正版新書--數字係統測試和可測試性設計 [美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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[美] 塞納拉伯丁·納瓦比Zainalabedin 著

圖書標籤:

• 數字係統測試
• 可測試性設計
• 數字電路
• 測試技術
• VLSI測試
• DFT
• 芯片測試
• 電子工程
• 嵌入式係統
• 硬件驗證

店鋪： 麥點文化圖書專營店

齣版社： 機械工業齣版社

ISBN：9787111501541

商品編碼：29478055387

包裝：平裝

齣版時間：2015-07-01

基本信息

書名：數字係統測試和可測試性設計

定價：85.00元

作者： 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedin Nav

齣版社：機械工業齣版社

齣版日期：2015-07-01

ISBN：9787111501541

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：16開

商品重量：0.4kg

編輯推薦

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內容提要

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本書論述瞭數字係統測試和可測試性設計，它通過數字電路設計實例和方法闡明瞭測試和可測試性的概念。本書還采用Verilog模型和Verilog測試平颱實現並解釋故障仿真和測試生成算法。

本書廣泛使用Verilog和Verilog PLI編寫測試應用，這也是本書與其他有關數字係統測試和可測試性設計的*區彆。 此外，本書還廣泛使用測試平颱和相應的測試平颱開發技術。在開發測試平颱和虛擬測試機的過程中，本書使用瞭PLI，PLI是一個功能強大的編程工具，它提供與用Verilog語言描述的硬件進行交互的接口。這種硬件/軟件混閤的環境有助於本書描述復雜的測試程序和測試策略。

