正版新书--数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比Zainalabedin 著

图书标签:

• 数字系统测试
• 可测试性设计
• 数字电路
• 测试技术
• VLSI测试
• DFT
• 芯片测试
• 电子工程
• 嵌入式系统
• 硬件验证

店铺： 麦点文化图书专营店

出版社： 机械工业出版社

ISBN：9787111501541

商品编码：29478055387

包装：平装

出版时间：2015-07-01

基本信息

书名：数字系统测试和可测试性设计

定价：85.00元

作者： 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Nav

出版社：机械工业出版社

出版日期：2015-07-01

ISBN：9787111501541

字数：

页码：

版次：1

装帧：平装

开本：16开

商品重量：0.4kg

编辑推荐

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内容提要

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本书论述了数字系统测试和可测试性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。

本书广泛使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这也是本书与其他有关数字系统测试和可测试性设计的*区别。 此外，本书还广泛使用测试平台和相应的测试平台开发技术。在开发测试平台和虚拟测试机的过程中，本书使用了PLI，PLI是一个功能强大的编程工具，它提供与用Verilog语言描述的硬件进行交互的接口。这种硬件/软件混合的环境有助于本书描述复杂的测试程序和测试策略。

目录

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译者序
前言
概述
致谢
章　数字电路测试的基础知识和HDL的作用 / 1
1.1　设计及测试 / 1
1.1.1　RTL设计流程 / 1
1.1.2流片后测试 / 4
1.2测试重点 / 7
1.2.1　测试方法 / 7
1.2.2可测试性方法 / 9
1.2.3　检测方法 / 11
1.2.4测试成本 / 11
1.3数字系统测试中的HDL / 13
1.3.1硬件建模 / 13
1.3.2制定测试方法 / 13
1.3.3虚拟测试机 / 14
1.3.4可测试性硬件评估 / 14
1.3.5协议感知自动测试设备 / 14
1.4自动测试设备结构及仪器 / 14
1.4.1数字激励及测量仪器 / 15
1.4.2DC仪器 / 15
1.4.3AC仪器 / 15
1.4.4RF仪器 / 15
1.4.5自动测试设备 / 16
1.5小结 / 17
第2章　用于设计和测试的Verilog HDL / 18
2.1使用HDL开发测试方法的原因 / 18
2.2将Verilog用于设计 / 19
2.2.1将Verilog用于仿真 / 19
2.2.2将Verilog用于综合 / 19
2.3将Verilog用于测试 / 20
2.3.1无故障电路分析 / 21
2.3.2故障表编制及可测试性分析 / 21
2.3.3故障仿真 / 21
2.3.4测试生成 / 22
2.3.5可测试性硬件设计 / 22
2.4Verilog的基本结构 / 23
2.4.1模块、端口、连线及变量 / 24
2.4.2抽象的层级 / 25
2.4.3逻辑值系统 / 25
2.5组合电路 / 26
2.5.1晶体管级描述 / 26
2.5.2门级描述 / 26
2.5.3运算级描述 / 27
2.5.4过程级描述 / 28
2.5.5实例化其他模块 / 29
2.6时序电路 / 30
2.6.1寄存器和移位寄存器 / 31
2.6.2状态机编码 / 31
2.7完整示例（加法器） / 35
2.7.1控制/数据划分 / 35
2.7.2加法器的设计规格 / 36
2.7.3CPU的实现 / 36
2.8测试平台技术 / 40
2.8.1测试平台技术 / 41
2.8.2简单的组合测试平台 / 41
2.8.3简单的时序测试平台 / 42
2.8.4限制数据集 / 43
2.8.5同步数据和响应处理 / 44
2.8.6时间间隔 / 45
2.8.7文本IO / 45
2.8.8仿真代码覆盖率 / 47
