微波器件测量手册:矢量网络分析仪高级测量技术指南

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[美] Joel P.Dunsmore 著,陈新 等 译
图书标签:
  • 微波测量
  • 矢量网络分析仪
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  • 射频测量
  • 测试技术
  • 仪器仪表
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  • 高频电路
  • 微波技术
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出版社: 电子工业出版社
ISBN:9787121139260
版次:1
商品编码:11427645
包装:平装
丛书名: 经典译丛·微波与射频技术
开本:16开
出版时间:2014-03-01
用纸:胶版纸
页数:512
正文语种:中文

具体描述

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内容简介

  《微波器件测量手册:矢量网络分析仪高级测量技术指南》是当今射频和微波器件测量领域的一本实用参考手册和工具书,讨论了最先进的射频微波器件测量技术及最佳的测量实践。本书前面的章节先引入一些基本概念,接着在后续章节深入探讨各种有源和无源器件的测量与应用案例,让读者能够全面了解微波器件测量的重要细节,向用户提供了一套全新的见解,指引用户通过实践了解被测器件的真实特性。它的实用性还在于向读者介绍了如何找到最优化的测量设置方法、如何把现代化矢量网络分析仪的强大功能应用到最大的极限,以及如何在测量结果中去除测量设备可能对被测器件特性的影响。

作者简介

  陈新,2003 年毕业于成都电子科技大学, 同年加入安捷伦科技担任计量软件工程师, 2006 年开始担任PNA 固件工程师, 是脉冲测量、增益压缩、差分测试等应用的主要开发者。与Joel 合作在IEEE ARFTG 年会上发表论文一篇。