目錄

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譯者序
前言
概述
緻謝
章　數字電路測試的基礎知識和HDL的作用 / 1
1.1　設計及測試 / 1
1.1.1　RTL設計流程 / 1
1.1.2流片後測試 / 4
1.2測試重點 / 7
1.2.1　測試方法 / 7
1.2.2可測試性方法 / 9
1.2.3　檢測方法 / 11
1.2.4測試成本 / 11
1.3數字係統測試中的HDL / 13
1.3.1硬件建模 / 13
1.3.2製定測試方法 / 13
1.3.3虛擬測試機 / 14
1.3.4可測試性硬件評估 / 14
1.3.5協議感知自動測試設備 / 14
1.4自動測試設備結構及儀器 / 14
1.4.1數字激勵及測量儀器 / 15
1.4.2DC儀器 / 15
1.4.3AC儀器 / 15
1.4.4RF儀器 / 15
1.4.5自動測試設備 / 16
1.5小結 / 17
第2章　用於設計和測試的Verilog HDL / 18
2.1使用HDL開發測試方法的原因 / 18
2.2將Verilog用於設計 / 19
2.2.1將Verilog用於仿真 / 19
2.2.2將Verilog用於綜閤 / 19
2.3將Verilog用於測試 / 20
2.3.1無故障電路分析 / 21
2.3.2故障錶編製及可測試性分析 / 21
2.3.3故障仿真 / 21
2.3.4測試生成 / 22
2.3.5可測試性硬件設計 / 22
2.4Verilog的基本結構 / 23
2.4.1模塊、端口、連綫及變量 / 24
2.4.2抽象的層級 / 25
2.4.3邏輯值係統 / 25
2.5組閤電路 / 26
2.5.1晶體管級描述 / 26
2.5.2門級描述 / 26
2.5.3運算級描述 / 27
2.5.4過程級描述 / 28
2.5.5實例化其他模塊 / 29
2.6時序電路 / 30
2.6.1寄存器和移位寄存器 / 31
2.6.2狀態機編碼 / 31
2.7完整示例（加法器） / 35
2.7.1控製/數據劃分 / 35
2.7.2加法器的設計規格 / 36
2.7.3CPU的實現 / 36
2.8測試平颱技術 / 40
2.8.1測試平颱技術 / 41
2.8.2簡單的組閤測試平颱 / 41
2.8.3簡單的時序測試平颱 / 42
2.8.4限製數據集 / 43
2.8.5同步數據和響應處理 / 44
2.8.6時間間隔 / 45
2.8.7文本IO / 45
2.8.8仿真代碼覆蓋率 / 47
2.9PLI基礎知識 / 48
2.9.1訪問例行程序 / 49
2.9.2HDL/PLI實現的步驟 / 49
2.9.3在HDL/PLI環境中注入故障 / 51
2.10小結 / 54
第3章　故障和缺陷建模 / 55
3.1故障建模 / 55
3.1.1故障抽象 / 56
3.1.2功能故障 / 58
3.1.3結構故障 / 58
3.2門級結構故障 / 60
3.2.1確認故障 / 60
3.2.2固定開路故障 / 61
3.2.3固定為0的故障 / 62
3.2.4固定為1的故障 / 62
3.2.5橋接故障 / 62
3.2.6狀態依賴型故障 / 63
3.2.7多故障 / 64
3.2.8單固定結構故障 / 64
3.2.9檢測單固定故障 / 70
3.3與門級故障相關的問題 / 71
3.3.1檢測橋接故障 / 71
3.3.2不可檢測的故障 / 72
3.3.3冗餘故障 / 72
3.4故障壓縮 / 72
3.4.1難以區分的故障 / 72
3.4.2等效單固定故障 / 73
3.4.3麵嚮門的故障壓縮 / 74
3.4.4麵嚮綫路的故障壓縮 / 75
3.4.5重匯聚扇齣的問題 / 76
3.4.6支配性故障壓縮 / 76
3.5基於Verilog的故障壓縮 / 78
3.5.1用於故障壓縮的Verilog測試平颱 / 78
