| 圖書基本信息 | |||
| 圖書名稱 | 光電材料與器件測試評估技術 | 作者 | 喬建良 |
| 定價 | 19.50元 | 齣版社 | 鄭州大學齣版社 |
| ISBN | 9787564514884 | 齣版日期 | 2014-09-01 |
| 字數 | 頁碼 | 192 | |
| 版次 | 1 | 裝幀 | 平裝 |
| 開本 | 16開 | 商品重量 | 0.4Kg |
| 內容簡介 | |
| 《光電材料與器件測試評估技術》根據W.E.Spicer提齣的光電發射的“三步模型”,詳細分析瞭NEAGaN光電陰極從光電子的激發、體內到錶麵的輸運、到穿越錶麵勢壘逸齣、到真空的全過程,導齣瞭光電子隧穿陰極錶麵勢壘的透射係數。通過求解非平衡載流子的擴散方程導齣瞭反射式NEAGaN光電陰極的量子效率公式。結閤陰極的激活過程及充分激活後的NEA特性,給齣瞭NEAGaN光電陰極銫(Cs)氧(O)激活後的錶麵模型:O-Cs。 |
| 作者簡介 | |
| 目錄 | |
| 章 緒論 1.1 光電效應及其發展簡史 1.2 GaN光電陰極概述 1.2.1 NEA光電陰極的發現 1.2.2 NEA GaN光電陰極的提齣 1.2.3 GaN晶體的生長技術 1.2.4 GaN基固體探測器件的研究現狀 1.2.5 CaN基真空探測器件的研究現狀 1.3 GaN光電陰極的應用 1.3.1 在紫外探測領域的應用 1.3.2 在真空電子源中的應用 1.4 光敏電阻測試技術概述 1.5 本書主要內容及意義 1.5.1 本書主要內容 1.5.2 本書意義 第2章 GaN光電陰極光電發射理論 2.1 GaN晶體概述 2.1.1 GaN的晶格結構和主要參數 2.1.2 GaN晶體的特性及能帶結構 2.1.3 GaN晶體的本徵載流子濃度 2.2 GaN光電陰極的光電發射機製概述 2.3 GaN光電陰極的結構以及工作模式 2.4 GaN光電陰極光電發射過程 2.4.1 光電子激發 2.4.2 光電子往陰極錶麵的輸運 2.4.3 光電子隧穿錶麵勢壘 2.5 反射模式GaN光電陰極的量子效率錶達式 2.6 透射模式NEA GaN光電陰極的量子效率錶達式 2.7 GaN光電陰極錶麵模型 2.7.1 CaAs光電陰極錶麵模型的迴顧 2.7.2 GaN光電陰極錶麵模型:0-Cs 2.7.3 GaN光電陰極錶麵模型:0-Cs的討論 2.8 本章小結 第3章 GaN光電陰極製備技術 3.1 引言 3.2 激活評估實驗係統簡介 3.2.1 超高真空激活係統 3.2.2 NEA光電陰極的多信息量在綫測控係統 3.2.3 錶麵分析係統 3.3 GaN光電陰極錶麵的淨化 3.3.1 化學清洗工藝 3.3.2 加熱淨化工藝 3.4 激活實驗 3.4.1 Cs激活 3.4.2 Cs/O激活 3.5 GaN光電陰極激活機製 3.5.1 激活過程中光電流變化分析 3.5.2 激活過程中電子親和勢變化分析 3.5.3 利用錶麵模型分析激活機製 3.6 本章小結 第4章 GaN光電陰極光譜響應 4.1 引言 4.2 光譜響應測試的原理 4.3 紫外光譜響應測試儀簡介 4.4 GaN光電陰極光譜響應測試 4.4.1 反射式NEA GaN光電陰極光譜響應麯綫特點 4.4.2 反射式NEA GaN光電陰極光譜響應麯綫討論 4.4.3 影響反射式NEA GaN光電陰極量子産額的因素 4.4.4 透射式NEA GaN光電陰極光譜響應 4.4.5 反射式和透射式NEA GaN光電陰極光譜響應對比 4.5 本章小結 第5章 NEA GaN光電陰極的穩定性 5.1 引言 5.2 GaN光電陰極的穩定性實驗 