目录

第1章 微波测量简介
1.1 一般的测量流程
1.2 实际的测量重点
1.3 微波参数的定义
1.3.1 初步认识S参数
1.3.2 网络的相位响应
1.4 功率参数
1.4.1 入射功率和反射功率
1.4.2 资用功率(available power)
1.4.3 负载功率
1.4.4 网络资用功率
1.4.5 资用增益
1.5 噪声系数和噪声参数
1.5.1 噪声温度
1.5.2 有效输入噪声温度(超噪温度)
1.5.3 超噪功率与工作温度
1.5.4 噪声功率密度
1.5.5 噪声参数
1.6 失真参数
1.6.1 谐波
1.6.2 二阶截断点
1.6.3 双音互调失真
1.7 微波元器件的特性
1.8 无源微波器件
1.8.1 电缆, 连接器和传输线
1.8.2 连接器
1.8.3 非同轴传输线
1.9 滤波器
1.10定向耦合器
1.11环形器和隔离器
1.12天线
1.13PCB组件
1.13.1 SMT电阻
1.13.2 SMT电容
1.13.3 SMT电感
1.13.4 PCB过孔
1.14 有源微波器件
1.14.1 线性和非线性
1.14.2 放大器: 系统放大器, 低噪声放大器和大功率放大器
1.14.3 混频器和变频器
1.14.4 N倍频器, 限幅器和分频器
1.14.5 振荡器
1.15 测量仪表
1.15.1 功率计
1.15.2 信号源
1.15.3 频谱分析仪
1.15.4 矢量信号分析仪
1.15.5 噪声系数分析仪
1.15.6 网络分析仪
参考文献
第2章 矢量网络分析仪测量系统
2.1 矢量网络分析仪测量系统简介
2.2 矢量网络分析仪的结构框图
2.2.1 矢量网络分析仪源
2.2.2 理解源匹配
2.2.3 矢量网络分析仪测试装置
2.2.4 定向器件
2.2.5 矢量网络分析仪接收机
2.2.6 IF和数据处理
2.2.7 多端口扩展
2.2.8 大功率测试系统
2.3 线性微波参数的矢量网络分析仪测量
2.3.1 S参数的线性测量方法
2.3.2 使用矢量网络分析仪进行功率测量
2.3.3 矢量网络分析仪的其他测量限制
2.3.4 由外部元件引起的测量局限
2.4 由S参数引申出的测量
2.4.1 史密斯圆图
2.4.2 将S参数变换成其他阻抗
2.4.3 级联电路和T参数
2.5 使用Y变换和Z变换的模型化电路
2.5.1 反射变换
2.5.2 传输变换
2.6 其他线性参数
2.6.1 Z参数或开环电路阻抗参数
2.6.2 Y参数或短路导纳参数
2.6.3 ABCD参数
2.6.4 H参数或混合参数
2.6.5 复数变换和非等值参考阻抗
参考文献
第3章 校准和矢量误差修正
3.1 引言
3.2 S参数的基本误差修正: 校准应用
3.2.1 12项误差模型
3.2.2 单端口误差模型
3.2.3 8项误差模型
3.3 确定误差项: 12项模型的校准采集
3.3.1 单端口误差项
3.3.2 单端口标准件
3.3.3 二端口误差项
3.3.4 12项误差模型转换成11项模型
3.4 确定误差项: 8项模型的校准采集
3.4.1 TRL标准和原始测量结果
3.4.2 TRL校准的特殊情况
3.4.3 未知通路或SOLR(互逆通路校准)
3.4.4 未知通路校准的应用
3.4.5 QSOLT校准
3.4.6 电子校准或自动校准
3.5 波导校准
3.6 源功率校准
3.6.1 为源频率响应进行源功率校准
3.6.2 功率计失配校准
3.6.3 源功率线性度校准
3.7 接收机功率校准
3.7.1 一些历史回顾
3.7.2 现代接收机功率校准
3.7.3 传输测试接收机的响应校正
3.8 退化的校准