3.5.2故障壓縮的PLI實現 / 79
3.6小結 / 83
第4章　故障仿真應用與方法 / 84
4.1故障仿真 / 84
4.1.1門級故障仿真 / 84
4.1.2故障仿真要求 / 85
4.1.3HDL環境 / 86
4.1.4時序電路故障仿真 / 90
4.1.5故障排除 / 91
4.1.6相關術語 / 91
4.2故障仿真應用 / 92
4.2.1故障覆蓋率 / 92
4.2.2測試生成中的故障仿真 / 94
4.2.3故障字典創建 / 95
4.3故障仿真技術 / 100
4.3.1串行故障仿真 / 102
4.3.2並行故障仿真 / 104
4.3.3並發故障仿真 / 107
4.3.4演繹故障仿真 / 109
4.3.5演繹故障仿真的比較 / 112
4.3.6關鍵路徑追蹤故障仿真 / 112
4.3.7微分故障仿真 / 115
4.4小結 / 115
第5章　測試嚮量生成方法及算法 / 116
5.1測試生成基礎知識 / 116
5.1.1布爾差分 / 116
5.1.2測試生成過程 / 118
5.1.3故障和測試 / 118
5.1.4術語和定義 / 119
5.2可控性和可觀察性 / 120
5.2.1可控性 / 120
5.2.2可觀察性 / 120
5.2.3基於概率的可控性和可觀察性 / 121
5.2.4SCOAP的可控性和可觀察性 / 126
5.2.5基於距離 / 130
5.3測試生成 / 130
5.3.1限製測試數量 / 130
5.3.2組閤電路測試生成 / 133
5.3.3時序電路的測試生成 / 139
5.4小結 / 142
第6章　確定性測試生成算法 / 143
6.1確定性測試生成方法 / 143
6.1.1雙階段測試生成 / 144
6.1.2麵嚮故障的測試生成基本原理 / 144
6.1.3D算法 / 149
6.1.4PODEM（麵嚮路徑的測試生成） / 156
6.1.5　其他確定性麵嚮故障的測試生成方法 / 161
6.1.6不依賴於故障的測試生成 / 162
6.2時序電路測試生成 / 163
6.3測試數據壓縮 / 165
6.3.1測試壓縮的形式 / 166
6.3.2測試兼容性 / 166
6.3.3靜態壓縮 / 168
6.3.4　動態壓縮 / 174
6.4小結 / 174
第7章　通過掃描法進行測試電路設計 / 175
7.1增加電路可測試性 / 175
7.1.1摺中方案 / 175
7.1.2測試時序電路 / 176
7.1.3組閤電路的可測試性 / 177
7.2可測試性插入 / 177
7.2.1改善可觀測性 / 177
7.2.2提高可控性 / 178
7.2.3共享可觀測性引腳 / 180
7.2.4　共享控製引腳 / 180
7.2.5降低選擇輸入 / 182
7.2.6同步控製和觀測 / 182
7.3全掃描可測試性設計技術 / 185
7.3.1全掃描插入 / 186
7.3.2觸發器結構 / 187
7.3.3全掃描設計與測試 / 192
7.4掃描結構 / 203
7.4.1全掃描設計 / 204
7.4.2映像寄存器可測試性設計 / 204
7.4.3局部掃描方法 / 206
7.4.4多掃描設計 / 209
7.4.5其他的掃描設計 / 210
7.5RTL掃描設計 / 211
7.5.1RTL設計全掃描 / 211
7.5.2RTL設計多鏈掃描 / 213
7.5.3RTL掃描設計 / 215
7.6小結 / 215
第8章標準IEEE測試訪問方法 / 217
8.1邊界掃描基礎知識 / 217
8.2邊界掃描結構 / 218
8.2.1測試訪問端口 / 218
8.2.2BS-1149.1寄存器 / 219
8.2.3TAP控製器 / 223
8.2.4解碼器單元 / 227
8.2.5選擇器和其他單元 / 227
8.3邊界掃描測試說明 / 227
8.4闆級掃描鏈結構 / 233
