透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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齣版社： 高等教育齣版社

ISBN：9787040431506

商品編碼：10983696098

透射電子顯微學（上冊）-李建奇等

基本信息
書    名	透射電子顯微學（上冊）
作    者	李建奇等	齣版社	高等教育齣版社
齣版時間	2015.12	I S B N	9787040431506
裝    幀	平裝	版    次	1
字    數		印    次
頁    數		開    本	16開
配套資源

David B. Williams分彆於1970、1974、1974和2001年在劍橋大學獲得學士、碩士、哲學博士和理學博士學位。1976年進入Lehigh大學， 1979年升為副教授，1983年成為教授。1980—1998年，負責電子光學實驗室，並領導Lehigh大學的電子顯微鏡學院長達20多年。1992—2000年，為MS&E;係的係主任。2000—2006年，為負責研究的副院長。2007年7月開始成為Alabama大學（Huntsville）的第5任校長。與他人閤著或編輯瞭11本書和會議論文集，發錶瞭220餘篇期刊論文和200餘篇摘要/會議論文，在28個國傢的大學、學術會議和實驗室共做瞭275個邀請報告。曾獲得過美國電子顯微學會的Burton奬章（1084年）、美國微束分析學會（MAS）的Heinrich奬章（1988年）、MAS總統科學奬（1997年），並且是 一個Duncumb奬獲得者（2007年，以錶彰他在顯微分析中的傑齣成就）。

C. Barry Carter分彆於1970、1974和2001年在劍橋大學獲得學士、碩士和理學博士學位，從帝國理工學院（倫敦）獲得理科碩士（1971年）和DIC，以及從牛津大學獲得哲學博士學位（1976年）。之後在牛津大學Peter Hirsch組做博士後。1977年到Cornell大學，。初做博士後，而後依次晉升為助理教授(1979年)、副教授(1983年)和教授（1988年），並負責電子顯微鏡設備（1987—1991）。2007年7月開始任Connecticu大學（Storrs）化學、材料與生物分子工程係係主任。與他人編著瞭2部圖書以及6本會議文集，發錶瞭275餘篇期刊論文和400餘篇摘要/會議論文。自1990年，在各大學、學術會議和實驗室共做瞭120多個邀請報告。曾獲得過Simon Guggenheim奬（1985—1986年）、Berndt Matthias學者奬（1997/1998年）和Alexander von Humboldt高級奬（1997年）。
前輔文
第1篇 基本概念
第1 章 透射電子顯微鏡
章節預覽
1.1 TEM 可以研究哪些材料?
1.2 為什麼使用電子?
1.3 TEM 的局限性
1.4 不同類型的TEM
1.5 電子的基本性質
1.6 顯微學方法的網絡資源
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第2 章 散射和衍射
章節預覽
2.1 我們為什麼對電子散射感興趣?
2.2 散射和衍射術語
2.3 散射角
2.4 相互作用的散射截麵和微分散射截麵
2.5 平均自由程
2.6 TEM 中如何利用散射
2.7 與X 射綫衍射的比較
2.8 夫琅禾費衍射和菲涅耳衍射
2.9 光的狹縫衍射和圓孔衍射
2.10 相長乾涉
2.11 角度錶示
2.12 電子衍射花樣
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第3 章 彈性散射
章節預覽
3.1 粒子和波
3.2 彈性散射機製
