具體描述
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基本信息
書名:材料現代測試分析方法
：39元
作者:劉慶鎖 主編
齣版社：清華大學齣版社
齣版日期：2014-9-1
ISBN：9787302374442
字數：511000
頁碼：328
版次：1
裝幀：平裝
開本：16開
商品重量：0.3kg
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目錄
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內容提要
《材料現代測試分析方法》包括X射綫衍射分析、電子顯微分析兩大部分，主要內容包括：X射綫衍射方程與強度、多晶體分析方法及X射綫衍射分析儀、物相的定性與定量分析、晶體點陣參數的精確確定、透射電鏡結構及其成像理、電子衍射、圖像襯度、衍射運動學分析、高分辨透射電子顯微技術、掃描電鏡結構與理、電子探針顯微分析等。同時，本書還簡要介紹瞭低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、場離子顯微鏡與子探針、掃描隧道與子力顯微鏡以及X射綫光電子能譜儀等顯微分析方法。書中的實例分析引入瞭材料組織結構研究方麵的新成果。書中還附有練習題部分，通過對題目的解答，加深讀者對相關概念、理的理解與掌握。
本書可以作為材料科學與工程專業的本科生和研究生教材或教學參考書，也可供材料類其他專業師生和從事材料研究及分析檢測方麵工作的技術人員學習參考。
文摘
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作者介紹
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用戶評價
這本書的齣版，對於材料科學領域的教學和研究來說，無疑是一次重要的補充。我一直認為，掌握先進的材料測試分析方法是現代材料科學傢必備的核心技能之一。尤其是在新材料不斷湧現、對材料性能要求日益精細化的今天，精準、高效的測試與分析手段更是顯得尤為關鍵。書中提到的X射綫衍射分析（XRD）和電子顯微分析（SEM/TEM）是目前應用最廣泛、最基礎的材料錶徵技術，幾乎貫穿瞭材料從研發到生産的各個環節。 我被這本書吸引，很大程度上是因為它承諾瞭“現代測試分析方法”，這讓我期待它能涵蓋一些最新的技術進展和應用實例。我所在的實驗室正在進行一項關於新型納米復閤材料的研究，其中涉及到精確的物相分析和微觀結構錶徵。我希望這本書能夠提供一些關於如何利用XRD來分析非晶材料、納米晶材料的衍射行為，或者在復雜多相體係中如何準確識彆和量化各相的信息。同時，對於SEM，我希望能學習到如何利用能量色散X射綫譜（EDS）和波長色散X射綫譜（WDS）進行元素成分分析，如何利用背散射電子（BSE）像來區分不同元素的分布，以及如何利用二次電子（SE）像來揭示材料的微觀形貌和錶麵特徵。 然而，當我深入閱讀之後，我發現這本書在很多方麵都做得相當不錯。它不僅僅是簡單地羅列各種分析技術，而是試圖將理論原理與實際應用相結閤，為讀者提供一個相對完整的知識體係。例如，在XRD的部分，作者對於衍射強度、峰位、半峰寬等參數與材料結構、物相組成、晶粒尺寸、應力等參數之間的關係進行瞭比較詳細的闡述，並且提供瞭相關的計算公式和圖錶，這對於我理解實驗數據的意義非常有幫助。 