8.4.1單一串行掃描鏈 / 234
8.4.2具有單一控製測試端口的多掃描鏈 / 234
8.4.3具有一個TDI、TDO但有多個TMS的多掃描鏈 / 234
8.4.4多掃描鏈，多TAP / 235
8.5RTL邊界掃描 / 236
8.5.1為CUT插入邊界掃描測試硬件 / 236
8.5.2兩個模塊的測試案例 / 239
8.5.3虛擬邊界掃描測試機 / 239
8.6邊界掃描描述語言 / 245
8.7小結 / 247
第9章邏輯內建自測試 / 248
9.1內建自測試基本知識 / 248
9.1.1基於存儲器的內建自測試 / 248
9.1.2內建自測試的有效性 / 250
9.1.3內建自測試的類型 / 250
9.1.4設計一個內建自測試 / 251
9.2測試嚮量生成 / 253
9.2.1測試嚮量産生器的集成 / 253
9.2.2窮舉計數器 / 253
9.2.3環形計數器 / 254
9.2.4扭環計數器 / 255
9.2.5綫性反饋移位寄存器 / 256
9.3輸齣響應分析 / 263
9.3.1輸齣響應分析器集成 / 263
9.3.21字符計數器 / 264
9.3.3跳變計數器 / 266
9.3.4奇偶校驗 / 267
9.3.5串行LFSR / 267
9.3.6並行特徵信號分析 / 268
9.4內建自測試結構 / 270
9.4.1與內建自測試相關的術語 / 270
9.4.2集中式和獨立式闆級內建自測試結構 / 271
9.4.3內建評估和自檢 / 272
9.4.4測試接口 / 273
9.4.5LSSD片上自檢 / 275
9.4.6使用MISR和SRSG自測試 / 276
9.4.7並發的內建自測試 / 278
9.4.8BILBO / 279
9.4.9提高測試覆蓋率 / 280
9.5RTL內建自測試設計 / 280
9.5.1被測電路設計、仿真和綜閤 / 281
9.5.2RTS內建自測試插入 / 281
9.5.3配置RTS 內建自測試 / 286
9.5.4內建自測試的閤並配置 / 289
9.5.5STUMPS設計 / 289
9.5.6RTS和STUMPS的結果 / 292
9.6小結 / 292
0章測試壓縮 / 293
10.1測試數據壓縮 / 293
10.2壓縮方法 / 295
10.2.1基於代碼的方案 / 295
10.2.2基於掃描的方案 / 303
10.3解壓縮方法 / 309
10.3.1解壓縮的硬件結構 / 309
10.3.2周期性掃描鏈 / 311
10.3.3基於代碼的解壓縮 / 312
10.3.4基於掃描的解壓縮 / 317
10.4小結 / 317
1章通過MBIST測試存儲器 / 318
11.1存儲器測試 / 318
11.2存儲器結構 / 319
11.3存儲器故障模型 / 320
11.3.1固定故障 / 320
11.3.2轉換故障 / 320
11.3.3耦閤故障 / 320
11.3.4橋接和狀態耦閤故障 / 321
11.4功能測試方法 / 321
11.4.1March測試算法 / 321
11.4.2March-C算法 / 322
11.4.3MATS 算法 / 322
11.4.4其他的March測試 / 322
11.5MBIST方法 / 323
11.5.1簡單的March MBIST / 323
11.5.2March-C MBIST計數-排序器 / 328
11.5.3乾擾MBIST / 331
11.6小結 / 332
附錄A在協議感知自動測試設備上使用HDL / 333
附錄BPLI測試應用的門級組件 / 336
附錄C編程語言接口測試工具 / 338
附錄DIEEE 1149.1標準邊界掃描的Verilog描述 / 343
附錄E邊界掃描IEEE 1149.1標準虛擬測試機 / 349
附錄F由RTL綜閤生成的門級網錶（NetlistGen） / 359
參考書目 / 362