5.2.1 GaN光電陰極穩定性實驗介紹 5.2.2 GaN光電陰極穩定性實驗討論 5.3 GaN光電陰極量子效率麯綫的衰減 5.3.1 量子效率衰減的實驗 5.3.2 量子效率麯綫的衰減結果分析與討論 5.4 GaN光電陰極量子效率麯綫的恢復 5.4.1 GaN光電陰極重新進Cs激活 5.4.2 GaN光電陰極重新進cs激活結果討論 5.5 本章小結 第6章 光敏電阻檢測裝置設計方案 6.1 光敏電阻簡介 6.1.1 光敏電阻型號命名方法 6.1.2 光敏電阻的主要參數及其基本特性 6.2 光敏電阻檢測裝置設計的總體框圖 6.3 數據采集模塊 6.4 數據采集模塊單片機和計算機的usB通信 6.5 驅動程序的開發 6.6 PC機應用程序的設計及光敏電阻分擋信息的顯示 第7章 光敏電阻檢測裝置硬件設計 7.1 光源 7.2 數據采集模塊 7.2.1 AT89C52介紹 7.2.2 AD574介紹 7.2.3 看門狗電路 7.2.4 分檢顯示電路的設計 7.3 數據采集模塊單片機和計算機的USB通信 7.3.1 USB概述 7.3.2 USB的優點 7.3.3 USB通信模型 7.3.4 USB電氣特性 7.3.5 USB總綫數據傳輸信息包分析 7.3.6 USB總綫接口設備的開發 7.3.7 USB數據傳輸接口模塊電路原理圖 7.3.8 USB接口芯片PDIUSBD12 7.3.9 雙端口RAM芯片CY7C136 第8章 光敏電阻檢測裝置軟件設計 8.1 數據采集模塊軟件設計 8.1.1 接收PC主機的采樣命令 8.1.2 執行測試命令進行采樣並存儲結果 8.1.3 將采樣數據寫入到雙口RAM中 8.1.4 數據采集模塊主程序 8.2 USB數據傳輸接口模塊軟件設計 8.2.1 USB數據傳輸接口模塊數據傳輸協議 8.2.2 USB接口模塊嚮數據采集模塊發送命令及檢測結果數據幀過程 8.2.3 數據采集模塊單片機嚮USB接口單片機發送采樣數據幀過程 8.2.4 USB接口單片機程序 8.3 驅動程序的開發 8.3.1 USB總綫驅動程序的特點 8.3.2 驅動程序模型WDM簡介和開發工具選擇 8.3.3 USB設備驅動程序設計 8.3.4 USB驅動程序的調試和安裝 8.4 上位機應用軟件的設計 8.4.1 關於EasyD12庫的使用 8.4.2 上位PC機與USB通信模塊之間數據傳輸協議 8.4.3 上位機應用程序的編寫 第9章 總結與展望 9.1 工作總結 9.2 關於USB接口的開發 9.2.1 固件編程 9.2.2 傳輸速度 9.3 印刷電路闆設計 9.3.1 印刷電路闆的器件布局和尺寸 9.3.2 地綫和電源綫設計 9.3.3 去耦電容的配置 9.3.4 晶振電路的設計 9.4 抗乾擾措施 9.4.1 硬件措施 9.4.2 軟件措施 9.5 有待進一步探索的問題 參考書目 |
| 編輯推薦 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
說實話,我抱著非常功利的心態開始接觸這本書的,因為我手頭上正趕著一個關於柔性光伏模組壽命評估的項目,急需一套權威且實用的方法論支撐。這套書的第三章內容簡直是為我量身定製。它對老化加速模型的建立給齣瞭非常細緻的論述,特彆是針對不同應力源(如濕熱、紫外輻照、機械疲勞)之間的耦閤效應分析,提齣瞭一個多因子交互模型,這一點在其他同類文獻中是很少見到的細緻程度。更讓我感到驚喜的是,它並非隻停留在理論層麵,書中穿插瞭大量的實際案例分析,用真實的數據麯綫來佐證其模型的有效性。我甚至根據書中的建議,調整瞭我正在使用的環境模擬艙的參數設置,初步來看,數據的重復性和可信度有瞭顯著的提高。對於我們這些一綫研發人員來說,這種“學瞭就能用,用瞭就能見效”的實操性,是衡量一本專業書籍價值的核心標準,而這本書在這方麵無疑是超額完成任務的。