3.8.1 响应校准
3.8.2 增强型响应校准
3.9 确定残余误差
3.9.1 反射误差
3.9.2 使用空气线确定残余误差
3.10计算测量不确定度
3.10.1 反射测量的不确定度
3.10.2 源功率的不确定度
3.10.3 测量功率的不确定度(接收机不确定度)
3.11S21或传输不确定度
3.12相位误差
3.13实际校准的限制
3.13.1 电缆弯曲
3.13.2 在校准后改变功率
3.13.3 补偿步进衰减器的变化
3.13.4 连接器的一致性
3.13.5 噪声效应
3.13.6 短期和长期漂移
3.13.7 误差项的内插
3.13.8 校准质量: 电子校准和机械校准件
参考文献
第4章 时域变换
4.1 引言
4.2 傅里叶变换
4.2.1 连续傅里叶变换
4.2.2 奇偶函数与傅里叶变换
4.2.3 调制(频移)定理
4.3 离散傅里叶变换
4.3.1 快速傅里叶变换和快速傅里叶逆变换
4.3.2 离散傅里叶变换
4.4 傅里叶变换(解析形式)与矢量网络分析仪的时域变换
4.4.1 定义傅里叶变换
4.4.2 离散采样的影响
4.4.3 频率截断的影响
4.4.4 减小截断效应的方法――加窗
4.4.5 尺度变换和重归一化
4.5 低通和带通变换
4.5.1 低通冲激模式
4.5.2 直流外插
4.5.3 低通阶跃模式
4.5.4 带通模式
4.6 时域选通
4.6.1 选通损耗和重归一化
4.7 不同网络的时域变换示例
4.7.1 传输线阻抗变化的时域变换
4.7.2 离散不连续性的时域响应
4.7.3 不同电路的时域响应
4.8 掩蔽和选通对测量准确性的影响
4.8.1 对传输线阻抗变化的补偿
4.8.2 离散不连续性的补偿
4.8.3 时域选通
4.8.4 估计掩蔽响应造成的不确定性
4.9 小结
参考文献
第5章 线性无源器件的测量
5.1 传输线、 电缆和接头
5.1.1 带接头的低损耗器件的校准
5.1.2 测量长电长度器件
5.1.3 衰减测量
5.1.4 回波损耗测量
5.1.5 电缆长度和时延
5.2 滤波器和滤波器测量
5.2.1 滤波器分类和困难
5.2.2 双工器 (Duplexer) 与同向双工器 (Diplexer)
5.2.3 测量可调谐高性能滤波器
5.2.4 测量传输响应
5.2.5 高速与动态范围
5.2.6 极大动态范围测量
5.2.7 校准注意事项
5.3 多端口器件
5.3.1 差分电缆和传输线
5.3.2 耦合器
5.3.3 电桥(Hybrid)、 功分器和分频器
5.3.4 环形器和隔离器
5.4 谐振腔
5.4.1 谐振腔响应的史密斯图
5.5 天线测量
5.6 小结
参考文献
第6章 放大器测量
6.1 放大器的线性特性
6.1.1 放大器的预测试
6.1.2 优化矢量网络分析仪的校准设置
6.1.3 放大器测量的校准
6.1.4 放大器测量
6.1.5 对放大器的测量进行分析
6.1.6 保存放大器测量结果
6.2 增益压缩测量
6.2.1 压缩的定义
6.2.2 调幅调相或相位压缩
6.2.3 全频段增益和相位压缩
6.2.4 增益压缩解决方案, 智能扫描和安全模式
6.3 测量高增益放大器
6.3.1 高增益放大器设置
6.3.2 校准注意事项
6.4 测量大功率放大器
6.4.1 产生大驱动功率的配置
6.4.2 接收大功率的配置
6.4.3 功率校准以及预/后稳幅
6.5 脉冲调制下的射频测量
6.5.1 脉冲测量的背景
6.5.2 脉冲包络测试
6.5.3 脉冲到脉冲测量
6.5.4 对脉冲射频激励的直流测量
6.6 失真测试
6.6.1 放大器的谐波测量
