材料组织结构的表征(第2版)/材料科学与工程学科系列教材

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戎咏华,姜传海 著
图书标签:
  • 材料科学
  • 材料工程
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  • 材料表征
  • 结构分析
  • 显微镜
  • X射线衍射
  • 电子显微镜
  • 第二版
  • 教材
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出版社: 上海交通大学出版社
ISBN:9787313176059
版次:2
商品编码:12247166
包装:平装
丛书名: 材料科学与工程学科系列教材
开本:16开
出版时间:2017-08-01
用纸:胶版纸
页数:390
正文语种:中文

具体描述

内容简介

  《材料组织结构的表征(第2版)/材料科学与工程学科系列教材》分为四篇,共24章,第1篇为《金相显微术》,第2篇为《x射线衍射分析》,第3篇为《电子显微分析》,第4篇为《x射线光电子能谱和激光拉曼光谱》,共涉及9种现代分析仪器:金相显微镜、x射线衍射仪、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、电子探针、扫描隧道显微镜、原子力显微镜、x射线光电子能谱仪和激光拉曼光谱仪。这些仪器成为材料的微观组织结构、成分、原子价键和分子结构分析的有力工具,体现了分析技术的新发展。
  《材料组织结构的表征(第2版)/材料科学与工程学科系列教材》着重介绍各种仪器的分析原理、仪器的结构和功能及其应用,力求理论与原理的阐述深入浅出,结合实例,使理论知识融会贯通。
  《材料组织结构的表征(第2版)/材料科学与工程学科系列教材》可作为本科生和研究生的教材,也可作为从事相关工作的教师和研究人员的参考书。

目录

绪论
第1篇 金相显微术
第1章 金相显微镜的光学基础与构造
1.1 光学基础
1.1.1 反射和折射定律
1.1.2 光的性质和可视性
1.1.3 偏振光
1.1.4 光的衍射和干涉
1.1.5 几何光学
1.2 透镜的光学缺陷和设计
1.2.1 透镜光学缺陷
1.2.2 透镜的设计和特性
1.3 照明方式
1.3.1 科勒照明
1.3.2 明场照明
1.3.3 暗场照明
1.3.4 新型无限远光学系统
1.4 性能参数
1.4.1 衍射与分辨率
1.4.2 有效放大倍率
1.4.3 景深
1.4.4 工作距离和视域范围
1.5 图像记录和处理及分析
1.5.1 显微照相
1.5.2 视频显微术
1.5.3 数字CCD显微术
1.5.4 图像处理与定量分析
1.6 金相显微镜的操作
1.6.1 光源的调整
1.6.2 光阑的调整
第2章 金相试样的制备
2.1 金相试样的制备步骤
2.1.1 取样和镶嵌
2.1.2 研磨与抛光
2.1.3 浸蚀
2.1.4 现代金相样品制备技术概述
2.2 常用浸蚀剂显示金相组织举例
2.2.1 硝酸酒精浸蚀剂
2.2.2 苦味酸浸蚀剂
2.2.3 LB染色浸蚀荆
2.2.4 Klemm浸蚀剂
2.2.5 Beraha浸蚀剂
2.2.6 Lepera浸蚀剂
第3章 相位衬度显微镜
3.1 相位衬度显微术原理
3.2 相衬显微镜的光学设计
3.3 金相显微镜和生物显微镜光学布置的差异
第4章 偏振光显微镜
4.1 偏振光的反射特征
4.2 反射式偏振光显微镜的光学布置和使用
4.3 应用举例
4.3.1 各向异性组织的显示
4.3.2 非金属夹杂物的鉴别
4.3.3 复合夹杂物的定性鉴别
第5章 微分干涉衬度显微镜
5.1 DIC光学系统
5.2 DIC图像的形成
5.3 DIC图像与其他成像方式图像的比较
第6章 共聚焦激光扫描显微镜
6.1 共聚焦成像的光学原理
6.2 影响共聚焦图像质量因素
6.3 共聚焦显微镜的功能和应用