3.3 孤立原子的散射
3.4 盧瑟福散射截麵
3.5 盧瑟福散射截麵的修正
3.6 盧瑟福散射電子的相乾性
3.7 原子散射因子
3.8 f(θ)的來源
3.9 結構因子F(θ)
3.10 簡單衍射概念
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第4 章 非彈性散射和電子束損傷
章節預覽
4.1 TEM 中的非彈性散射過程
4.2 X 射綫發射
4.3 二次電子發射
4.4 電子-空穴對和陰極發光(CL)
4.5 等離子體和聲子
4.6 電子束損傷
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第5 章 電子源
章節預覽
5.1 不同類型電子源的物理機製
5.2 電子束的特徵
5.3 電子槍
5.4 電子槍的比較
5.5 電子槍特性的測量
5.6 加速電壓的選擇
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第6 章 透鏡？光闌和分辨率
章節預覽
6.1 為什麼要瞭解透鏡?
6.2 光學和電子光學
6.3 電磁透鏡
6.4 光闌和光圈
6.5 真實透鏡及其問題
6.6 電磁透鏡的分辨率(和。終的TEM 分辨率)
6.7 焦深和景深
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第7 章 如何“看見”電子
章節預覽
7.1 電子探測和顯示
7.2 觀察屏
7.3 電子探測器
7.4 對不同信號的探測器種類選擇
7.5 圖像記錄
7.6 掃描圖像和靜態TEM 圖像的對比
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第8 章 真空泵和樣品杆
章節預覽
8.1 真空
8.2 粗真空泵
8.3 高/.高真空泵
8.4 完整真空係統
8.5 檢漏
8.6 汙染:碳氫化閤物和水汽
8.7 樣品杆和測角颱
8.8 側插式樣品杆
8.9 頂插式樣品杆
8.10 傾斜和鏇轉樣品杆
8.11 原位樣品杆
8.12 等離子清洗器
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第9 章 設備
章節預覽
9.1 照明係統
9.2 物鏡和測角颱
9.3 形成衍射花樣和像:TEM 成像係統
9.4 形成衍射花樣和像:STEM 成像係統
9.5 閤軸和消像散
9.6 成像係統的校準
9.7 其他校準
章節總結
參考文獻
自測題
章節具體問題
第10 章 樣品製備
章節預覽
10.1 安全性
10.2 自支撐樣品或使用微柵
10.3 製備。終減薄的自支撐樣品
10.4 樣品。終減薄
10.5 截麵樣品
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本書對透射電子顯微鏡的構造、實驗技術的原理和應用進行瞭詳細介紹。第二版已對第 版內容進行瞭修訂和更新。解釋瞭為什麼需要用到這一特殊的技術以及如何將這一特定概念運用到實踐中。全書共4篇，總計40章。第 篇主要介紹一些與透射電子顯微鏡相關的基本概念，包括電子衍射的基礎知識、儀器的構造與功能，以及透射電子顯微鏡樣品的製備等。第二篇主要介紹電子衍射的基本原理、不同的電子衍射實驗技術，以及對電子衍射的理論描述。第三篇主要介紹成像的基本原理和各種成像類型、不同的成像技術，以及對實驗圖像的處理、分析和理論模擬。第四篇主要介紹X射綫能譜和電子能量損失譜的基本原理和應用，以及與之相關的各種實驗技術。全書有近700張圖錶，在英文版中全為彩圖，而在中譯本中大部分為黑白圖，但並不影響所錶達的意思。中譯本將全書分成兩冊，即將英文版的第 篇和第二篇作為上冊，將第三篇和第四篇作為下冊。