6.6.2 双音测量, IMD和TOI的定义
6.6.3 双音三阶交调失真的测量技术
6.6.4 扫描模式下的IMD测量
6.6.5 优化测量结果
6.6.6 误差修正
6.7 噪声系数测量
6.7.1 噪声系数的定义
6.7.2 噪声功率测量
6.7.3 通过噪声功率计算噪声系数
6.7.4 用Y因子法计算DUT的噪声系数
6.7.5 冷源法
6.7.6 噪声参数
6.7.7 噪声系数测量的误差校准
6.7.8 噪声系数测量的不确定性
6.7.9 噪声系数测量结果的验证
6.7.10提高噪声测量精度的方法
6.8 X参数, 负载牵引测量和有源负载
6.8.1 非线性响应和X参数
6.8.2 负载牵引、 源牵引和负载等值线
6.9 放大器测量小结
参考文献
第7章 混频器与变频器测量
7.1 混频器特性
7.1.1 混频转换器的小信号模型
7.1.2 混频器的互易性
7.1.3 标量与矢量响应
7.2 混频器与变频器
7.2.1 变频器设计
7.2.2 多级转换和消除杂散
7.3 将混频器看成十二端口器件
7.3.1 混频器转换项
7.4 混频器测量: 频率响应
7.4.1 简介
7.4.2 幅度响应
7.4.3 相位响应
7.4.4 群时延与调制法
7.4.5 扫描LO测量
7.5 混频器测量的校准
7.5.1 功率校准
7.5.2 相位校准
7.5.3 确定互易混频器的相位和时延
7.6 驱动功率对混频器测量的影响
7.6.1 LO驱动对混频器测量的影响
7.6.2 RF驱动电平对混频器测量的影响
7.7 混频器的TOI
7.7.1 IMD与LO驱动功率的关系
7.7.2 IMD与射频功率的关系
7.7.3 IMD频率响应
7.8 混频器和变频器的噪声系数
7.8.1 Y因子法测量混频器的噪声系数
7.8.2 冷源法测量混频器的噪声系数
7.9 特殊混频器测量
7.9.1 射频或LO倍频的混频器
7.9.2 分段扫描
7.9.3 测量高阶分量
7.9.4 嵌入式本振的混频器测量
7.9.5 高增益和大功率变频器
7.10混频器测量小结
参考文献
第8章 矢量网络分析仪平衡测量
8.1 四端口差分与平衡S参数
8.2 三端口平衡器件
8.3 混合模器件测量示例
8.3.1 无源差分器件: 平衡传输线
8.3.2 差分放大器测量
8.3.3 差分放大器和非线性操作
8.4 用于非线性测试的真实模式矢量网络分析仪
8.4.1 真实模式测量
8.4.2 确定差分器件的相位偏斜
8.5 使用巴伦, 混合转换器和变换器进行差分测试
8.5.1 转换器与混合转换器
8.5.2 在二端口矢量网络分析仪上使用混合转换器和巴伦
8.6 差分器件的失真测量
8.6.1 比较单端与真实模式IMD的测量
8.7 差分器件的噪声系数测量
8.7.1 混合模噪声系数
8.7.2 测量设置
8.8 差分器件测量小结
参考文献
第9章 高级测量技术
9.1 创建自己的校准件
9.1.1 PCB实例
9.1.2 评估PCB夹具
9.2 夹具和去嵌入
9.2.1 去嵌入的数学推导
9.3 确定夹具的S参数
9.3.1 用单端口校准获取夹具的特性
9.4 自动端口延伸
9.5 AFR: 用时域方法进行夹具移除
9.5.1 AFR测量实例
9.6 嵌入端口匹配元件
9.7 阻抗变换
9.8 对高损器件做去嵌入
9.9 理解系统稳定性
9.9.1 确定电缆传输的稳定性
9.9.2 确定电缆失配的稳定性
9.9.3 反射跟踪的稳定性
9.10对高级校准和测量技术的一些注解
参考文献
附录A 物理常数
附录B 常见的射频和微波连接器
附录C 常见的波导
附录D 校准套件开路和短路的一些定义
缩略语
索引


