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恩云飞著，恩云飞译

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出版社：电子工业出版社

ISBN：9787121272301

版次：1

商品编码：10062407257

丛书名：可靠性技术丛书

开本：16开

出版时间：2015-10-01

页数：453

字数：619000

具体描述

作者:恩云飞,来萍,李少平编著定价:98 出版社:电子工业出版社出版日期:2015年10月01日页数:453 装帧:平装 ISBN:9787121272301 ●篇电子元器件失效分析概论
●第1章电子元器件可靠性（2）
●1.1电子元器件可靠性基本概念（2）
●1.1.1累积失效概率（2）
●1.1.2瞬时失效率（3）
●1.1.3寿命（5）
●1.2电子元器件失效及基本分类（6）
●1.2.1按失效机理的分类（7）
●1.2.2按失效时间特征的分类（7）
●1.2.3按失效后果的分类（8）
●参考文献（8）
●第2章电子元器件失效分析（9）
●2.1失效分析的作用和意义（9）
●2.1.1失效分析是提高电子元器件可靠性的必要途径（9）
●2.1.2失效分析在工程中有具有重要的支撑作用（10）
●2.1.3失效分析会产生显著的经济效益（10）
●2.1.4小结（11）
●2.2开展失效分析的基础（11）
●2.2.1具有电子元器件专业基础知识（11）
●2.2.2了解和掌握电子元器件失效机理（12）
●部分目录

内容简介

本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术。全书共19章。靠前篇电子元器件失效分析概论，分两章介绍了电子元器件可靠性及失效分析概况；第二篇失效分析技术，用7章的篇幅较为详细地介绍了失效分析中常用的技术手段，包括电测试、显微形貌分析、显微结构分析、物理性能探测、微区成分分析、应力试验和解剖制样等技术；第三篇电子元器件失效分析方法和程序，介绍了通用元件、机电元件、分立器件与集成电路、混合集成电路、半导体微波器件、板级组件和电真空器件共7类元器件的失效分析方法和程序；第四篇电子元器件失效预防有3章内容，包括电子元器件失效模式及影响分析方法(FMEA)、电子元器件故障树分析(FTA)和工程应用中电子元器件失效预防。
本书是作者总结多年的研究等
恩云飞,来萍,李少平编著恩云飞，工业和信息化部电子第五研究所研究员，中国电子学会可靠性分会委员，中国电子学会真空电子分会委员，中国电子学会第八届理事会青年与志愿者工作委员会委员，广东省电子学会理事，《失效分析与预防》编委会委员，长期从事电子元器件可靠性工作，在电子元器件可靠性物理、评价及试验方法等方面取得显著研究成果，先后获省部级科技奖励10项，发表学术论文40余篇，申请及授权国家发明专利10余项。