2.9PLI基础知识 / 48
2.9.1访问例行程序 / 49
2.9.2HDL/PLI实现的步骤 / 49
2.9.3在HDL/PLI环境中注入故障 / 51
2.10小结 / 54
第3章　故障和缺陷建模 / 55
3.1故障建模 / 55
3.1.1故障抽象 / 56
3.1.2功能故障 / 58
3.1.3结构故障 / 58
3.2门级结构故障 / 60
3.2.1确认故障 / 60
3.2.2固定开路故障 / 61
3.2.3固定为0的故障 / 62
3.2.4固定为1的故障 / 62
3.2.5桥接故障 / 62
3.2.6状态依赖型故障 / 63
3.2.7多故障 / 64
3.2.8单固定结构故障 / 64
3.2.9检测单固定故障 / 70
3.3与门级故障相关的问题 / 71
3.3.1检测桥接故障 / 71
3.3.2不可检测的故障 / 72
3.3.3冗余故障 / 72
3.4故障压缩 / 72
3.4.1难以区分的故障 / 72
3.4.2等效单固定故障 / 73
3.4.3面向门的故障压缩 / 74
3.4.4面向线路的故障压缩 / 75
3.4.5重汇聚扇出的问题 / 76
3.4.6支配性故障压缩 / 76
3.5基于Verilog的故障压缩 / 78
3.5.1用于故障压缩的Verilog测试平台 / 78
3.5.2故障压缩的PLI实现 / 79
3.6小结 / 83
第4章　故障仿真应用与方法 / 84
4.1故障仿真 / 84
4.1.1门级故障仿真 / 84
4.1.2故障仿真要求 / 85
4.1.3HDL环境 / 86
4.1.4时序电路故障仿真 / 90
4.1.5故障排除 / 91
4.1.6相关术语 / 91
4.2故障仿真应用 / 92
4.2.1故障覆盖率 / 92
4.2.2测试生成中的故障仿真 / 94
4.2.3故障字典创建 / 95
4.3故障仿真技术 / 100
4.3.1串行故障仿真 / 102
4.3.2并行故障仿真 / 104
4.3.3并发故障仿真 / 107
4.3.4演绎故障仿真 / 109
4.3.5演绎故障仿真的比较 / 112
4.3.6关键路径追踪故障仿真 / 112
4.3.7微分故障仿真 / 115
4.4小结 / 115
第5章　测试向量生成方法及算法 / 116
5.1测试生成基础知识 / 116
5.1.1布尔差分 / 116
5.1.2测试生成过程 / 118
5.1.3故障和测试 / 118
5.1.4术语和定义 / 119
5.2可控性和可观察性 / 120
5.2.1可控性 / 120
5.2.2可观察性 / 120
5.2.3基于概率的可控性和可观察性 / 121
5.2.4SCOAP的可控性和可观察性 / 126
5.2.5基于距离 / 130
5.3测试生成 / 130
5.3.1限制测试数量 / 130
5.3.2组合电路测试生成 / 133
5.3.3时序电路的测试生成 / 139
5.4小结 / 142
第6章　确定性测试生成算法 / 143
6.1确定性测试生成方法 / 143
6.1.1双阶段测试生成 / 144
6.1.2面向故障的测试生成基本原理 / 144
6.1.3D算法 / 149
6.1.4PODEM（面向路径的测试生成） / 156
6.1.5　其他确定性面向故障的测试生成方法 / 161
6.1.6不依赖于故障的测试生成 / 162
6.2时序电路测试生成 / 163
6.3测试数据压缩 / 165
6.3.1测试压缩的形式 / 166
6.3.2测试兼容性 / 166
6.3.3静态压缩 / 168
6.3.4　动态压缩 / 174
6.4小结 / 174
第7章　通过扫描法进行测试电路设计 / 175
7.1增加电路可测试性 / 175
7.1.1折中方案 / 175
7.1.2测试时序电路 / 176
7.1.3组合电路的可测试性 / 177
7.2可测试性插入 / 177
7.2.1改善可观测性 / 177
7.2.2提高可控性 / 178
7.2.3共享可观测性引脚 / 180
7.2.4　共享控制引脚 / 180
7.2.5降低选择输入 / 182
7.2.6同步控制和观测 / 182
7.3全扫描可测试性设计技术 / 185
7.3.1全扫描插入 / 186
7.3.2触发器结构 / 187
7.3.3全扫描设计与测试 / 192
7.4扫描结构 / 203
7.4.1全扫描设计 / 204
7.4.2映像寄存器可测试性设计 / 204
7.4.3局部扫描方法 / 206
7.4.4多扫描设计 / 209
7.4.5其他的扫描设计 / 210