作者介紹

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文摘

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序言

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數字世界的基石：探索係統嚴謹性的奧秘 在科技飛速發展的今天，數字係統已滲透到我們生活的方方麵麵，從智能手機、高性能計算機到復雜的航空航天控製係統，無一不依賴於精密可靠的數字電路設計。然而，隨著係統規模的日益龐大和復雜度的不斷攀升，確保這些數字係統能夠準確無誤地運行，並且在齣現故障時能夠被有效檢測和診斷，已成為一個至關重要的挑戰。本書正是聚焦於這一核心議題，深入剖析數字係統測試與可測試性設計的關鍵原理與實踐方法，旨在為讀者提供一套全麵而深入的知識體係，從而應對數字係統設計與驗證中的嚴峻挑戰。 本書並非僅限於理論的闡述，而是力求將理論與實踐緊密結閤，以豐富的實例和詳盡的分析，引導讀者理解數字係統為何需要測試，以及如何通過前瞻性的設計來提升係統的可測試性。我們將在內容中探討以下幾個關鍵領域，它們共同構成瞭數字係統測試與可測試性設計的核心骨架： 一、數字係統測試的必要性與挑戰 首先，我們將審視數字係統為何必須進行嚴格的測試。任何集成電路（IC）或數字係統在製造過程中都可能存在潛在的缺陷，這些缺陷一旦被忽視，將可能導緻産品功能異常、性能下降，甚至引發災難性的後果。從微觀的晶體管製造誤差，到宏觀的邏輯設計錯誤，都可能潛藏在看似完美的數字芯片之中。本書將詳細闡述這些潛在缺陷的來源，包括工藝變化、設計失誤、以及環境因素等，並深入分析它們對係統功能可能造成的具體影響。 接著，我們將聚焦於數字係統測試所麵臨的獨特挑戰。與傳統的機械或模擬係統不同，數字係統的內部狀態往往是不可直接觀測的。這意味著，我們無法像觀察一個機械臂的運動那樣，直觀地“看到”數字電路中信號的流動和邏輯的運作。這種“黑箱”特性給測試帶來瞭巨大的睏難，如何設計齣有效的測試嚮量（test vectors），能夠全麵覆蓋可能齣現的故障模式，並且在有限的測試時間內獲得高置信度的測試結果，是擺在工程師麵前的一道難題。我們將探討諸如故障覆蓋率（fault coverage）、測試時間和測試成本等關鍵指標，並分析在實際應用中如何平衡這些相互製約的因素。 二、可測試性設計（Design for Testability, DFT）的理念與技術 麵對測試的挑戰，我們必須將“可測試性”這一理念融入到設計的早期階段。本書將係統地介紹可測試性設計（DFT）的核心思想，即通過在設計過程中加入特定的電路結構和測試機製，來降低測試的難度，提高測試的效率和效果。DFT並非一種事後的補救措施，而是與功能設計同等重要的一個設計環節。 我們將深入探討幾種主要的DFT技術。其中，掃描鏈（Scan Chain）技術是DFT中最具代錶性且應用最為廣泛的技術之一。通過將順序邏輯電路中的觸發器（flip-flops）連接成一條條可掃描的鏈，我們可以將復雜的順序邏輯問題轉化為等效的組閤邏輯問題。這意味著，我們可以通過在測試模式下將輸入數據串行地載入掃描鏈，然後以串行方式讀齣輸齣結果，從而簡化瞭對電路內部狀態的訪問和控製。本書將詳細講解掃描鏈的工作原理，包括掃描鏈的插入、掃描鏈的使能與復位，以及如何通過掃描鏈進行故障檢測。我們將分析不同類型的掃描鏈實現方式，並探討它們在性能和麵積上的權衡。 除瞭掃描鏈，本書還將介紹其他重要的DFT技術，如邊界掃描（Boundary Scan）。邊界掃描技術主要用於連接多個芯片的係統闆級測試。它在每個芯片的I/O引腳處增加一個特殊的測試邏輯，使得用戶可以通過一條標準的測試接口（如JTAG接口）來控製和觀察芯片的I/O信號，從而在係統層麵實現對電路闆連接和芯片之間通信的測試。我們將深入講解邊界掃描的工作原理，包括其指令寄存器（instruction register）和數據寄存器（data register）的功能，以及如何利用邊界掃描進行闆級互連測試和芯片功能驗證。 此外，我們還將涉及內建自測試（Built-In Self-Test, BIST）技術。BIST技術旨在將測試邏輯集成到芯片內部，使得芯片能夠在無需外部測試設備的情況下，自動生成測試嚮量，執行測試，並分析測試結果。本書將詳細介紹BIST的實現方式，包括僞隨機測試模式生成器（Pseudo-Random Pattern Generator, PRPG）和測量響應分析器（Signature Analyzer, SA）等核心組件。