内容简介
贝编著的《cmos集成电路设计手册(第3版模拟电路篇)》讨论了cmos电路设计的工艺、设计流程、eda工具手段以及数字、模拟集成电路设计,并给出了一些相关设计实例,内容介绍由浅入深。该著作涵盖了从模型到器件,从电路到系统的全面内容,是一本的、综合的cmos电路设计的工具书及参考书。 《cmos集成电路设计手册(第3版模拟电路篇)》是英文原版书作者近30年教学、科研经验的结晶,是cmos集成电路设计领域的一本力作。《cmos集成电路设计手册》已经过两次修订,目前为第3版,内容较第2版有了改进,补充了cmos电路设计领域的一些新知识,使得本书较前一版内容更加详实。 为了方便读者有选择性地学习,将本书分成3册出版,分别为基础篇、数字电路篇和模拟电路篇,本书为模拟电路篇,介绍了电流源、电压源、放大器、数据转等 R. Jacob Baker 著作 张雅丽 等 译者 R.Jacob(Jake)Baker是一位工程师、教育家以及发明家。他有超过20年的工程经验并在集成电路设计领域拥有超过200项的专利。Jake也是多本电路设计图书的作者。我不得不说,这本书在讲述模拟电路“艺术”的那一面时,表现得尤为出色。它成功地将枯燥的半导体物理与实际的电路性能挂钩,让你理解为什么设计者会选择一个看似复杂但性能卓越的结构。例如,书中对低噪声放大器(LNA)的匹配网络设计提供了几种不同“哲学”的解决方案:有追求最高噪声系数(NF)的,有追求最佳输入匹配的,还有在P1dB和噪声之间寻求帕累托最优解的。作者并没有武断地下结论,而是用详尽的仿真数据展示了每种选择的长期影响。这种引导读者独立思考、理解设计取舍的教学方式,远比直接给出标准答案要宝贵得多。遗憾的是,这本书的排版和索引系统可以做得更好,查找特定器件模型参数或特定工艺限制时,需要花费不少时间在目录和索引之间来回跳转,希望能有一个更强大的电子版搜索功能来辅助阅读。
评分说实话,这本书的阅读体验是有些“硬核”的,它的文字密度和信息量大得惊人,更像是一本参考手册而非轻松读物。我发现它在处理高精度ADC的设计时,将“数字辅助模拟”的思想体现得淋漓尽致。比如,书中对流水线ADC的动态元件匹配误差进行建模时,引入了一个基于概率的优化算法,这个算法的引入极大地拓宽了我对混合信号设计鲁棒性的认知。我尝试用书中的方法对一个16位SAR ADC进行了重新设计,特别是在开关电容阵列的配对策略上,书中给出的那种考虑了工艺角变化的“模糊匹配”思路,竟然比我之前使用的固定匹配方案在Monte Carlo仿真中表现得更稳定。但我要指出,这本书的图表质量参差不齐,部分早期章节的示意图略显粗糙,而且公式推导过程中的下标和符号有时不够统一,需要读者付出额外的注意力去辨别,这在一定程度上拖慢了学习的节奏,对于追求效率的专业人士来说,是一个小小的障碍。
评分这本书的精髓部分,绝对在于其对噪声分析和抑制的独到见解。它没有停留在经典的白噪声和粉红噪声的叠加,而是深入探讨了CMOS器件中1/f噪声的随机调制效应,以及如何通过特殊的拓扑结构来“洗掉”这种低频波动。我尤其欣赏其中关于锁相环(PLL)抖动(Jitter)的分解章节,它将PLL的抖动清晰地拆解为三种主要来源:充电泵的非理想性、VCO的相位噪声,以及环路滤波器的瞬态响应,并为每一种来源提供了具体的电路级优化路径。这不像其他教材那样只是简单地告诉你“提高环路带宽可以降低宽带抖动”,而是告诉你具体如何调整电荷泵的电流比例和锁定时间来平衡不同频段的抖动。如果说有什么不足,那就是关于测试和量产验证(ATE)部分的着墨太少,一本工程设计手册,理应包含更多关于如何设计可测试性(DFT)的模拟电路模块,以及如何使用自动化测试设备进行参数捕获和良率分析的实战经验分享。
评分这本号称“全景式”的模拟集成电路设计宝典,拿到手上沉甸甸的,光是目录的厚度就让人心生敬畏。我本以为它会像市面上很多教科书一样,在理论推导和概念讲解上做到面面俱到,但实际阅读体验却出乎意料地侧重于工程实践的“黑箱”操作。比如,关于运放的频率补偿,书中花了大量篇幅讲解如何根据特定的工艺参数和负载条件快速选择合适的零极点对,而不是纠结于米勒补偿的数学起源。这种直击痛点的讲解方式,对于已经具备一定基础,急需将理论转化为实际电路的工程师来说,简直是福音。书中提供的那些经验性的设计准则,例如对特定噪声源的抑制技巧,在实际流片过程中帮我省去了大量的仿真迭代时间。我特别欣赏它对版图设计和寄生效应影响的分析,很多模拟工程师常常忽视的细节,比如衬底噪声耦合和电荷泵的开关毛刺处理,都在书中以非常直观的图表形式呈现,读完后感觉自己的设计规范一下子提升到了一个全新的高度。不过,对于刚入门的初学者,可能需要配合其他更侧重基础理论的书籍,因为这本书的“捷径”似乎是为那些已经能听懂“黑话”的读者准备的。
评分翻开这本设计指南时,我最期待的是能看到一些关于下一代模拟技术,比如超宽带隙材料或新型晶体管结构在低功耗/高线性度设计中的应用案例,但很遗憾,这本书的重点似乎还是稳稳地扎根于成熟的CMOS工艺平台。它对传统BJT和MOS管的特性分析极其透彻,尤其是深度剖析了亚阈值区和弱反型区的非理想行为如何影响精密采样保持电路的精度。我花了整整一个下午,对比研究了书中关于失调电压的消除技术——从冗余折叠前馈(FFF)到背景校准(Background Calibration)的详细对比分析。这种细致入微的比较,让我对不同校准架构的性能权衡有了更深刻的理解,不再是盲目地堆砌复杂的电路结构。然而,对于我正在研究的低压差LDO设计项目,书中关于片上电感器的使用和RF集成中电磁兼容性(EMC)的探讨相对比较保守和理论化,缺乏实际的Layout指导手册中那种“手把手”的工程建议,感觉像是停留在“理论上可行”的阶段,离“量产可行”还差那么一点点火候。
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