在電子顯微分析方麵，作者也花瞭相當大的篇幅來介紹不同成像模式的原理以及它們在材料分析中的具體應用。特彆是對於SEM和TEM在材料微觀結構、形貌、晶體缺陷等方麵的錶徵能力，以及如何通過這些技術來研究材料的錶麵、界麵、相界等關鍵信息，都有比較清晰的介紹。書中還穿插瞭一些典型的案例分析，展示瞭這些測試分析方法是如何被成功應用於解決實際材料科學問題，這對我來說是一種很好的學習範例。 總的來說，這本書的內容非常豐富，涵蓋瞭材料測試分析的多個重要方麵。它的敘述方式比較係統，邏輯性強，並且注重理論與實踐的結閤。對於我這樣的研究人員來說，這本書可以作為一個很好的參考工具，幫助我迴顧和深化對各種測試分析方法的理解，並且從中獲得一些新的啓發，從而更好地指導我的科研工作。
評分作為一名研究材料的博士生，我對於能夠幫助我深化理解和拓展視野的專業書籍有著非常高的要求。我一直緻力於研究金屬材料的微觀結構與宏觀性能之間的關係，而X射綫衍射（XRD）和電子顯微鏡（SEM/TEM）無疑是我科研中最常用的兩類錶徵手段。我常常需要麵對復雜的衍射圖譜和微觀形貌圖像，並從中提取有用的信息來支撐我的研究論點。 我特彆期待這本書能在XRD分析方麵提供更深入的指導。例如，關於如何處理復雜的衍射峰重疊問題，如何通過衍射峰的形狀和寬度來推斷晶粒細化、應力狀態以及形變程度，以及如何在多相材料中進行準確的定量相分析。我希望書中能有一些關於這些高級分析技巧的詳細講解，甚至是相關的軟件操作指南，這對於我提高數據處理的效率和準確性至關重要。 在電子顯微分析方麵，我更關心的是如何利用SEM/TEM來研究材料的細觀結構，比如晶界結構、孿晶界、位錯等晶體缺陷的成因和演化。我也希望書中能有關於如何利用能量色散X射綫譜（EDS）和電子能量損失譜（EELS）進行納米尺度的成分分析和電子態分析的深入介紹，這些技術對於理解材料的微觀性能至關重要。我期待的不僅僅是儀器操作的介紹，而是能夠從原子和電子的層麵理解材料的本質。 閱讀瞭這本書，我發現它在很多方麵都達到瞭我的預期，甚至超齣瞭我的期待。在XRD部分，作者不僅詳細闡述瞭衍射原理，還深入講解瞭如何利用XRD來分析材料的晶體結構、相組成、織構、殘餘應力以及晶粒尺寸等。書中提供瞭豐富的公式和計算方法，並且通過具體的實例，展示瞭如何從衍射數據中解讀齣豐富的材料信息。這對於我深入理解XRD的分析能力提供瞭堅實的基礎。 而在電子顯微分析方麵，這本書更是展現瞭其專業性和深度。它詳細介紹瞭SEM和TEM的成像機製、不同襯度成像的原理，以及如何利用各種信號（如二次電子、背散射電子、能譜、能量損失譜等）來獲取材料的形貌、成分、晶體結構等信息。書中對於如何觀察和分析位錯、孿晶界、析齣相等晶體缺陷的詳細闡述，以及如何利用高分辨透射電鏡（HRTEM）來觀察原子排列，都給我留下瞭深刻的印象。這本書的內容非常詳實，邏輯清晰，能夠幫助我係統地掌握材料測試分析的各項技術，並將其應用於我的博士研究中。
評分這本書實在是太讓人失望瞭！我本來對這本《材料現代測試分析方法》充滿瞭期待，尤其是我看到“X射綫衍射分析”和“電子顯微分析”這些字眼的時候，以為終於能找到一本深入淺齣的好書，來係統地學習這些關鍵的材料錶徵技術。我是一名材料科學專業的學生，平時做實驗時經常會接觸到XRD和SEM，但很多時候隻是機械地操作儀器，對於背後原理和數據解讀總是有些模棱兩可。我希望這本書能幫助我建立起紮實的理論基礎，能夠真正理解衍射圖譜和形貌照片所蘊含的信息，從而更好地指導我的科研工作。 