我們將分析不同類型的BIST，如LFSR（Linear Feedback Shift Register）的原理和應用，以及如何利用BIST來降低測試成本，提高測試的可重復性和自動化程度。 三、故障模型與故障仿真 理解數字係統可能齣現的故障類型是進行有效測試的基礎。本書將深入探討各種常見的故障模型，從最簡單的單點故障（Single-Point Fault, SPF）到更復雜的多點故障（Multiple-Point Fault, MPF）。我們將詳細介紹固定故障模型（Stuck-At Fault Model），這是最經典也最廣泛使用的故障模型之一，它假設導綫或引腳被永久地固定在高電平（stuck-at-1）或低電平（stuck-at-0）。我們將分析固定故障模型如何映射到實際的硬件缺陷，例如晶體管的短路或開路。 除瞭固定故障模型，我們還將探討其他重要的故障模型，如過渡故障（Transition Fault），它關注的是信號在變化過程中齣現的延遲問題；延遲故障（Delay Fault），它衡量的是信號在傳播過程中是否會超齣時序約束；以及橋接故障（Bridging Fault）和開路故障（Open Fault）等。理解這些不同的故障模型，有助於我們更全麵地捕捉可能齣現的硬件缺陷，並設計齣更具針對性的測試嚮量。 基於這些故障模型，故障仿真（Fault Simulation）成為評估測試嚮量有效性的關鍵工具。本書將介紹故障仿真的一般流程，即假設係統中存在某種故障，然後利用功能仿真器來判斷一個給定的測試嚮量是否能夠檢測到該故障。我們將深入探討故障仿真算法，例如並行故障仿真（Parallel Fault Simulation）、並發故障仿真（Concurrent Fault Simulation）以及延遲故障仿真等，並分析它們的效率和復雜性。通過故障仿真，我們可以量化測試集的故障覆蓋率，並指導我們如何改進測試嚮量以提高覆蓋率。 四、測試嚮量生成 生成高效且覆蓋率高的測試嚮量是數字係統測試的核心任務之一。本書將介紹多種測試嚮量生成方法。手工生成（Manual Generation）方法雖然直觀，但隨著係統復雜度的增加，其效率低下且難以保證覆蓋率。因此，我們更側重於自動測試嚮量生成（Automatic Test Pattern Generation, ATPG）技術。 ATPG工具通過算法化的方法，能夠自動生成能夠檢測特定故障的測試嚮量。我們將深入探討ATPG的核心算法，例如D-算法（D-Algorithm），它是最早也是最經典的ATPG算法之一，它引入瞭“D”概念來錶示信號的潛在錯誤狀態，並基於此進行故障定位和測試嚮量的生成。我們還將介紹更現代、更高效的ATPG算法，如PODEM（Path-Oriented Decision Making）和FAN（Fanout-Oriented ATPG）等，這些算法在處理復雜邏輯和大規模電路時錶現齣更優異的性能。本書將通過具體的例子，展示ATPG工具如何工作，以及如何解讀其輸齣結果。 五、測試數據分析與故障診斷 完成測試後，對測試數據進行分析和故障診斷是不可或缺的環節。本書將介紹如何分析測試輸齣，以確定芯片是否閤格，以及當芯片不閤格時，如何定位産生故障的具體原因。故障診斷（Fault Diagnosis）旨在根據測試結果，精確地找齣導緻係統失效的根本原因。我們將探討各種故障診斷技術，例如基於模式匹配的診斷、基於故障定位算法的診斷，以及如何利用掃描鏈和邊界掃描等DFT結構來輔助故障診斷。 六、可測試性設計在實際工程中的應用 本書的終極目標是為讀者提供在實際工程中應用DFT技術的指導。我們將討論如何在不同的設計階段應用DFT，以及如何選擇最適閤特定應用的DFT策略。我們將探討DFT對芯片麵積、功耗和性能的影響，並提供一些優化DFT實現的技巧。此外，我們還將討論EDA（Electronic Design Automation）工具在DFT流程中的作用，以及如何有效地利用這些工具來提高設計和測試的效率。 總而言之，本書將以係統、全麵、深入的視角，引領讀者走進數字係統測試與可測試性設計的廣闊天地。通過掌握本書所闡述的理論知識和實踐方法，您將能夠更有效地設計、驗證和測試數字係統，從而為構建更加可靠、高效和智能的數字世界貢獻力量。本書適閤於電子工程、計算機科學、微電子等相關專業的學生、研究人員以及在集成電路設計、測試和驗證領域工作的工程師。

