編輯推薦
《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書具有很強的實用性,可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟件的研究人員的入門參考書,也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材
內容簡介
Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
內頁插圖
目錄
第1章 Rietveld法結構精修
1.1 Rietveld法結構精修發展概況
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 參數修正順序與結果判據
1.3.1 參數修正的順序
1.3.2 精修的數值判據
1.3.3 精修的圖示判斷
1.4 精修過程齣現的問題和對策
1.5 Rietveld法結構精修的應用
1.5.1 修正晶體結構
1.5.2 相變研究和點陣常數測定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微應變測定
第2章 EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹
2.1 GSAS軟件簡介
2.2 EXPGUI-GSAS軟件的安裝
2.3 EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹
2.3.1 菜單欄
2.3.2 選項卡界麵
2.3.3 EXPGUI幫助內容
第3章 EXPGUI-GSAS結構精修起步
3.1 精修前的準備工作
3.1.1 衍射數據的測定
3.1.2 衍射數據的轉換
3.1.3 初始結構的獲取
3.2 EXPGUI精修簡單示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修過程
3.2.3 常見問題
3.3 精修結果提取與繪圖
3.3.1 精修結果提取
3.3.2 精修圖譜繪圖
第4章 EXPGUI-GSAS提高練習
4.1 儀器參數文件的建立
4.1.1 基本知識
4.1.2 操作過程
4.2 物相(含非晶)定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射數據測試
4.2.3 精修過程
4.3 Le Bail法擬閤以及約束的使用
4.3.1 問題描述
4.3.2 精修過程
參考文獻
前言/序言
X射綫多晶衍射技術用於分析材料的相結構、相組成、晶粒大小、晶粒取嚮以及微結構等,是研究多晶材料結構與性能間關係的重要手段,廣泛應用於材料、化學、物理、地質、建築、航空航天以及醫藥等領域。但是X射綫多晶衍射具有固有的缺點,衍射峰重疊嚴重,丟失瞭大量有用的結構信息。1967年荷蘭晶體學傢Hugo M.Rietveld提齣瞭利用計算機對中子多晶衍射數據進行全譜擬閤的方法,剋服瞭過去多晶衍射數據僅利用積分強度的不足,充分利用瞭衍射譜的所有信息,可以獲得多晶材料的結構信息。1977年,Rietveld法擴展到瞭X射綫多晶衍射數據的分析。隨著計算機的發展和普遍應用,Rietveld法得到瞭完善和廣泛應用,目前已經成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。
《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書內容總共包含四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹瞭Rietveld法結構精修的發展概況、基本原理、精修策略及主要應用。第2章主要介紹常用精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝、使用界麵以及各種參數的意義。第3章簡要介紹精修用X射綫多晶衍射數據的測定要求以及實驗條件的選擇,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS軟件的操作過程、精修結果的提取以及精修圖譜的繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
本書可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射數據Rietveld法結構精修和GSAS軟件的入門參考資料,也可以作為本科生、研究生的實驗教材。
本書第1章由李強教授編寫,第2~4章由鄭振環編寫。書中一些具體數據和操作示例來源於一些已經發錶的文獻,已列於參考文獻,在此嚮原作者錶示感謝。
由於作者的水平有限,書中難免存在錯誤和不足之處,誠懇地希望廣大讀者批評指正。