第2篇 X射线衍射分析
第7章 X射线物理学基础
7.1 X射线衍射分析发展简史
7.2 X射线本质及其波谱
……
第8章 X射线衍射方向
第9章 X射线衍射强度
第10章 X射线衍射方法
第11章 多晶物相分析
第12章 晶体结构与点阵参数分析
第13章 应力测量与分析
第14章 衍射谱线形分析
第15章 多晶织构测量和单晶定向

第3篇 电子显微分析
第16章 透射电子显微镜的原理和构造
第17章 透射电子显微镜的样品制备
第18章 电子衍射和衍衬成像
第19章 分析电子显微镜
第20章 扫描电子显微镜
第21章 电子探针X射线显微分析仪
第22章 扫描探针显微镜

第4篇 X射线光电子能谱和激光拉曼光谱
第23章 X射线光电子能谱
第24章 激光拉曼光谱
思考题与练习题
参考文献
材料组织结构表征:洞察材料微观世界的窗口 材料的性能,从坚固的钢材到柔韧的聚合物,再到神奇的半导体,无不根植于其精密的组织结构。理解并精确表征这些微观世界的奥秘,是材料科学与工程领域的核心任务。本书,作为“材料科学与工程学科系列教材”中的重要一环,将带领读者踏上一段深入探索材料组织结构表征方法的旅程。 本书并非仅仅罗列各种表征技术,而是致力于构建一个系统、深入的知识体系,帮助读者理解每种技术背后的物理原理、操作流程、适用范围以及如何解读其产生的丰富信息。我们将从宏观到微观,层层剖析材料的构成,从晶体结构、晶界、位错等微观缺陷,到第二相粒子、第二相界面,再到显微组织形貌、织构等等,为理解材料的宏观性能提供坚实的基础。 第一篇:表征的基石——从原子到晶体 我们将首先回顾晶体学的基本概念,包括点阵、晶带、晶面指数等,为后续理解晶体结构打下基础。随后,我们将重点介绍X射线衍射(XRD)这一最经典的表征技术。读者将学习到XRD的基本原理,如何通过衍射峰的位置和强度来确定晶体结构、晶格常数,以及如何利用 Rietveld 精修等方法分析复杂的物相组成和晶体结构参数。此外,衍射法的应用还将延伸到残余应力、织构等宏观性能相关的微观结构信息。 第二篇:透视微观世界——显微成像技术的奥秘 要直接观察材料的微观形貌和结构,显微成像技术是不可或缺的工具。本书将详细阐述光学显微镜的原理和应用,从样品制备(如抛光、 etching)到图像的采集与分析,帮助读者掌握观察材料表面微观结构的技巧。 紧接着,我们将深入探讨扫描电子显微镜(SEM)。读者将了解电子束与样品相互作用产生的各种信号(如二次电子、背散射电子),以及如何利用这些信号获取高分辨率的形貌图像,甚至进行元素成分分析(EDS/WDS)。 更进一步,本书将全面介绍透射电子显微镜(TEM)。TEM以其更高的分辨率,能够直接观察原子尺度上的结构特征,如晶格像、位错、沉淀物等。我们将详细讲解TEM的成像原理,包括明场像、暗场像、晶格像以及衍射花样分析,并介绍各种先进的TEM技术,如高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)。 第三篇:揭示元素分布与化学状态——光谱分析与表面科学 材料的宏观性能往往与其中元素的种类、含量以及化学状态密切相关。本书将系统介绍多种光谱分析技术。 例如,X射线光电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)是研究材料表面元素组成和化学态的强大工具。读者将理解电子的能量与元素的种类、化学环境之间的关系,并学会如何利用这些谱图来分析材料的表面成分、氧化态以及化学键合信息。 同时,能量色散X射线光谱(EDS)和波长色散X射线光谱(WDS)作为SEM和TEM的附件,将得到更详尽的介绍,它们能够提供样品的元素定性和定量分析,对理解材料的成分均匀性、相分布至关重要。 此外,本书还将触及一些其他重要的表征技术,例如扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM),它们能够实现纳米甚至原子尺度的表面形貌成像和测量,并能对表面形貌进行操作。 第四篇:非破坏性评估与特殊结构表征 除了上述主流技术,本书还将介绍一些具有独特应用价值的表征方法。例如,中子衍射,因其独特的相互作用机制,能够穿透更深的样品,并对轻元素(如氢)敏感,在磁性材料和氢存储材料的研究中尤为重要。 声发射技术,作为一种非破坏性的监测手段,能够实时检测材料在加载过程中的微裂纹萌生和扩展,为材料的可靠性评估提供重要信息。 针对不同材料体系,本书还将探讨如聚焦离子束(FIB)在样品制备和原位观察中的应用,以及同步辐射光源在提高衍射和光谱分析灵敏度和分辨率方面的巨大潜力。 第五篇:数据处理、整合与应用 掌握了各种表征技术,仅仅是第一步。本书的最后部分将强调如何有效地处理、分析和整合来自不同技术获得的表征数据。我们将讨论数据可视化、定量分析以及如何将微观结构信息与材料的宏观性能联系起来,从而指导材料的设计、开发和应用。 本书的目标是让读者不仅能够熟练运用各种材料组织结构表征技术,更能深刻理解这些技术背后的原理,并能够根据具体的材料问题,选择最合适的表征手段,准确解读数据,最终为材料科学与工程的研究和实践提供有力的支撑。无论您是初学者还是希望深化理解的专业人士,本书都将是您探索材料微观世界的得力助手。