前言/序言


微波测量艺术:深入理解矢量网络分析仪在现代无线技术中的关键作用 在日新月异的无线通信、雷达系统、射频集成电路设计以及先进的科学研究领域,精准、可靠的微波器件测量是衡量技术水平、保障产品性能、推动技术创新的基石。从最初简单的通信设备到如今高度集成的复杂系统,微波器件的性能直接决定了整个系统的效率、带宽、噪声系数、线性度以及稳定性。面对日益严苛的性能指标要求,对微波器件进行精细化、高精度化的测量已成为一项不可或缺的核心任务。而矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer, VNA)凭借其强大的S参数(散射参数)测量能力,已然成为微波器件测量领域无可争议的“瑞士军刀”,为工程师和研究人员提供了洞悉器件内在特性、优化设计、解决问题的关键工具。 本书并非简单罗列VNA的各种操作指令,也并非止步于基础的S参数定义与测量。相反,它是一本致力于 深入剖析VNA高级测量技术在实际微波器件应用场景下的精髓与实践 的指南。我们旨在带领读者超越VNA菜单层面的操作,真正 理解其背后复杂的测量原理、校准机制以及如何针对不同类型的微波器件,设计并实施最具代表性、最能体现器件关键性能指标的测量策略。 本书的每一章节都力求从 “为什么” 和 “怎么做” 两个维度展开,确保读者不仅能掌握操作技巧,更能建立起深刻的理论认知和灵活的应用思维。我们将深入探讨VNA的 动态范围、频率覆盖、端口数、阻抗匹配 等核心性能参数,并详细阐述这些参数如何直接影响测量结果的准确性和可靠性。 在基础回顾方面,我们将快速但清晰地重温S参数的基本定义、物理意义及其在微波电路分析中的重要性。但不会冗余地重复教科书中已有的内容,而是将重点放在 S参数与器件实际性能指标(如增益、回波损耗、隔离度、插入损耗、相位特性等)之间的直接关联,以及它们如何被VNA直观地呈现出来。 在核心测量技术方面,本书将是您踏入VNA高级测量领域的关键入口。我们将 系统性地介绍不同类型的VNA校准(Calibration)方法,从最基础的SOLT(Short, Open, Load, Through)到更为先进的TRL(Through, Reflect, Line)、SOLR(Short, Open, Load, Reciprocal)以及多端口校准技术。我们会深入分析每种校准方法的 适用范围、优缺点、以及在特定测量场景下如何选择最适合的校准方案,以最大限度地提高测量的精度和稳定性。例如,在测量低损耗传输线或高Q值谐振器时,TRL校准的重要性将得到重点阐述;而在处理非互易器件时,如何正确应用特定的校准步骤也将在书中得到细致的讲解。 针对不同类型微波器件的测量实践,将是本书的重中之重。 我们将逐一攻克以下各类器件的测量难点: 射频/微波放大器: 除了基本的增益、回波损耗测量,我们将深入探讨 大信号测量技术,例如如何准确测量放大器的 P1dB(1dB压缩点)、IP3(三阶交调失真),以及如何通过 谐波测量 来评估放大器的非线性特性。我们还将介绍 瞬态响应测量,这对于理解放大器在快速信号下的表现至关重要。 射频/微波滤波器: 除了通带/阻带的插入损耗和回波损耗,我们将聚焦于 滤波器的动态范围测量,如何精确测量 带外抑制;群延迟(Group Delay)测量 对于理解信号的传输延迟和失真至关重要,本书将详细阐述其测量方法和意义;插入损耗随温度变化 的测量也将是分析滤波器稳定性的重要环节。 射频/微波开关与衰减器: 我们将详细讲解 开关的插入损耗、隔离度、以及切换时间 的测量。对于衰减器,除了静态衰减值,动态衰减测量 和 频率响应的一致性 是关键。 连接器、电缆与传输线: 重点将放在 传输线特性的精确测量,包括 特性阻抗、传播常数、损耗因子 的提取。我们将探讨如何通过VNA的 时域反射(TDR)功能 来定位和量化传输线中的阻抗不连续点,这对PCB板上信号完整性分析尤为关键。 谐振器(Resonators): 测量 Q值(品质因数) 是谐振器设计的核心。本书将介绍 不同方法计算Q值,包括插入法、半功率法等,并深入分析 如何通过VNA测量精确提取谐振频率、带宽和损耗,以评估谐振器的性能。 混频器与倍频器: 对于这些非线性器件,我们将重点介绍 变频损耗、镜像抑制、杂散信号抑制 的测量方法。如何搭建有效的测试平台,并利用VNA完成这些复杂测量将是讲解的重点。 无源器件(耦合器、功率分配器/合路器): 除了基本的端口特性,我们将关注 功率分配/合路比的准确性、隔离度随频率的变化,以及 相位平衡 的测量。 除了对单个器件的测量,本书还将拓展至系统层面的测量技术: 时域测量(Time Domain Analysis): 深入讲解VNA如何通过 傅里叶变换 将频域S参数转换为时域波形,并阐述 TDR(时域反射) 和 TDT(时域透射) 在信号完整性、阻抗匹配、故障诊断中的强大应用。 噪声系数(Noise Figure)测量: 虽然通常需要额外的噪声源和测量设备,但我们将重点讲解 如何将VNA与噪声系数分析仪(NFA)协同工作,以进行高精度的噪声系数测量,并分析影响测量精度的关键因素。 非互易器件(Non-Reciprocal Devices)测量: 例如隔离器(Isolator)和环行器(Circulator),这些器件的S参数矩阵不是对称的。本书将详细介绍 如何使用VNA测量这些器件特有的S参数(如S21与S12的不同),并探讨相关的校准策略。 动态范围扩展技术: 针对需要测量极低损耗或极高隔离度器件的场景,本书将探讨 如何利用VNA的内部噪声、扫频策略以及外部增益/衰减器件 来扩展测量动态范围,从而获取更精确的数据。 自动测试系统(ATS)集成: 简要介绍 如何将VNA集成到自动测试系统中,实现批量化、高效率的器件测试,并提及常用的 编程接口(如SCPI)。 在数据分析与结果解读方面,本书强调的不是简单的“读数”,而是 “理解”。我们将指导读者如何从VNA的屏幕输出中提取有价值的信息,如何 识别测量中的误差来源(例如,校准误差、电缆损耗、噪声影响等),以及如何 运用这些信息来优化器件设计、诊断故障、以及评估产品性能是否满足规格要求。我们将提供 实际的测量案例分析,从数据收集到最终结论,展示一个完整的测量过程。 本书面向的读者群体广泛,包括但不限于: 射频/微波工程师: 在设计、验证和生产中需要进行微波器件测量的工程师。 通信系统设计师: 关心关键射频组件性能的系统级设计师。 半导体工程师: 关注集成电路中RF/Microwave模块性能验证的工程师。 雷达与电子战专家: 需要精确测量各种微波组件以确保系统性能的研究人员和工程师。 高校学生与科研人员: 在学习和研究过程中需要深入理解和应用VNA技术的学生和学者。 技术爱好者: 对微波技术和精密测量有浓厚兴趣的专业人士。 “微波器件测量手册:矢量网络分析仪高级测量技术指南” 并非一本枯燥的技术手册,它更像是一位经验丰富的导师,带您 循序渐进地掌握VNA的精髓,培养您成为一位真正的微波测量专家。我们相信,通过深入学习本书内容,您将能够更加自信地应对复杂的微波器件测量挑战,从而在您的职业生涯和技术研究中取得更大的成就。