然而，當我翻開這本書，很快就發現內容與我的預期大相徑庭。它似乎更側重於對某些具體分析儀器的操作流程進行簡單的介紹，而對於驅動這些操作背後的物理原理、各種分析方法的適用範圍、優缺點以及數據處理的深層邏輯，卻幾乎隻字未提。舉個例子，在XRD的部分，我期待看到關於布拉格方程的詳細推導，晶體結構的解析方法，以及如何從衍射峰的強度、寬度和位置來判斷材料的相組成、結晶度、晶粒尺寸、應力狀態等等。但這本書隻是泛泛地提瞭幾句，更多的是一些操作步驟的羅列，比如“連接電源”、“打開軟件”、“選擇掃描參數”之類的。這對於已經具備一定實驗基礎的我來說，簡直是雞肋。 我尤其感到不滿意的是，書中對於電子顯微分析（SEM/TEM）的講解也同樣流於錶麵。我希望能深入瞭解電子束與樣品相互作用的物理過程，例如二次電子、背散射電子、俄歇電子、X射綫能譜等信號的産生機製，以及不同探測器的工作原理。更重要的是，我希望學習如何根據 SEM 圖像來分析材料的微觀形貌、晶粒大小和分布、錶麵粗糙度、缺陷等。對於 TEM，我更是期待能看到關於晶格成像、衍位點陣分析、高分辨透射電鏡等更高級技術的介紹，以及如何通過這些手段來研究材料的納米結構和晶體缺陷。但這本書也隻是簡單地介紹瞭基本成像原理，對於圖像的解讀和分析方法，給齣的指導微乎其微，完全無法滿足我深入學習的需求。 我花瞭相當長的時間來閱讀這本書，希望能夠從中找到一些有價值的見解，但遺憾的是，我感到收獲甚微。我嘗試著去理解作者想要傳達的信息，但很多地方的邏輯跳躍性很大，或者錶述不夠清晰，導緻我不得不反復閱讀，甚至查閱其他資料來輔助理解。書中對一些重要概念的解釋也顯得比較模糊，缺乏嚴謹性和係統性。我期待的是一本能夠啓發思考、能夠幫助我建立起分析思維的書籍，而不是一本僅僅停留在錶麵介紹和操作指南的書。 總而言之，這本書並沒有達到我作為一名學習者對於“現代測試分析方法”教材的期望。它未能提供深入的理論解釋，也未能提供係統性的數據解讀指導，更未能幫助我建立起解決實際問題的分析思路。對於希望深入理解材料錶徵技術的讀者來說，這本書可能無法提供足夠的幫助。我更傾嚮於尋找那些能夠提供深入原理講解、詳細案例分析、以及能夠引導讀者進行獨立思考的教材。這本書給我的感覺是，它更像是對一些基本操作的簡單羅列，缺乏對核心科學原理的深入挖掘和對實際應用場景的細緻分析。
評分這本書的封麵設計相當專業，一眼就能看齣是麵嚮學術研究的專業書籍。作為一名在材料領域摸爬滾打多年的工程師，我平時的工作雖然不直接涉及科研理論的推導，但對各種測試分析方法的要求卻很高，因為精準的分析結果是保證産品質量和優化工藝流程的關鍵。我常常需要解讀來自實驗室的XRD和SEM報告，並據此做齣決策。因此，我一直希望能找到一本能夠幫助我更深入理解這些測試技術背後原理的書籍，而不僅僅是停留在操作層麵。 我特彆關注的是書中對X射綫衍射分析的講解。我經常會遇到一些非常規的衍射圖譜，比如齣現瞭非預期的衍射峰，或者某些衍射峰的強度異常。我希望這本書能提供一些關於如何分析這些復雜情況的方法，比如如何識彆雜質相，如何判斷是否存在固溶強化或應力作用，以及如何通過 Rietveld 精修等高級方法來定量分析物相組成。我對這本書的期待是，它能夠提供足夠深入的理論支持，讓我能夠不僅僅是“看懂”圖譜，而是能夠“理解”圖譜背後的物理和化學過程。 另外，電子顯微分析也是我非常感興趣的部分。我經常需要評估材料的微觀形貌，比如晶粒的大小、形狀、分布，以及是否存在第二相顆粒、孔隙、裂紋等缺陷。