程师，对产品在各种复杂电磁环境下的稳定性有着深刻的认知。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，为我提供了系统而详尽的射频辐射抗扰度评估指南。 本书最令我印象深刻的是其对试验方法论的深刻阐述。它不仅仅是简单地罗列了试验的步骤，而是从射频电磁场如何影响电子设备工作机理的角度出发，深入浅出地解释了试验的原理和目的。书中对试验装置的详细描述，例如对信号发生器的频率范围、输出功率稳定性，以及功率放大器的线性度等关键性能指标的规定，都让我对如何搭建一个符合标准的试验环境有了更清晰的认识。而且，书中还提供了不同类型天线的选型指南，这对于确保在受试设备（EUT）的关键区域产生均匀且符合要求的电磁场至关重要。 尤为宝贵的是，本书在试验操作规程上的详细程度。它不仅清晰地列出了试验的步骤，还详细说明了在试验过程中需要注意的各种细节，例如EUT的摆放方式、供电方式、接口连接，以及如何避免试验场地内的环境干扰。书中还对不同类型EUT的测试配置给出了具体的建议，例如对于机架式设备，如何进行多角度扫描；对于便携式设备，如何模拟用户使用场景。这些细致的指导，能够帮助我们更准确地执行试验，减少因操作不当而导致的误差。 此外，本书对试验结果的判定标准也进行了非常详尽的阐述。它不仅仅是给出了一个简单的“合格”或“不合格”的结论，而是根据EUT在不同电磁场强度下的性能表现，提供了分级的评价体系。这使得我们能够更精确地评估产品的EMC性能，并根据市场需求和产品定位，来决定最终的EMC性能等级。这种细致的评定方式，也促进了我们对产品进行更深层次的优化，不仅仅是为了满足最低标准，更是为了追求更高的可靠性和用户体验。 总而言之，《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，为射频电磁场辐射抗扰度试验提供了一个坚实的技术基础和操作指南。它帮助我系统地梳理了射频辐射抗扰度试验的方方面面，为我的实际工作提供了强大的支持，并且让我对产品的EMC设计有了更深刻的理解。
评分在当今电子产品高度集成和互联互通的时代，电磁兼容性（EMC）的挑战日益严峻。而《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，正是我在应对这一挑战过程中，不可或缺的指引明灯。 本书最令我印象深刻之处，在于其对试验原理的深入剖析以及对实际操作的精细指导。它不仅仅是简单地罗列了标准的要求，而是从射频电磁场如何影响电子设备工作机理的角度出发，循循善诱地解释了进行辐射抗扰度试验的必要性和重要性。书中关于试验装置的构成和性能要求的讲解，让我对如何搭建一个符合标准的试验环境有了更为系统和准确的认识。从信号发生器的选择，到功率放大器的匹配，再到不同类型天线的辐射特性，书中都给出了详尽的说明和技术参考，这对于我们避免在设备选型过程中产生盲点，确保试验结果的准确性，起到了至关重要的作用。 尤为宝贵的是，本书在对试验实施过程的描述上，达到了近乎“事无巨细”的程度。它详细阐述了受试设备（EUT）的摆放、供电、接口连接等准备工作，以及在试验过程中如何进行频率扫描、电平控制、调制方式选择等关键参数的设置。书中甚至还详细说明了在试验过程中，如何有效地监测EUT的工作状态，以及当EUT出现异常表现时，应如何进行记录和判定。这些细致入微的指导，对于我们这些一线操作人员来说，能够极大地减少因操作不当而导致试验结果偏差的可能性，确保试验的有效性和可重复性。 此外，本书在试验结果的判定准则上也提供了非常清晰和完善的指引。它不仅阐述了不同等级的性能要求，还结合了实际的工程应用案例，详细说明了如何根据EUT在不同电磁场强度下的性能变化，来评估其抗扰度水平。这使得我们在进行产品设计优化时，能够更有针对性地识别产品的EMC薄弱环节，并采取有效的改进措施，从而提升产品的整体可靠性和市场竞争力。 总而言之，《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，不仅为射频辐射抗扰度试验提供了一个权威的技术规范，更是一本极具实用价值的操作指南。它以其科学严谨的论述和细致入微的指导，帮助我更深入地理解了EMC设计的重要性，并为我提供了应对挑战的有力武器。
评分作为一名长期在电子产品可靠性领域工作的工程师，我深知电磁兼容性（EMC）在产品设计和性能评估中的重要性。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，为我提供了一个全面而深入的射频辐射抗扰度试验的指导框架。 本书最让我称道之处，在于其对试验方法的系统性和科学性。它不仅仅是简单地列出了试验的步骤，而是深入探讨了射频电磁场是如何影响电子设备的，以及为何要采用特定的试验方法来模拟和评估这种影响。书中对试验装置的详细介绍，例如对信号发生器的频率范围、输出功率稳定性，以及功率放大器的线性度等方面的要求，都给我提供了非常有价值的参考。它帮助我理解了为何需要使用特定的天线类型和如何进行精确的场强校准，从而确保试验过程中产生的电磁场能够准确地反映真实世界的电磁环境。 尤为宝贵的是，本书在试验操作规程方面的详细阐述。它不仅给出了标准化的试验步骤，还针对不同类型的电子设备，提供了具体的摆放方式、测试角度和扫描策略。书中还强调了在试验过程中，如何有效地监测受试设备（EUT）的性能状态，以及当EUT出现异常表现时，如何准确地记录和分析。