用户评价

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这本书简直就是我的救星!我是一名刚入行不久的射频工程师,在学习使用矢量网络分析仪(VNA)的过程中,常常被各种复杂的测量模式和参数搞得头昏脑胀。特别是当需要进行一些高级的S参数测量、阻抗匹配分析,甚至是深入的噪声系数测量时,我总觉得现有的资料要么太浅显,要么就是充斥着让人望而生畏的公式。这本书的出现,就像是为我指明了一盏明灯。它没有像很多教科书那样,上来就堆砌一堆理论,而是非常注重实操性。从VNA的基本原理到不同类型器件(如滤波器、放大器、传输线)的测量方法,这本书都循序渐进地进行了详细的讲解。更让我惊喜的是,它还深入探讨了一些非常实用的技巧,比如如何优化测量设置以提高精度,如何处理测量中的非线性效应,以及如何解读那些隐藏在VNA屏幕上的复杂数据。我尤其喜欢书中关于不同校准技术的章节,它不仅解释了每种校准方法的原理,还给出了具体的应用场景和注意事项,这让我能够根据实际测量需求,选择最合适的校准方案,大大提升了测量结果的可信度。

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这本书简直是我在射频测量领域探索道路上的“秘密武器”!作为一名对精密测量有极致追求的硬件研发人员,我始终认为,深入理解测量工具的工作原理,并掌握其高级应用技巧,是突破性能瓶颈的关键。而这本书,恰恰满足了我在这方面的所有期待。它不仅仅是罗列VNA的各种功能,而是真正从“为什么”和“怎么做”的角度,层层剖析。我特别欣赏书中关于误差分析和补偿的章节,它让我意识到,即使是看似精确的测量,也可能隐藏着不易察觉的误差源,而这本书提供了系统的方法来识别、量化和减小这些误差。比如,它详细讲解了如何通过选择合适的端口线缆、考虑环境温度变化、以及应用适当的校准件和模型来优化测量精度。对于一些棘手的测量场景,例如宽带高Q值器件的测量,书中也给出了非常独到的解决方案,通过参数设置的微调和后处理的辅助,能够获得更贴近真实工作状态的数据。读完这本书,我感觉自己对VNA的理解已经上升到了一个新的高度,不再仅仅是把它当作一个“测量仪器”,而是将其视为一个能够揭示器件内在特性的“探测器”。