7.5RTL扫描设计 / 211
7.5.1RTL设计全扫描 / 211
7.5.2RTL设计多链扫描 / 213
7.5.3RTL扫描设计 / 215
7.6小结 / 215
第8章标准IEEE测试访问方法 / 217
8.1边界扫描基础知识 / 217
8.2边界扫描结构 / 218
8.2.1测试访问端口 / 218
8.2.2BS-1149.1寄存器 / 219
8.2.3TAP控制器 / 223
8.2.4解码器单元 / 227
8.2.5选择器和其他单元 / 227
8.3边界扫描测试说明 / 227
8.4板级扫描链结构 / 233
8.4.1单一串行扫描链 / 234
8.4.2具有单一控制测试端口的多扫描链 / 234
8.4.3具有一个TDI、TDO但有多个TMS的多扫描链 / 234
8.4.4多扫描链，多TAP / 235
8.5RTL边界扫描 / 236
8.5.1为CUT插入边界扫描测试硬件 / 236
8.5.2两个模块的测试案例 / 239
8.5.3虚拟边界扫描测试机 / 239
8.6边界扫描描述语言 / 245
8.7小结 / 247
第9章逻辑内建自测试 / 248
9.1内建自测试基本知识 / 248
9.1.1基于存储器的内建自测试 / 248
9.1.2内建自测试的有效性 / 250
9.1.3内建自测试的类型 / 250
9.1.4设计一个内建自测试 / 251
9.2测试向量生成 / 253
9.2.1测试向量产生器的集成 / 253
9.2.2穷举计数器 / 253
9.2.3环形计数器 / 254
9.2.4扭环计数器 / 255
9.2.5线性反馈移位寄存器 / 256
9.3输出响应分析 / 263
9.3.1输出响应分析器集成 / 263
9.3.21字符计数器 / 264
9.3.3跳变计数器 / 266
9.3.4奇偶校验 / 267
9.3.5串行LFSR / 267
9.3.6并行特征信号分析 / 268
9.4内建自测试结构 / 270
9.4.1与内建自测试相关的术语 / 270
9.4.2集中式和独立式板级内建自测试结构 / 271
9.4.3内建评估和自检 / 272
9.4.4测试接口 / 273
9.4.5LSSD片上自检 / 275
9.4.6使用MISR和SRSG自测试 / 276
9.4.7并发的内建自测试 / 278
9.4.8BILBO / 279
9.4.9提高测试覆盖率 / 280
9.5RTL内建自测试设计 / 280
9.5.1被测电路设计、仿真和综合 / 281
9.5.2RTS内建自测试插入 / 281
9.5.3配置RTS 内建自测试 / 286
9.5.4内建自测试的合并配置 / 289
9.5.5STUMPS设计 / 289
9.5.6RTS和STUMPS的结果 / 292
9.6小结 / 292
0章测试压缩 / 293
10.1测试数据压缩 / 293
10.2压缩方法 / 295
10.2.1基于代码的方案 / 295
10.2.2基于扫描的方案 / 303
10.3解压缩方法 / 309
10.3.1解压缩的硬件结构 / 309
10.3.2周期性扫描链 / 311
10.3.3基于代码的解压缩 / 312
10.3.4基于扫描的解压缩 / 317
10.4小结 / 317
1章通过MBIST测试存储器 / 318
11.1存储器测试 / 318
11.2存储器结构 / 319
11.3存储器故障模型 / 320
11.3.1固定故障 / 320
11.3.2转换故障 / 320
11.3.3耦合故障 / 320
11.3.4桥接和状态耦合故障 / 321
11.4功能测试方法 / 321
11.4.1March测试算法 / 321
11.4.2March-C算法 / 322
11.4.3MATS 算法 / 322
11.4.4其他的March测试 / 322
11.5MBIST方法 / 323
11.5.1简单的March MBIST / 323
11.5.2March-C MBIST计数-排序器 / 328
11.5.3干扰MBIST / 331
11.6小结 / 332
附录A在协议感知自动测试设备上使用HDL / 333
附录BPLI测试应用的门级组件 / 336
附录C编程语言接口测试工具 / 338
附录DIEEE 1149.1标准边界扫描的Verilog描述 / 343
附录E边界扫描IEEE 1149.1标准虚拟测试机 / 349
附录F由RTL综合生成的门级网表（NetlistGen） / 359
参考书目 / 362