評分☆☆☆☆☆

這本書的名字實在有點長，正版新書--數字係統測試和可測試性設計 [美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)，我當初被這個名字吸引，一方麵是“數字係統測試”這個領域本身就讓我充滿好奇，另一方麵是“可測試性設計”這個概念，聽起來就有一種“未雨綢繆”的智慧感。我一直覺得，一個好的産品，除瞭功能強大，穩定可靠纔是根本，而要實現穩定可靠，測試和可測試性就顯得尤為重要。這本書的作者是[美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)，光是這個名字就帶著一種國際化的視野和專業深度。我初步翻閱瞭一下，這本書的排版和印刷都相當不錯，紙張的質感也很好，作為一本技術類書籍，這種細緻的製作真的很讓人賞心悅目。我尤其對書中可能涉及到的最新技術和研究成果充滿瞭期待，希望它能為我揭示數字係統測試領域的前沿動態，並且提供一些切實可行、能夠指導實踐的方法論。我希望這本書不僅僅是理論的堆砌，更能包含一些經典的案例分析，讓我能更直觀地理解這些抽象的概念。

評分☆☆☆☆☆

初見《正版新書--數字係統測試和可測試性設計》，書名中的“數字係統測試”和“可測試性設計”就牢牢抓住瞭我的眼球。作為一名對電子工程領域充滿熱情的研究者，我一直在尋找能夠係統性地講解這些關鍵概念的權威著作。這本書的作者，[美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)，其名字本身就散發著一種專業和嚴謹的氣息，讓我對書中內容的深度和廣度充滿瞭信心。我個人非常看重書籍的結構和邏輯性，希望這本書能夠清晰地梳理齣從基礎理論到高級應用的發展脈絡，能夠循序漸進地引導讀者理解數字係統測試的各個環節，以及如何在係統設計階段就融入可測試性的考量。我相信，一本優秀的教材不僅能傳授知識，更能培養解決問題的能力，我期待這本書能夠提供豐富的例證和實踐指導，幫助我更好地應對實際工程中遇到的各種挑戰，並在學術研究上有所突破。

評分☆☆☆☆☆

我拿到這本《正版新書--數字係統測試和可測試性設計》，第一印象是這本書的裝幀非常考究，這讓我對即將展開的閱讀之旅充滿瞭期待。書名中的“數字係統測試”和“可測試性設計”是我的關注焦點，因為在當前的電子設計領域，産品的可靠性和質量越來越受到重視，而這兩者正是保證産品質量的基石。作者[美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)的名字，在相關領域內我有所耳聞，是一位備受尊敬的專傢，因此我對這本書的內容質量抱有很高的期望。我希望這本書能夠提供一些關於如何進行高效的數字係統測試的先進方法和技術，例如自動化測試、掃描鏈設計、內建自測試（BIST）等，並且能夠深入闡述如何將可測試性設計（DFT）的理念融入到芯片和係統的設計流程中，從源頭上提升産品的可維護性和可靠性。我期待這本書能成為我解決實際工程問題的有力工具。

評分☆☆☆☆☆

這本《正版新書--數字係統測試和可測試性設計》的名字，聽起來就充滿瞭學術深度和實踐價值。我一直在尋找關於數字係統測試和可測試性設計的權威書籍，這本書的齣現，讓我眼前一亮。作者[美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)，作為一個在國際上享有盛譽的專傢，他的著作無疑具有很高的參考價值。我尤其關注的是，這本書是否能夠係統地介紹數字係統測試的各種技術，例如故障建模、測試嚮量生成、故障診斷等，並且深入探討如何將可測試性設計融入到係統的整個生命周期中，從需求分析到最終産品交付。我希望這本書能夠為我提供清晰的理論框架和實用的技術指南，幫助我更好地理解數字係統測試的復雜性，並掌握設計高可測試性數字係統的關鍵技術，從而提升整個電子産品的質量和可靠性。

評分☆☆☆☆☆

拿到這本《正版新書--數字係統測試和可測試性設計》，說實話，我抱著一種既興奮又略帶忐忑的心情。興奮是因為“數字係統測試”這個話題一直是我在工作和學習中想要深入瞭解的方嚮，而“可測試性設計”更是讓我覺得，這不僅僅是關於如何發現問題，而是關於如何在設計之初就規避問題，這是一種更高級的思維方式。我猜想，這本書的作者，[美] 塞納拉伯丁·納瓦比(Zainalabedi)，一定是一位在這個領域深耕多年的專傢，他的經驗和見解，對我們這些從業者來說，無疑是寶貴的財富。我特彆關注的是，書中是否會介紹一些在實際工程中被廣泛應用、並且行之有效的測試方法和設計原則。例如，在復雜的數字電路中，如何有效地設計測試點，如何進行邏輯綜閤以提高可測試性，又如何在有限的資源下，最大化測試覆蓋率等等。這本書的厚度也讓我覺得內容應該相當充實，希望能讓我對這個復雜而重要的領域有一個全麵而深入的認識，並且能啓發我思考一些新的解決問題的方法。