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我是一位长期从事微波器件设计和开发的资深工程师,对VNA的使用已经相当熟悉。然而,即便是经验丰富的我,在阅读这本书的过程中,依然获益匪浅。这本书的独特之处在于,它并没有停留在“如何操作”的层面,而是深入探讨了“为什么这样操作”以及“如何做得更好”。例如,在介绍高频S参数测量时,它详细讲解了由于趋肤效应、介质损耗等因素导致的高频特性变化,并给出了在VNA中如何精确捕捉这些变化的校准和补偿方法。我尤其对书中关于“建模与仿真”的章节印象深刻,它详细阐述了如何将VNA测量数据与仿真模型进行联动,以优化器件的设计和性能。这对于我来说,是提高工作效率和创新能力的绝佳途径。而且,这本书的语言风格严谨而不失条理,逻辑清晰,对于一些复杂的概念,能够用清晰易懂的方式进行解释。它就像一位经验丰富的老友,在你遇到难题时,给予你最恰当的建议和指导,让你能够不断突破技术瓶颈,在微波器件测量的道路上走得更远。

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说实话,我最初拿到这本书时,并没有抱有太大的期望,毕竟关于VNA的书籍市面上已经不少了。然而,当我翻开它之后,就被深深地吸引住了。这本书最让我印象深刻的是,它在讲解高级测量技术时,并没有忽略基础知识的重要性。它巧妙地将抽象的电磁理论与具体的VNA操作结合起来,使得原本枯燥的理论变得生动易懂。我尤其喜欢书中关于“测量不确定度”的讨论,它让我明白,每一次测量背后都存在一个不确定度范围,而如何将这个范围控制在可接受的范围内,是衡量测量工程师专业水平的重要标志。书中提供了多种方法来评估和管理测量不确定度,这对于我从事的科研项目来说,至关重要。而且,它在介绍各种高级测量应用时,都配有大量的图例和实际案例,这大大降低了理解门槛,也让我在实际操作中能够触类旁通。总而言之,这本书是一本集理论深度、实践指导和案例分析于一体的优秀著作,对于任何想要精通VNA测量的人来说,都是不可多得的宝藏。

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这本书为我打开了VNA测量新世界的大门!作为一名在学术研究领域工作的工程师,我经常需要面对一些非常规的、对测量精度要求极高的课题。过去,我总是在文献中零散地学习一些VNA的高级应用技巧,但总感觉不成体系,很多细节上的处理也含糊不清。这本书则系统地梳理了VNA的高级测量技术,从S参数到更复杂的网络参数,从基础的传输/反射测量到瞬态响应和失真分析,几乎涵盖了我可能遇到的所有挑战。让我尤其赞赏的是,书中对一些非常细微但至关重要的测量细节进行了深入的探讨,比如端口阻抗的精确定义、时域分析中的窗函数选择、以及如何处理器件的非线性行为对测量的影响。这些信息在很多其他资料中都很难找到,但对于获得可靠的研究数据来说,却是不可或缺的。这本书不仅仅是一本操作手册,更是一本“思想指南”,它引导我思考如何更深入地理解测量结果,如何通过精妙的设置来规避潜在的问题,从而为我的科研工作提供了坚实的理论和技术支撑。

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安捷伦编写的矢量网络分析仪使用指南

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挺不错的商品,非常好,而且自营快递很快,客服也很耐心解答我的问题,这次购物非常好

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书是正版看着质量很好。经常买书希望能有时间和功夫好好学习。

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很好很好很好很好很好很好很好很好很好很好很好很好很好

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作为工具书使用,对工作有些帮助.

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基础太差,看的吃力。

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经典微波测量书籍,经常看看很有帮助

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