作者介绍

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文摘

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序言

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数字世界的基石：探索系统严谨性的奥秘 在科技飞速发展的今天，数字系统已渗透到我们生活的方方面面，从智能手机、高性能计算机到复杂的航空航天控制系统，无一不依赖于精密可靠的数字电路设计。然而，随着系统规模的日益庞大和复杂度的不断攀升，确保这些数字系统能够准确无误地运行，并且在出现故障时能够被有效检测和诊断，已成为一个至关重要的挑战。本书正是聚焦于这一核心议题，深入剖析数字系统测试与可测试性设计的关键原理与实践方法，旨在为读者提供一套全面而深入的知识体系，从而应对数字系统设计与验证中的严峻挑战。 本书并非仅限于理论的阐述，而是力求将理论与实践紧密结合，以丰富的实例和详尽的分析，引导读者理解数字系统为何需要测试，以及如何通过前瞻性的设计来提升系统的可测试性。我们将在内容中探讨以下几个关键领域，它们共同构成了数字系统测试与可测试性设计的核心骨架： 一、数字系统测试的必要性与挑战 首先，我们将审视数字系统为何必须进行严格的测试。任何集成电路（IC）或数字系统在制造过程中都可能存在潜在的缺陷，这些缺陷一旦被忽视，将可能导致产品功能异常、性能下降，甚至引发灾难性的后果。从微观的晶体管制造误差，到宏观的逻辑设计错误，都可能潜藏在看似完美的数字芯片之中。本书将详细阐述这些潜在缺陷的来源，包括工艺变化、设计失误、以及环境因素等，并深入分析它们对系统功能可能造成的具体影响。 接着，我们将聚焦于数字系统测试所面临的独特挑战。与传统的机械或模拟系统不同，数字系统的内部状态往往是不可直接观测的。这意味着，我们无法像观察一个机械臂的运动那样，直观地“看到”数字电路中信号的流动和逻辑的运作。这种“黑箱”特性给测试带来了巨大的困难，如何设计出有效的测试向量（test vectors），能够全面覆盖可能出现的故障模式，并且在有限的测试时间内获得高置信度的测试结果，是摆在工程师面前的一道难题。我们将探讨诸如故障覆盖率（fault coverage）、测试时间和测试成本等关键指标，并分析在实际应用中如何平衡这些相互制约的因素。 二、可测试性设计（Design for Testability, DFT）的理念与技术 面对测试的挑战，我们必须将“可测试性”这一理念融入到设计的早期阶段。本书将系统地介绍可测试性设计（DFT）的核心思想，即通过在设计过程中加入特定的电路结构和测试机制，来降低测试的难度，提高测试的效率和效果。DFT并非一种事后的补救措施，而是与功能设计同等重要的一个设计环节。 我们将深入探讨几种主要的DFT技术。其中，扫描链（Scan Chain）技术是DFT中最具代表性且应用最为广泛的技术之一。通过将顺序逻辑电路中的触发器（flip-flops）连接成一条条可扫描的链，我们可以将复杂的顺序逻辑问题转化为等效的组合逻辑问题。这意味着，我们可以通过在测试模式下将输入数据串行地载入扫描链，然后以串行方式读出输出结果，从而简化了对电路内部状态的访问和控制。本书将详细讲解扫描链的工作原理，包括扫描链的插入、扫描链的使能与复位，以及如何通过扫描链进行故障检测。我们将分析不同类型的扫描链实现方式，并探讨它们在性能和面积上的权衡。 除了扫描链，本书还将介绍其他重要的DFT技术，如边界扫描（Boundary Scan）。边界扫描技术主要用于连接多个芯片的系统板级测试。它在每个芯片的I/O引脚处增加一个特殊的测试逻辑，使得用户可以通过一条标准的测试接口（如JTAG接口）来控制和观察芯片的I/O信号，从而在系统层面实现对电路板连接和芯片之间通信的测试。我们将深入讲解边界扫描的工作原理，包括其指令寄存器（instruction register）和数据寄存器（data register）的功能，以及如何利用边界扫描进行板级互连测试和芯片功能验证。 此外，我们还将涉及内建自测试（Built-In Self-Test, BIST）技术。BIST技术旨在将测试逻辑集成到芯片内部，使得芯片能够在无需外部测试设备的情况下，自动生成测试向量，执行测试，并分析测试结果。本书将详细介绍BIST的实现方式，包括伪随机测试模式生成器（Pseudo-Random Pattern Generator, PRPG）和测量响应分析器（Signature Analyzer, SA）等核心组件。