探索材料微觀世界的利器:X射綫衍射(XRD)技術概覽 X射綫衍射(XRD)技術,作為一種非破壞性、無損檢測手段,已在材料科學、化學、物理學、地質學、藥學乃至考古學等眾多領域扮演著至關重要的角色。它能夠揭示物質的微觀結構信息,如同為我們打開瞭一扇窺視原子排列世界的窗口。本文將深入淺齣地介紹X射綫衍射的基本原理、關鍵技術及其在不同領域的應用,旨在為相關從業人員和研究者提供一個全麵而深入的理解。 一、 X射綫衍射的基本原理:布拉格定律的奧秘 X射綫衍射的核心原理基於布拉格定律(Bragg's Law)。當一束X射綫照射到晶體材料上時,晶體內部的原子會像微小的散射中心一樣,將X射綫嚮各個方嚮散射。由於晶體具有周期性的原子排列,這些散射的X射綫在特定方嚮上會發生相乾疊加,形成衍射峰。 布拉格定律精確地描述瞭發生相乾疊加的條件: nλ = 2d sinθ 其中: n 是整數,代錶衍射級數。 λ 是入射X射綫的波長。 d 是晶體中原子層之間的晶麵間距。 θ 是入射X射綫與晶麵之間的夾角,也稱為布拉格角。 當X射綫以不同的角度(θ)照射到晶體上時,隻有滿足布拉格定律的特定角度,纔會觀察到強烈的衍射峰。每一個衍射峰都對應著晶體中一種特定的晶麵族,其衍射角(2θ)則直接反映瞭該晶麵族的間距(d)。通過測量和分析這些衍射峰的位置、強度和寬度,我們就能推斷齣材料的晶體結構、晶格參數、物相組成、晶粒尺寸、微應變甚至擇優取嚮等關鍵信息。 二、 X射綫衍射的關鍵技術與儀器:洞察微觀結構的工具 實現X射綫衍射分析,需要專門的儀器設備和成熟的技術方法。 1. X射綫源: 産生X射綫的核心設備。常見的X射綫源包括X射綫管,通過高能電子轟擊金屬靶材(如銅、鉬、鈷等)産生連續的X射綫譜和特徵X射綫譜。特徵X射綫具有特定的波長,是進行衍射分析的主要光源。 2. 樣品颱與探測器: 樣品颱: 用於固定和鏇轉樣品,以保證X射綫能夠照射到材料的各個方嚮。對於粉末樣品,通常采用鏇轉樣品颱以獲得更具代錶性的衍射圖譜。 探測器: 用於接收和記錄衍射X射綫。常用的探測器有閃爍探測器、比例計數器、半導體探測器等,它們能夠將接收到的X射綫信號轉化為電信號,並記錄下來。 3. X射綫衍射儀(XRD儀): 這是進行X射綫衍射分析的核心儀器。典型的XRD儀由X射綫源、樣品室、測角儀(控製X射綫源和探測器的角度)、計數器和數據處理係統組成。根據幾何構型和探測方式的不同,XRD儀又可分為多種類型,例如: 衍射儀: 最常見的類型,通過掃描角度來記錄衍射強度。 成像探測器XRD: 可以同時記錄大角度範圍的衍射信息。 4. 樣品製備: 良好的樣品製備是獲得高質量衍射圖譜的前提。對於粉末樣品,需要研磨至細小均勻的顆粒,避免大顆粒引起的擇優取嚮。對於塊狀樣品,需要拋光錶麵以減少錶麵粗糙度對衍射信號的影響。 5. 數據采集與分析: 數據采集: XRD儀通過掃描2θ角度範圍,記錄不同角度下的衍射強度,形成X射綫衍射圖譜(XRD Pattern),即強度-角度(I-2θ)麯綫。 數據分析: 對衍射圖譜進行分析是XRD技術的核心。這通常包括: 峰識彆與精確定位: 找齣圖譜中存在的衍射峰,並精確測定其2θ角度。 物相鑒定: 將實驗衍射峰與標準衍射數據庫(如JCPDS/ICDD數據庫)進行比對,識彆齣樣品中存在的晶體物相。 晶格參數測定: 利用衍射峰的位置計算晶體各軸嚮的晶格常數。 晶粒尺寸和微應變分析: 通過分析衍射峰的寬度,結閤謝樂公式(Scherrer equation)等方法,估算晶體的平均晶粒尺寸和內部微應變。 定量物相分析: 通過比較不同物相衍射峰的強度比例,估算齣樣品中各物相的含量。 結構精修: 更高級的分析技術,如Rietveld精修,可以利用全譜擬閤的方法,通過建立和優化晶體結構模型來精確確定晶格參數、原子坐標、占位度、微觀應力等細節信息。 三、 X射綫衍射在各領域的廣泛應用:洞察物質世界的利器 X射綫衍射技術憑藉其獨特的優勢,在科研和工業生産中擁有極其廣泛的應用。 1. 材料科學與工程: 物相分析與鑒定: 確定材料的晶體結構,是進行材料性能研究的基礎。例如,在陶瓷、閤金、聚閤物、復閤材料等領域,XRD是鑒彆和控製物相組成的標準方法。 相變研究: 監測材料在不同溫度、壓力或氣氛下的相變過程,瞭解相變機理和條件。 晶粒尺寸與形貌分析: 瞭解材料的微觀結構對宏觀性能的影響,例如,細小的晶粒通常能提高材料的強度。 應力與形變分析: 測量材料內部的殘餘應力和宏觀形變,對於理解材料的力學行為至關重要,尤其在焊接、鍛造等工藝後。 缺陷與疇結構研究: 探測材料中的位錯、孿晶等缺陷,以及鐵電、鐵磁材料中的疇結構。 2. 化學與化工: 催化劑研究: 監測催化劑的晶體結構變化、活性相的形成與失活過程,為催化劑的設計與優化提供依據。 晶體工程: 研究和設計具有特定結構和性能的新型晶體材料,例如,多孔材料(MOFs)的閤成與錶徵。 聚閤物結晶度分析: 確定聚閤物的結晶度,這直接影響其力學性能、光學性能和加工性能。 藥物晶型研究: 藥物的晶型(多晶型)直接影響其溶解度、生物利用度和穩定性,XRD是藥物晶型分析的必備手段。 3. 地質學與礦物學: 礦物鑒定: 識彆岩石和土壤中的礦物成分,為地質勘探、資源評價和環境保護提供信息。 礦物成分分析: 確定礦物的含量,為地球化學研究和礦物加工提供數據。 古環境研究: 通過分析沉積岩中的礦物組成,重建古代的地質環境和氣候變化。 4. 考古學: 文物鑒定: 分析古代陶瓷、金屬器、顔料等文物的成分和製作工藝,為文物保護和研究提供綫索。 遺址分析: 研究古代遺址的土壤成分,瞭解古代人類的活動和生活方式。 5. 電子與半導體行業: 薄膜材料錶徵: 分析半導體薄膜、功能薄膜等的晶體結構、取嚮和質量,對於電子器件的性能至關重要。 器件失效分析: 診斷電子器件中的晶體結構問題,找齣失效原因。 四、 總結與展望 X射綫衍射技術以其強大的信息獲取能力,已經成為理解和控製物質微觀結構的關鍵工具。從基礎研究到工業應用,XRD都發揮著不可替代的作用。隨著X射綫源的進步(如同步輻射光源)、探測器技術的提升以及計算方法的不斷發展,XRD在精細結構分析、原位錶徵、多尺度成像等方麵的能力將得到進一步增強。未來的XRD技術將更加智能化、集成化,並有望在新能源、生物醫藥、納米材料等前沿領域展現齣更廣闊的應用前景,持續推動科學技術的進步。