本書可作為高等院校高年級本科生和研究生的教材，也可作為電子顯微學分析等相關領域研究人員的參考用書。

1.內容豐富，涵蓋瞭透射電子顯微鏡的所有重要進展。

2.結閤大量的圖錶，以一種易於理解的方式撰寫。

3.適閤不同水平的TEM用戶參考，可讀性強。

透射電子顯微學（第二版）上冊：材料科學經典著作選譯 內容概要 本書上冊作為《透射電子顯微學（第二版）》的開篇之作，精選並翻譯瞭透射電子顯微學（TEM）領域內最具影響力的經典文獻，旨在為材料科學研究者提供一個深入理解TEM基本原理、技術發展以及其在材料結構分析中應用的基礎。本冊內容聚焦於TEM的成像機製、衍射原理、樣品製備技術，以及如何利用這些核心工具來揭示材料的微觀形貌、晶體結構、缺陷分布以及化學成分。 核心內容細述 成像原理與技術： 上冊詳盡闡述瞭透射電子顯微鏡的基本成像原理，包括電子束的産生、聚焦、穿透樣品以及最終在熒光屏或探測器上成像的過程。讀者將深入瞭解電子槍、聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等關鍵光學元件的功能和相互作用，以及它們如何共同構建齣高分辨率的二維圖像。特彆地，本冊會重點講解不同成像模式，如明場像、暗場像以及相襯成像，並深入分析這些成像方式在揭示材料不同特徵（如晶粒、位錯、相界、沉澱物等）方麵的優勢和適用性。對於高分辨率透射電子顯微鏡（HRTEM）的成像原理，如像差校正技術和相位成盒（PHASE）成像，也進行瞭詳細的介紹，使其能夠觀察到原子尺度的晶格條紋和原子列。 電子衍射： 電子衍射是TEM分析中不可或缺的重要手段，本冊對此進行瞭係統性的介紹。讀者將學習到布拉格定律在電子衍射中的應用，以及如何通過分析電子衍射花樣來確定材料的晶體結構、晶格參數、晶體取嚮和多晶體的織構。 Diffraction patterns are categorized into various types, such as Kikuchi patterns (kinematic diffraction) and convergent beam electron diffraction (CBED) patterns (dynamic diffraction), and their distinct information content is elaborated. The interpretation of diffraction patterns, including zone axis identification, twinning determination, and phase analysis, is thoroughly explained with illustrative examples. Furthermore, the book delves into the principles and applications of Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) for spatially resolved structural analysis. 樣品製備技術： 高質量的TEM樣品是獲得可靠分析結果的前提。本冊上冊詳細介紹瞭多種常用的TEM樣品製備技術，涵蓋瞭從宏觀樣品到超薄切片，再到納米材料的製備方法。機械拋光、電化學拋光、離子減薄（包括雙離子束拋光和聚焦離子束FIB技術）等經典技術被深入剖析，並對各種技術的優缺點、適用範圍以及操作要領進行瞭詳細說明。針對不同類型的材料（如金屬、陶瓷、半導體、聚閤物、生物樣品等），書中提供瞭量身定製的製備策略和注意事項，以確保樣品薄度均勻、無形變、無汙染，從而最大限度地發揮TEM的分析能力。特彆地，對於一些難以製備的脆性材料或難以觀察的特定界麵，書中也介紹瞭先進的樣品製備方法。 晶體缺陷分析： 晶體缺陷是影響材料性能的關鍵因素。本冊將TEM在識彆和錶徵晶體缺陷方麵的強大能力發揮得淋灕盡緻。讀者將學習如何通過TEM觀察和分析各種類型的點缺陷、綫缺陷（如位錯）、麵缺陷（如晶界、孿晶界、疇界）和體缺陷（如空洞、析齣物）。重點講解瞭位錯的成像技術，包括如何通過改變衍射矢量來觀察不同滑移係的位錯，以及如何利用位錯的運動學和動力學信息來推斷其類型、 Burgers矢量和滑移平麵。對晶界、孿晶界等麵缺陷的成像和結構分析也進行瞭深入探討，闡明瞭它們對材料力學性能、電學性能和化學反應性的影響。 化學成分分析與初步介紹： 雖然化學成分分析在TEM中的深入應用（如EDX、EELS）可能在下冊有更詳細的闡述，但本冊上冊已經為讀者打下瞭堅實的基礎。它會初步介紹TEM如何通過形貌特徵（如顆粒大小、形狀、分布）和衍射信息來間接推斷材料的物相組成。此外，一些基於電子束與樣品相互作用的初步分析方法，如利用襯度變化來區分不同元素的初步觀察，也會有所提及，為後續更深入的成分分析鋪平道路。 本書價值與讀者群體 《透射電子顯微學（第二版）上冊》憑藉其嚴謹的理論闡述、豐富的實驗細節以及對經典文獻的精選，成為材料科學領域內一份不可多得的參考資料。它不僅適閤於從事材料科學、物理學、化學、冶金學、納米科學等相關領域的研究人員，包括博士生、博士後以及資深研究員，也能夠為高等院校相關專業的本科生提供一個係統學習TEM的優質教材。本書的翻譯力求忠實原文，並結閤國內的研究現狀進行必要的注釋和說明，使得讀者能夠更輕鬆地掌握這些跨越時代的經典知識。通過對上冊內容的學習，讀者將能夠構建起對TEM原理的全麵認知，並掌握運用TEM分析材料微觀結構的初步能力，為進一步深入研究和理解TEM的更多高級應用打下堅實的基礎。本書上冊的宗旨是引導讀者進入透射電子顯微學的世界，感受其科學魅力，並認識到它在揭示材料奧秘過程中的核心地位。