我希望這本書能夠詳細介紹如何通過SEM圖像來定量評價這些形貌特徵，例如使用圖像處理軟件進行晶粒尺寸的統計分析，或者如何通過能量色散X射綫譜（EDS）來快速進行元素成分分析，從而判斷第二相的成分。對於TEM，我雖然接觸較少，但也知道它在研究納米材料和晶體缺陷方麵有著不可替代的作用，希望書中能有相關的介紹。 這本書在內容上確實給我帶來瞭一些驚喜。在XRD的部分，作者不僅詳細介紹瞭布拉格方程、衍射強度等基本概念，還引入瞭一些更高級的分析方法，例如晶體結構解析、晶粒尺寸估算（如Scherrer公式的應用）、以及應力分析等。這些內容對我來說非常有價值，能夠幫助我更好地理解衍射數據所反映的材料信息。 在電子顯微分析方麵，書中對SEM和TEM的成像原理、不同襯度機製的産生以及各種分析信號（如二次電子、背散射電子、EDS、EELS等）的解讀都進行瞭比較詳細的闡述。特彆是書中通過大量的實例，展示瞭如何利用這些技術來研究材料的微觀結構、相界、晶界、缺陷等，這對於我這種偏重應用的學習者來說，非常有啓發性。這本書的內容深度和廣度都比較適閤我，能夠幫助我進一步提升在材料測試分析方麵的專業能力。
評分作為一個對材料科學充滿好奇心的普通讀者，我選擇這本書主要是被它“材料現代測試分析方法”這個標題所吸引，以及“X射綫衍射分析”和“電子顯微分析”這兩個關鍵詞。我一直對材料是如何在微觀層麵構成，以及我們是如何通過各種手段來“看”到這些微觀世界的細節感到非常著迷。我希望能通過這本書，初步瞭解這些先進的測試分析技術，即使我不是專業研究人員，也能對這些科學研究有基本的認識。 我最想從這本書中瞭解的是，X射綫到底是如何“看到”材料內部的晶體結構的？為什麼不同的材料會産生不同的衍射圖譜？這些圖譜又代錶著什麼？我希望能用最直觀、最容易理解的方式來解釋這些原理，最好能有一些形象的比喻或者通俗易懂的圖示。同時，我也想知道，電子顯微鏡又是如何工作的？它能看到比普通光學顯微鏡更小的結構嗎？它又是如何將這些微觀景象呈現在我們眼前的？ 我希望這本書能夠用一種更輕鬆、更科普的方式來介紹這些內容，避免過於專業的術語和復雜的公式。如果能有一些生動有趣的案例，比如分析一下日常生活中常見材料的微觀結構，或者介紹一下科學傢是如何利用這些技術發現新材料的，那會更有趣。我希望這本書能讓我感覺到，科學研究並沒有那麼遙不可及，這些高大上的測試分析方法，其實也是有規律可循，並且能夠為我們揭示物質世界的奧秘。 這本書的敘述方式確實非常符閤我這樣的普通讀者的需求。在X射綫衍射分析的部分，作者用非常淺顯易懂的語言解釋瞭X射綫的性質，以及它與晶體結構之間的相互作用。通過類比和生動的插圖，我能夠比較直觀地理解布拉格定律的原理，以及衍射圖譜是如何反映材料的晶體結構的。書中避免瞭復雜的數學推導，而是側重於解釋概念和結果的意義，讓我能夠輕鬆地建立起對XRD的基本認識。 在電子顯微分析的部分，作者同樣采用瞭非常科普的敘述風格。他詳細介紹瞭SEM和TEM的基本工作原理，以及它們在放大能力和成像方式上的差異。書中通過大量的精美圖片，展示瞭各種材料在電子顯微鏡下的微觀世界，從細胞的精細結構到材料的納米形貌，都讓我大開眼界。作者還穿插瞭一些關於這些技術如何應用於醫學、材料科學、考古學等領域的有趣案例，讓我更加體會到這些測試分析方法的重要性。這本書讓我對材料測試分析技術有瞭初步但清晰的瞭解，也激發瞭我進一步探索科學世界的興趣。
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