用户评价

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这本书的书名我早就有所耳闻,但迟迟没有下定决心入手。最近终于下定决心,买了一本。拿到手的时候,我先粗略地翻了一下目录,感觉内容还是很扎实的,从基础的晶体学到各种形貌的表征方法,覆盖面很广。我对其中关于X射线衍射(XRD)的章节尤其感兴趣,因为在我的研究领域,XRD是非常重要的手段,但有时候对它的解读总觉得不够深入,希望能通过这本书找到一些更系统、更深入的理解。书的装帧也很精美,纸张质量也很好,拿在手里很有分量感,这让我对这本书的内容质量充满了期待。我希望它能带我突破目前在XRD分析方面遇到的一些瓶颈,并且能学到更多关于样品制备、数据采集和解析的细节,让我的实验结果更加可靠,论文的论证也更加有力。我了解到第二版在内容上有所更新,这让我更加确信它能反映当前材料表征领域的最新进展,我期待着它能提供一些我之前未曾接触过的新方法或新思路,为我的科研工作注入新的活力。我特别希望书中能包含一些具体的案例分析,能够将理论知识与实际应用紧密结合起来,这样我就能更好地理解抽象的概念,并将其应用到我自己的研究中。

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一直以来,我都很希望能够系统地学习材料的组织结构表征技术,因为我知道这是理解材料性能的关键。当看到《材料组织结构的表征(第2版)》这本书时,我毫不犹豫地就入手了。这本书的理论深度和广度都让我印象深刻。它不仅仅是罗列各种表征方法,而是深入地阐述了每种方法的物理原理、技术细节以及适用范围。我尤其欣赏书中关于透射电子显微镜(TEM)的章节,它详细地讲解了TEM的成像机制,包括明场像、暗场像、衍衬像等等,以及如何通过电子衍射花样来分析晶体结构和取向。我之前对TEM的理解主要停留在“放大倍数很高”这个层面,但这本书让我明白,TEM的功能远不止于此,它能够提供关于材料晶体学和缺陷的信息,是研究纳米材料和微观结构的利器。书中还提到了高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)的成像原理和应用,这让我对接下来的学习有了更明确的方向。我期待这本书能够帮助我掌握TEM的基本操作和数据分析方法,为我后续的研究项目提供有力的技术支持,尤其是在处理那些非常精细的纳米结构时。