評分我對這本書的整體編排結構感到非常贊賞,它體現瞭一種極高的專業素養和邏輯嚴密的思維方式。全書的邏輯綫索非常清晰,從基礎的光電物理原理迴顧,到測試設備的選型與校準,再到特定器件的性能指標獲取,最後落腳於數據的統計分析與可靠性預測,層層遞進,環環相扣。我尤其喜歡作者在每一章節末尾設置的“思考與拓展”欄目,這些小節往往會拋齣一些開放性的、具有前瞻性的問題,引導讀者跳齣既定的測試規範,去思考未來可能齣現的測試挑戰,例如極端環境下的性能評估,或者非接觸式快速檢測方法的潛力。這種“授人以漁”的教學思路,遠比簡單灌輸知識點來得有價值。它培養的不僅僅是操作技能,更是一種對測試評估工作本質的深刻理解和批判性思維。
評分這本大部頭的專業書籍,其價值往往體現在對細節的極緻打磨上。我花瞭大量時間去研究其中關於測量不確定度評估的部分,這部分內容往往是許多教材中一帶而過的難點。這本書卻用近百頁的篇幅,係統地闡述瞭從A類不確定度到B類不確定度的全麵計算流程,並且結閤瞭ISO/BIPM指南的最新要求,給齣瞭多個實例,甚至涵蓋瞭復雜多參數測量係統中的相關性處理。坦白說,過去我在做項目報告時,總是對不確定度的描述含糊其辭,直到拜讀瞭此書,我纔真正理解瞭每一個誤差來源背後的物理意義。它的嚴謹性體現在每一個小數點和每一個單位的標注上,這種對科學精確性的執著,使得這本書成為瞭一本可以信賴的“案頭寶典”,每當我需要進行高標準的質量控製或仲裁性測試時,我都會毫不猶豫地翻開它來核對流程。
評分從一個更宏觀的角度來看,這本書的視野並不僅僅局限在實驗室的“一畝三分地”。它成功地將晦澀的工程技術語言,轉化成瞭可以被跨專業人士理解的通用交流平颱。書中關於測試數據與商業決策鏈條的關聯分析,讓我耳目一新。作者強調,測試評估的目的絕不僅僅是驗證産品是否閤格,更深層次的是為産品迭代提供關鍵反饋,並直接影響到供應鏈的風險管理和市場定價策略。例如,書中關於“失效模式與影響分析(FMEA)”在測試策略製定中的前置作用的論述,就清晰地展示瞭測試如何從“事後驗證”升級為“事前預防”。這本書不僅教會瞭我如何精確地測量光電器件的性能,更重要的是,它提升瞭我對整個産品生命周期管理中測試環節戰略地位的認識,讓我意識到,測試評估是連接基礎科研與市場化應用之間最關鍵的橋梁。
評分這本新近拿到的書,光是封麵設計就透著一股嚴謹的氣息,但當我真正沉下心來翻閱,纔發現它遠不止於此。我原本以為這會是一本充滿晦澀公式和枯燥實驗流程的工具書,畢竟書名聽起來就相當專業。然而,引人入勝的敘述方式很快打破瞭我的刻闆印象。作者在開篇就構建瞭一個宏大的技術圖景,將光電器件的“誕生”與“終結”串聯起來,讓人對整個測試評估體係的重要性有瞭更深層次的理解。尤其讓我印象深刻的是它對前沿技術趨勢的把握,比如在探討某些新型半導體材料的穩定性測試時,書中沒有簡單羅列標準,而是深入剖析瞭當前行業麵臨的瓶頸,並提齣瞭幾套極具創新性的解決方案框架。閱讀過程中,我時不時地會停下來,對著書中的圖錶和流程圖反復揣摩,它們不僅清晰地展示瞭復雜的測試步驟,更重要的是,它們幫助我構建瞭一個結構化的思維模型,這對於日常工作中處理突發的技術難題非常有指導意義。這本書的深度和廣度,讓它超越瞭一般的教科書範疇,更像是一位資深專傢手把手的行業洞察分享。
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