我们将分析不同类型的BIST，如LFSR（Linear Feedback Shift Register）的原理和应用，以及如何利用BIST来降低测试成本，提高测试的可重复性和自动化程度。 三、故障模型与故障仿真 理解数字系统可能出现的故障类型是进行有效测试的基础。本书将深入探讨各种常见的故障模型，从最简单的单点故障（Single-Point Fault, SPF）到更复杂的多点故障（Multiple-Point Fault, MPF）。我们将详细介绍固定故障模型（Stuck-At Fault Model），这是最经典也最广泛使用的故障模型之一，它假设导线或引脚被永久地固定在高电平（stuck-at-1）或低电平（stuck-at-0）。我们将分析固定故障模型如何映射到实际的硬件缺陷，例如晶体管的短路或开路。 除了固定故障模型，我们还将探讨其他重要的故障模型，如过渡故障（Transition Fault），它关注的是信号在变化过程中出现的延迟问题；延迟故障（Delay Fault），它衡量的是信号在传播过程中是否会超出时序约束；以及桥接故障（Bridging Fault）和开路故障（Open Fault）等。理解这些不同的故障模型，有助于我们更全面地捕捉可能出现的硬件缺陷，并设计出更具针对性的测试向量。 基于这些故障模型，故障仿真（Fault Simulation）成为评估测试向量有效性的关键工具。本书将介绍故障仿真的一般流程，即假设系统中存在某种故障，然后利用功能仿真器来判断一个给定的测试向量是否能够检测到该故障。我们将深入探讨故障仿真算法，例如并行故障仿真（Parallel Fault Simulation）、并发故障仿真（Concurrent Fault Simulation）以及延迟故障仿真等，并分析它们的效率和复杂性。通过故障仿真，我们可以量化测试集的故障覆盖率，并指导我们如何改进测试向量以提高覆盖率。 四、测试向量生成 生成高效且覆盖率高的测试向量是数字系统测试的核心任务之一。本书将介绍多种测试向量生成方法。手工生成（Manual Generation）方法虽然直观，但随着系统复杂度的增加，其效率低下且难以保证覆盖率。因此，我们更侧重于自动测试向量生成（Automatic Test Pattern Generation, ATPG）技术。 ATPG工具通过算法化的方法，能够自动生成能够检测特定故障的测试向量。我们将深入探讨ATPG的核心算法，例如D-算法（D-Algorithm），它是最早也是最经典的ATPG算法之一，它引入了“D”概念来表示信号的潜在错误状态，并基于此进行故障定位和测试向量的生成。我们还将介绍更现代、更高效的ATPG算法，如PODEM（Path-Oriented Decision Making）和FAN（Fanout-Oriented ATPG）等，这些算法在处理复杂逻辑和大规模电路时表现出更优异的性能。本书将通过具体的例子，展示ATPG工具如何工作，以及如何解读其输出结果。 五、测试数据分析与故障诊断 完成测试后，对测试数据进行分析和故障诊断是不可或缺的环节。本书将介绍如何分析测试输出，以确定芯片是否合格，以及当芯片不合格时，如何定位产生故障的具体原因。故障诊断（Fault Diagnosis）旨在根据测试结果，精确地找出导致系统失效的根本原因。我们将探讨各种故障诊断技术，例如基于模式匹配的诊断、基于故障定位算法的诊断，以及如何利用扫描链和边界扫描等DFT结构来辅助故障诊断。 六、可测试性设计在实际工程中的应用 本书的终极目标是为读者提供在实际工程中应用DFT技术的指导。我们将讨论如何在不同的设计阶段应用DFT，以及如何选择最适合特定应用的DFT策略。我们将探讨DFT对芯片面积、功耗和性能的影响，并提供一些优化DFT实现的技巧。此外，我们还将讨论EDA（Electronic Design Automation）工具在DFT流程中的作用，以及如何有效地利用这些工具来提高设计和测试的效率。 总而言之，本书将以系统、全面、深入的视角，引领读者走进数字系统测试与可测试性设计的广阔天地。通过掌握本书所阐述的理论知识和实践方法，您将能够更有效地设计、验证和测试数字系统，从而为构建更加可靠、高效和智能的数字世界贡献力量。本书适合于电子工程、计算机科学、微电子等相关专业的学生、研究人员以及在集成电路设计、测试和验证领域工作的工程师。