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在材料科学领域,对材料组织结构的准确表征是解决一切问题的基础,而《材料组织结构的表征(第2版)》这本书恰恰满足了这一需求。书中的内容涵盖了当前最主流和最前沿的表征技术,而且讲解得非常深入。我尤其关注的是关于差示扫描量热法(DSC)和热重分析(TGA)的章节。这些热分析技术在研究材料的热稳定性、相变、分解行为等方面非常有用,而我在这方面的知识还比较薄弱。书中详细地讲解了DSC和TGA的原理、影响因素、数据解读以及在不同材料体系中的应用案例。我尤其欣赏书中通过具体的实验数据和图谱分析,来解释如何判断材料的玻璃化转变温度、熔点、结晶温度以及分解温度等关键参数。我希望通过这本书的学习,能够熟练掌握DSC和TGA这两种热分析技术,能够准确地分析实验数据,并将其应用于我的研究中,从而深入理解材料的热行为,并为材料的设计和优化提供依据。

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作为一名材料学的学生,我深知组织结构表征的重要性,因此一直在寻找一本能够系统讲解相关知识的教材。偶然的机会,我翻阅了《材料组织结构的表征(第2版)》,这本书的内容给我留下了深刻的印象。书中的内容组织非常合理,从宏观到微观,从基础原理到具体应用,层层递进,逻辑清晰。我最喜欢的部分是关于表面分析技术的部分,比如X射线光电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)。这些技术在表面成分和化学状态的分析上至关重要,而我之前在这方面的知识非常有限。书中详细讲解了这些技术的原理、信息深度、空间分辨率以及如何解读谱图,并提供了许多不同材料体系的XPS和AES谱图实例,让我对这些技术有了直观的认识。我希望通过这本书的学习,能够掌握XPS和AES的基本分析方法,能够为我的研究项目提供更加准确和全面的表面化学信息,从而更好地理解材料的表面性质对其整体性能的影响。

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我认为《材料组织结构的表征(第2版)》是一本不可多得的优秀教材。它不仅在理论深度上做得非常扎实,而且在内容的实用性上也做得相当出色。书中对每一种表征技术的实际操作注意事项和实验技巧都有详细的说明,这对于我们这些一线科研工作者来说非常重要。我特别喜欢书中关于“统计分析”和“数据处理”的章节。在材料表征过程中,我们往往会得到大量的数据,如何有效地对这些数据进行统计分析,找出其中的规律,并且最终得到可靠的结论,是至关重要的一步。书中介绍了一些常用的统计学方法,以及如何利用一些软件工具来进行数据处理和可视化。我希望通过这本书的学习,能够提升我的数据分析能力,能够更加科学、严谨地处理和解读材料表征所获得的实验数据,从而做出更具说服力的研究结论,并最终提升我科研工作的质量和水平。

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这本书的书名《材料组织结构的表征(第2版)》本身就吸引了我,因为它精准地概括了我当前学习和研究的重点。拿到书后,我被它严谨的学术态度和丰富的案例所折服。书中对各种表征技术的优缺点、适用条件以及可能存在的局限性都进行了详尽的分析,这对于我们选择合适的表征手段至关重要。我特别对书中关于声学表征的部分感到好奇,因为这在我的认知中是相对不那么常见的材料表征方法。书中详细介绍了超声波在材料内部缺陷检测、结构分析方面的应用,这为我打开了新的视野。我之前只知道超声波用于无损检测,没想到它还能提供如此丰富的信息。我希望通过这本书的学习,能够了解声学表征的原理和技术,并且能够将这些知识应用到我所研究的材料体系中,例如在评估材料的均匀性、检测内部裂纹或孔隙等方面,从而丰富我的研究手段,获得更全面的材料信息。