这些细节的处理，对于确保试验结果的可靠性和可重复性至关重要，也帮助我更好地理解了试验标准背后的逻辑和意图。 此外，本书对试验结果的判定标准也进行了非常清晰的界定。它不仅仅是提供了一个简单的“通过”或“不通过”的结论，而是根据EUT在不同电磁场强度下的性能变化，给出了详细的分级标准。这使得我们能够更准确地评估产品的EMC性能，并根据实际需求进行针对性的设计优化。例如，当我们在试验中发现EUT在某个特定频率或电磁场强度下出现性能下降时，就可以根据本书提供的判定依据，来判断其是否满足要求，并据此来指导后续的设计改进。 总而言之，《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，以其严谨的科学态度和详尽的实践指导，为射频辐射抗扰度试验提供了一个权威的参考。它帮助我更深入地理解了EMC设计的重要性，并为我提供了应对挑战的有力工具，对提升我所在公司的产品可靠性起到了极大的推动作用。
评分作为一名在电子产品设计领域摸爬滚打多年的工程师，我深知电磁兼容（EMC）对于产品性能和用户体验的重要性。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，如同一本精密的工具书，为我揭示了射频电磁场辐射抗扰度试验的每一个细节。 本书最让我印象深刻的是，它不仅仅是一份技术规范的翻译，而是对整个试验过程的深度解读。它从射频电磁场如何对电子设备产生干扰的原理出发，循序渐进地解释了试验的目的、方法和意义。书中对试验设备的详细描述，例如对信号发生器的频率范围、输出功率精度，以及功率放大器的线性度和增益等方面的要求，都让我对如何搭建一个符合标准的试验环境有了更清晰的认识。而且，书中还提供了不同类型天线的选型指南，这对于确保在受试设备（EUT）的关键区域产生均匀且符合要求的电磁场至关重要。 尤为宝贵的是，本书在试验操作规程上的详细程度。它不仅清晰地列出了试验的步骤，还详细说明了在试验过程中需要注意的各种细节，例如EUT的摆放方式、供电方式、接口连接，以及如何避免试验场地内的环境干扰。书中还对不同类型EUT的测试配置给出了具体的建议，例如对于机架式设备，如何进行多角度扫描；对于便携式设备，如何模拟用户使用场景。这些细致的指导，能够帮助我们更准确地执行试验，减少因操作不当而导致的误差。 此外，本书对试验结果的判定标准也进行了非常详尽的阐述。它不仅仅是给出了一个简单的“合格”或“不合格”的结论，而是根据EUT在不同电磁场强度下的性能表现，提供了分级的评价体系。这使得我们能够更精确地评估产品的EMC性能，并根据市场需求和产品定位，来决定最终的EMC性能等级。这种细致的评定方式，也促进了我们对产品进行更深层次的优化，不仅仅是为了满足最低标准，更是为了追求更高的可靠性和用户体验。 总而言之，《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，为射频电磁场辐射抗扰度试验提供了一个坚实的技术基础和操作指南。它帮助我系统地梳理了射频辐射抗扰度试验的方方面面，为我的实际工作提供了强大的支持，并且让我对产品的EMC设计有了更深刻的理解。
评分作为一名长期从事电子产品可靠性研究的技术人员，我对各类技术标准和测试方法都有着浓厚的兴趣。《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》这本书，以其严谨的科学态度和详尽的实践指导，为我提供了一个系统而深入的射频辐射抗扰度评估框架。 这本书最大的亮点在于其对试验方法论的深刻洞察。它不仅仅停留在对标准条文的简单复述，而是深入探讨了射频电磁场对电子设备产生干扰的物理机理，以及为何要采用特定的试验方法来模拟这些干扰。书中关于试验设备的选择和校准部分，给了我极大的启发。它详细阐述了不同类型信号源、功率放大器和天线的技术要求，以及它们对试验结果准确性的影响。更重要的是，它强调了试验设备校准的重要性，以及如何通过校准来确保测量数据的可靠性。这使得我们在实际操作中，能够更有依据地进行设备选型和维护，避免因设备本身的问题而导致测试结果的失真。 我尤其赞赏书中关于试验配置和操作步骤的详细描述。例如，它针对不同类型和尺寸的受试设备（EUT），给出了具体的摆放方式和天线配置建议，以及如何有效地进行电磁场的扫描和聚焦。书中还详细说明了如何在试验过程中，监测EUT的性能状态，并根据预设的性能判据来记录异常现象。这些细节的阐述，对于我们在实际进行试验时，能够确保操作的规范性和一致性，从而提高试验结果的可比性和重现性。 此外，书中对试验结果的解释和判定准则也做得非常到位。它不仅仅是给出了一组数据，而是结合了实际的工程应用场景，详细阐述了如何根据EUT在不同电磁场照射下的性能变化，来评估其抗扰度等级。这有助于我们更清晰地认识到产品的EMC薄弱环节，并为后续的设计优化提供明确的方向。例如，当EUT在某个特定频率范围内表现出较差的抗扰度时，我们可以根据本书的指引，来分析可能的原因，并采取针对性的改进措施。 这本书给我最深刻的感受是，射频辐射抗扰度试验并非一项简单的例行检查，而是一项需要深厚技术功底和严谨科学态度的复杂工程。它要求我们不仅要理解技术的表象，更要洞悉其背后的原理。这本书无疑为我提供了这样一个深入理解和实践的绝佳平台，让我能够更专业、更自信地应对EMC方面的挑战。
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