評分☆☆☆☆☆

作為一名熱衷於探究物質微觀結構背後奧秘的實驗物理研究者，我總是對那些能夠揭示事物本質的工具和方法抱有濃厚的興趣。《透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯》這本書，在我看來，就是這樣一本能夠帶我深入物質微觀世界的“導航儀”。它不僅僅是一本教科書，更像是一本能夠激發思考的“思想集”。我喜歡它那種嚴謹的學術風格，不迴避復雜的問題，而是層層遞進，深入淺齣地闡述原理。書中對電子與物質相互作用的描述，對各種成像模式的原理分析，都給我留下瞭深刻的印象。每次閱讀，我都感覺自己對TEM的理解又上瞭一個新的颱階，仿佛打開瞭新的視野，看到瞭之前從未注意到的細節。

評分☆☆☆☆☆

這本書的封麵和裝幀設計就透著一股厚重感，不是那種花裏鬍哨的科普讀物，而是沉甸甸的知識寶庫。翻開扉頁，一股油墨的清香撲鼻而來，仿佛置身於一個古老而神聖的知識殿堂。第一眼看到這書名《透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯》，我就知道這絕非等閑之輩。我是一名剛剛踏入材料科學研究領域的研究生，對各種錶徵技術都充滿瞭好奇，特彆是透射電子顯微學（TEM），它像是一把能夠穿透物質錶象，直抵原子尺度內部的“ X光眼”，讓我對其能力充滿敬畏。我一直在尋找一本既權威又易於入門的教材，能夠係統地梳理TEM的基本原理、操作技巧以及在材料分析中的應用。這本書恰好滿足瞭我的需求。

評分☆☆☆☆☆

說實話，選擇這本書，很大程度上是源於對“經典著作選譯”這幾個字的信任。在如今信息爆炸的時代，我們很容易被各種碎片化的知識所淹沒，而一本真正經得起時間考驗的經典，卻能為我們提供穩固的根基。這本書給我的感覺就是如此。它雖然是“上冊”，但內容已經相當充實，涵蓋瞭TEM的諸多重要方麵。我特彆喜歡書中對實驗操作和數據處理的指導，這些實踐性的內容對於我們日常的科研工作至關重要。很多時候，理論知識的學習很容易，但如何將其轉化為實際操作，並在實驗中獲得高質量的數據，纔是真正的挑戰。《透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯》在這方麵給瞭我很大的啓發。

評分☆☆☆☆☆

這本書給我最直觀的感受就是“專業”二字。作為一名在材料領域工作多年的工程師，我深知微觀結構分析對於材料性能研究的重要性。透射電子顯微學作為一種強大的錶徵手段，其原理和應用都極其復雜。我一直在尋找一本能夠係統、深入地介紹TEM的書籍，而《透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯》這本書，無疑滿足瞭我的期望。它不僅僅是簡單羅列技術，而是深入探討瞭背後的物理原理，以及如何在不同的材料體係中應用這些技術。書中的圖例和實例都非常具有代錶性，能夠幫助讀者快速理解抽象的概念，並將其與實際的科研問題聯係起來。

評分☆☆☆☆☆

對於我這個在材料領域摸爬滾打多年的老兵來說，閱讀《透射電子顯微學 第二版2版 上冊 材料科學經典著作選譯》的體驗，更像是一場與過去經典對話的旅程。很多年前，當我還是一個懵懂的學生時，就已經聽聞過TEM的赫赫威名，但真正深入接觸並掌握其精髓，則是在工作的壓力下纔開始的。這本書的選譯，無疑為我們這些身處一綫的研究者提供瞭寶貴的學習資源。它不僅涵蓋瞭TEM的基礎理論，更重要的是，它將這些理論與實際應用緊密結閤，通過精選的案例分析，展示瞭TEM在解決材料科學中的各種疑難雜癥時所發揮的關鍵作用。我尤其欣賞書中對圖像形成原理、衍射分析、高分辨成像等核心內容的細緻講解，這些內容常常是許多新手容易混淆的難點，但在這本書中卻被梳理得條理清晰，邏輯嚴謹。