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当我第一次看到《材料组织结构的表征(第2版)》这本书的时候,我就觉得它是一本非常有价值的参考书。我尤其喜欢书中对不同表征技术之间相互补充性的阐述。例如,它会解释为什么单独使用X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)可能无法完全了解一种材料,而结合使用会提供更全面的信息。书中关于纳米材料表征的章节给我留下了深刻的印象,纳米材料的尺寸效应使得其表征变得尤为重要和具有挑战性。书中详细介绍了针对纳米材料的特殊表征方法,例如原子探针断层扫描(APT)以及其在三维原子尺度上的成像能力。这让我对纳米材料的微观结构有了更深入的理解,也让我认识到APT作为一种前沿技术,在揭示纳米尺度下的相分离、原子分布等方面具有不可替代的作用。我期待通过这本书的学习,能够对纳米材料的表征有更深刻的认识,并且能够了解APT等先进技术的应用前景,为我未来的研究方向提供启示。

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这本《材料组织结构的表征(第2版)》简直是我近期读过的最令我惊喜的教材之一。首先,它的排版设计就让人眼前一亮,图文并茂,大量的高质量图片和清晰的示意图,让原本可能枯燥晦涩的理论变得生动易懂。我印象最深刻的是关于扫描电子显微镜(SEM)的章节,书中不仅详细介绍了SEM的工作原理,还提供了大量不同类型材料的SEM图像,并配有详尽的文字说明,解释了图像中观察到的各种形貌特征的可能原因,比如晶界、位错、孪晶等。这对于我这个SEM初学者来说,简直是福音。我之前使用SEM时,常常对着屏幕上的图像一头雾水,不知道如何准确地描述和解读,但这本书就像一本“图谱”,让我能够对照着学习,逐渐掌握了辨别不同微观形貌的技巧。而且,书中还提到了SEM的各种联用技术,比如EDX(能谱分析),这让我对如何结合多种表征手段来全面了解材料的组织结构有了更深的认识。我希望通过这本书的学习,我能够更自信地使用SEM进行实验,并且能够独立地完成对SEM图像的初步分析和解读,为我的研究打下坚实的基础。

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我一直对材料的微观世界充满好奇,而《材料组织结构的表征(第2版)》这本书无疑为我打开了一扇通往这个世界的窗户。这本书的语言风格非常严谨,但又不失可读性。我特别喜欢书中关于激光显微镜技术的章节。它详细介绍了共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)的工作原理,以及它在三维成像、荧光标记等方面的强大功能。我之前在进行某些生物材料的研究时,需要观察细胞与材料的相互作用,但传统的显微镜无法提供足够的分辨率和三维信息。CLSM的介绍让我看到了解决这个问题的希望。书中还提及了其他类型的激光显微镜,并分析了它们的优缺点,这让我对如何根据具体的研究需求选择合适的显微镜有了更清晰的认识。我希望通过这本书的学习,能够掌握CLSM的基本操作和数据处理方法,为我研究生物材料与细胞相互作用提供更强大的技术支持,获得更精细和有价值的研究结果。

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拿到《材料组织结构的表征(第2版)》这本书,我感觉像是得到了一位经验丰富的导师。书的结构设计非常人性化,从基础概念到高级应用,都讲解得非常清晰。我最感兴趣的是关于原子力显微镜(AFM)的章节。AFM以其在纳米尺度上进行形貌、高度、摩擦力、导电性等多种物性探测的能力而闻名。书中详细介绍了AFM的几种工作模式,包括接触模式、非接触模式和轻敲模式,并分析了它们各自的适用场景和优缺点。我之前尝试过使用AFM,但总觉得对结果的解读不够到位,有时候会受到表面吸附物或者探针形状的影响。这本书通过大量的AFM图像和数据分析示例,帮助我理解如何区分真实形貌和伪影,以及如何从AFM数据中提取有用的信息,比如纳米颗粒的尺寸分布、薄膜的粗糙度等。我希望通过这本书的学习,能够更深入地理解AFM的工作原理,提高AFM实验的数据质量和分析能力,为我研究纳米材料的表面特性提供更强大的支持。

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