书名:电子系统测试原理
:39.00元
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作者:(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲
出版社:机械工业出版社
出版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:
商品重量:0.459kg
随着电子技术的不断发展,电子系统测试面临越来越大的挑战:研究更的故障模型,在高层设计上检查易测试性,在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识,来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识,讲解设计验证的主要手段,有助于测试的设计检查;研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后,提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理,并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括:
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。
第I部分 设计与测试
章 测试综述
1.1 可靠性与测试
1.2 设计过程
1.3 验证
1.3.1 功能模拟
1.3.2 时间模拟
1.4 测试
1.5 故障及其检测
1.6 测试码生成
1.7 故障覆盖率
1.8 测试类型
1.8.1 穷举测试
1.8.2 伪穷举测试
1.8.3 伪随机测试
1.8.4 确定性测试
1.9 测试应用
1.9.1 在线测试与离线测试
1.9.2 自动测试仪器
1.9.3 片上测试与片外测试
1.10 易测试性设计
1.10.1 可控性
1.10.2 可观察性
1.11 测试经济
1.11.1 收益和缺陷级
1.11.2 故障覆盖率和缺陷级别
1.12 进一步研究
参考文献
习题
第2章 缺陷、失效和故障
2.1 简介
2.2 物理缺陷
2.2.1 材料过多和缺失
2.2.2 氧化物断裂
2.2.3 电迁移
2.3 故障模式
2.3.1 开路
2.3.2 短路
2.4 故障
2.5 固定型故障
2.5.1 单固定型故障
2.5.2 多固定故障
2.6 故障列表
2.6.1 等价关系
2.6.2 支配关系
2.6.3 故障精简
2.7 桥接故障
2.8 短路和开路故障
2.8.1 NMOS电路
2.8.2 CMOS电路
2.9 时延故障
2.10 暂时失效
2.10.1 瞬时故障
2.10.2 间歇故障
2.11 噪声失效
参考文献
习题
第3章 设计表示
第4章 VLSI设计流程
第II部分 测试流程
第5章 测试中模拟的角色
第6章 自动测试码生成
第7章 电流测试
第III部分 易测试性设计
第8章 专用技术
第9章 路径扫描设计
0章 边界扫描测试
1章 内建自测试
第IV部分 特殊结构
2章 存储器测试
3章 FPGA与微处理器的测试
第V部分 高级论题
4章 易测试性综合
5章 SOC测试
附录A 参考书目
附录B 缩写词表
Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。
这本《电子系统测试原理》读完后,我感觉自己对电子系统的工作原理和故障排查有了全新的认识。书里对各种测试方法,比如功能测试、性能测试、环境测试的讲解非常透彻,每一个概念都配有清晰的图示和实际案例,这对于我们这些刚入门的工程师来说,简直是福音。尤其是关于测试自动化和可测试性设计的章节,作者的思路非常新颖,把理论和实践完美地结合了起来。我特别欣赏作者在描述复杂概念时所采用的循序渐进的方式,让你在不知不觉中就掌握了核心要点。比如,在讲解BIST(内建自测试)时,作者没有直接抛出复杂的算法,而是先从系统层面的需求出发,逐步深入到具体的电路实现,这种讲解方式极大地降低了学习的门槛。看完这本书,我感觉自己不仅仅是学会了“怎么测”,更理解了“为什么这么测”,这才是真正的原理精髓所在。书中还涉及了最新的测试标准和行业规范,确保了我们学到的知识是最前沿、最实用的。
评分我向来对那些只谈理论而不顾工程实践的书持保留态度,但《电子系统测试原理》完全打破了我的固有印象。这本书的实用性强到令人称奇。作者对主流测试仪器(如示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪)的高级功能应用描述得极其到位,很多我以前只能靠反复试错才能掌握的操作技巧,在书中得到了系统性的归纳和总结。尤其对数字信号的定时偏差和抖动分析部分,作者给出了业内公认的权威处理流程,这对于处理高速数字接口问题至关重要。更贴心的是,书中还穿插了一些“陷阱”和“常见错误”的警示,这些经验之谈,往往能为读者节省大量的调试时间。总的来说,这本书就像一本武功秘籍,不仅展示了高超的招式(测试方法),更揭示了招式背后的内功心法(测试哲学),使人茅塞顿开,受益匪浅。
评分翻开这本书,首先映入眼帘的是作者深厚的学术功底和严谨的治学态度。这本书的结构安排非常合理,逻辑层次分明,从基础的信号完整性分析到复杂的系统级故障诊断,每一步都衔接得天衣无缝。我尤其喜欢作者在探讨测试覆盖率时所使用的数学模型和统计学分析,这些内容在很多同类书籍中往往一带而过,但在这里却被深入挖掘,让人对测试的“充分性”有了更深刻的理解。更值得称赞的是,作者并没有拘泥于传统理论,而是加入了大量的现代电子设计趋势,比如高频电路的测试挑战和SoC(系统级芯片)的测试策略,这使得这本书的价值远超一本基础教材。对于有一定经验的工程师来说,这本书可以作为一本绝佳的进阶参考书,帮助我们系统性地梳理和提升自己的专业知识体系。文字的组织非常流畅,读起来毫不费力,即便面对晦涩的理论,作者也能用精准而富有洞察力的语言将其阐述清楚。
评分作为一名长期从事硬件维护工作的技术人员,我一直苦于缺乏一本能够系统讲解“测试与可维护性”之间关系的权威读物。这本书恰好填补了我的知识空白。它不仅仅停留在告诉你如何使用测试设备,更关键的是,它教会了我们如何在设计初期就嵌入可测试性的考量,从而从源头上减少后期的维护成本和时间。书中关于故障模式、影响和关键性分析(FMECA)的应用实例,简直是教科书级别的范例。通过书中的案例分析,我学会了如何将抽象的可靠性指标转化为具体的测试指标。此外,作者对测试环境的搭建和测试夹具的设计也给出了不少实用的建议,这些都是课堂上学不到的“真知灼见”。这本书的深度和广度兼备,无论是对优化现有测试流程,还是对探索下一代产品的测试方案,都提供了坚实的理论支撑和前瞻性的视野。
评分这本书的阅读体验非常独特,它更像是一位经验丰富的导师在身边耳提面命,而不是一本冰冷的教科书。作者在描述各种测试技术时,总是能够巧妙地融入其背后的物理原理和工程妥协。比如,在讲解阻抗匹配对信号测试结果的影响时,书中详细剖析了电缆特性阻抗与信号源/负载阻抗失配时产生的反射波形,配图清晰到让人仿佛能亲眼看到信号在导线中“跳跃”的样子。这种从微观到宏观的分析角度,极大地增强了读者的直观感受。我特别欣赏作者在讨论测试成本控制时所展现出的务实精神,他清晰地指出,完美的测试是不存在的,关键在于如何在满足产品质量要求和控制测试投入之间找到最佳平衡点。这本书的章节之间关联紧密,形成了一个完整的知识闭环,读完后你会发现,对电子系统测试的理解已经从零散的经验总结,升华到一套完整的科学方法论。
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