基本信息
书名:半导体数据手册 册
定价:128.00元
作者:(德)马德朗
出版社:哈尔滨工业大学出版社
出版日期:2014-03-01
ISBN:9787560345154
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
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内容提要
马德朗编著的《半导体数据手册(附光盘下)/Springer手册精选原版系列》内容涉及四面体键的化合物特性的实验数据,三、四、五、六族元素特性的实验数据,各族元素的二元化合物特性的实验数据,各族元素的三元化合物特性的实验数据以及硼,过渡金属和稀土化合物半导体特性的实验数据等主要方面,以及相关材料的晶体结构、电学特性、晶格属性、传输特性、光学特性、杂志和缺陷等。对于必要的背景知识和近期的发展均有较为完整和详细的阐述,适合不同层次的群体用于学习和研究。本册23章包括更多元素,更多二元化合物,更多三元化合物。
目录
作者介绍
文摘
序言
我是在读研究生期间接触到这套书的,当时我的导师非常强调扎实的理论基础对未来创新的重要性。这本《半导体数据手册》与市面上那些侧重于“快速上手”或“应用技巧”的书籍截然不同,它更像是一本大学高年级或初级研究生阶段的教材,但内容深度远超一般教材。它对半导体器件特性的描述,不是停留在理想模型层面,而是详尽地讨论了工艺容差、杂质扩散、以及晶圆加工过程中可能引入的缺陷对最终性能的影响。我记得书中有一段关于SiC衬底缺陷密度与击穿电压均匀性的统计分析,数据点之详尽令人咂舌。这本书的优势在于,它为你构建了一个坚不可摧的理论框架,让你在面对任何新型半导体材料或器件结构时,都能迅速建立起有效的分析模型。对于希望在半导体领域深耕,志在研发方向的读者来说,这本书提供的知识体系是无可替代的基石。
评分这本书的翻译质量,坦率地说,非常精良。我之前接触过一些德语技术著作的中文译本,很多时候会因为术语的生硬转换而导致理解上的障碍,但马德朗教授的这本书处理得非常到位。特别是那些描述半导体物理现象的复杂长句,译者似乎投入了极大的精力去捕捉原文的精确内涵,而不是简单地进行词对词的替换。比如“载流子迁移率的温度依赖性”这类概念,在书中被赋予了非常贴切且易于接受的中文表达。这使得即便是像我这样,德语基础比较薄弱的读者,也能毫无阻碍地沉浸在深奥的理论之中。这种高质量的译著,在专业技术领域是非常稀缺的资源。它确保了原作者严谨的学术思想能够以最纯粹的面貌呈现在我们面前,极大地提升了学习和参考的效率。阅读体验因此得到了质的飞跃,让我能够专注于半导体科学本身,而不是纠结于晦涩的翻译辞藻。
评分说实话,这本书的厚度和内容密度初看之下确实有点令人望而却步,我常常开玩笑说它“能当枕头用”。但它最让我感到惊喜的一点是,它对“不确定性”的处理方式。在很多手册中,数据要么是给定的,要么是理想化的平均值。然而,这本书里花了相当大的篇幅去讨论误差分析和置信区间,尤其是在描述器件寿命预测和可靠性指标时,作者引用了大量的统计学方法来量化风险。这种坦诚地展示技术局限性的态度,让我对书中的所有数据都充满了敬畏和信任。它没有试图掩盖半导体制造过程的复杂性和固有缺陷,反而将其作为分析的一部分。正是这种对真实世界复杂性的尊重,使得这本书成为我案头最常被翻阅的工具书之一,因为它能提醒我在设计中必须考虑到“最坏情况”,而不仅仅是“最佳情况”。它训练的不是我的记忆力,而是我的批判性思维能力。
评分这本书的封面设计就带着一种沉甸甸的专业气息,那种深邃的蓝色和严谨的字体排版,让人一眼就知道这不是一本轻松读物。我是在准备一个关于功率半导体器件的长期项目时,经一位资深工程师推荐才入手这本书的。初翻时,确实被那密密麻麻的参数表格和复杂的电路图震慑住了,感觉自己像是在攀登一座知识的高峰。我记得最清楚的是,书中对特定BJT晶体管在极端温度下的漂移特性分析,讲解得极其透彻,每一个公式的推导都清晰可见,没有丝毫的跳跃。这对于我们这些需要在实际设计中精确控制热失控风险的工程师来说,简直是救命稻草。它不仅仅是罗列数据,更像是手把手地教你如何去“理解”这些数字背后的物理机制。虽然阅读过程需要极大的耐心和深厚的背景知识储备,但每当攻克一个难点,那种豁然开朗的感觉,是任何快餐式技术文档都无法比拟的。我尤其欣赏它对不同制造工艺对参数影响的横向比较,这极大地拓宽了我对半导体选型的视野。
评分说实话,我买这本书的初衷是希望找到一个快速查询手册式的工具,能迅速定位到我需要的某款MOSFET的开关损耗数据。然而,这本书带给我的远不止于此,它更像是一部厚重的技术史诗。我记得有一次在调试一个高速驱动电路时遇到了奇怪的振荡问题,查阅了无数网络论坛和应用笔记都无果。最后,抱着试一试的心态翻开了这本书中关于栅极电荷特性的那一章节。作者并没有直接给出“如何解决”的答案,而是深入剖析了跨导与输入电容之间的复杂耦合关系,以及在高频信号下这些参数如何非线性地影响瞬态响应。那种层层剥茧的分析逻辑,让我最终意识到了问题根源在于PCB走线的电感效应与器件内部的寄生参数共同作用的结果。这种从底层物理到系统表现的贯通理解,才是这本书真正的价值所在——它不是教你如何使用工具,而是教你如何成为工具的设计者。
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