评分☆☆☆☆☆

这本书的名字实在有点长，正版新书--数字系统测试和可测试性设计 [美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)，我当初被这个名字吸引，一方面是“数字系统测试”这个领域本身就让我充满好奇，另一方面是“可测试性设计”这个概念，听起来就有一种“未雨绸缪”的智慧感。我一直觉得，一个好的产品，除了功能强大，稳定可靠才是根本，而要实现稳定可靠，测试和可测试性就显得尤为重要。这本书的作者是[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)，光是这个名字就带着一种国际化的视野和专业深度。我初步翻阅了一下，这本书的排版和印刷都相当不错，纸张的质感也很好，作为一本技术类书籍，这种细致的制作真的很让人赏心悦目。我尤其对书中可能涉及到的最新技术和研究成果充满了期待，希望它能为我揭示数字系统测试领域的前沿动态，并且提供一些切实可行、能够指导实践的方法论。我希望这本书不仅仅是理论的堆砌，更能包含一些经典的案例分析，让我能更直观地理解这些抽象的概念。

评分☆☆☆☆☆

我拿到这本《正版新书--数字系统测试和可测试性设计》，第一印象是这本书的装帧非常考究，这让我对即将展开的阅读之旅充满了期待。书名中的“数字系统测试”和“可测试性设计”是我的关注焦点，因为在当前的电子设计领域，产品的可靠性和质量越来越受到重视，而这两者正是保证产品质量的基石。作者[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)的名字，在相关领域内我有所耳闻，是一位备受尊敬的专家，因此我对这本书的内容质量抱有很高的期望。我希望这本书能够提供一些关于如何进行高效的数字系统测试的先进方法和技术，例如自动化测试、扫描链设计、内建自测试（BIST）等，并且能够深入阐述如何将可测试性设计（DFT）的理念融入到芯片和系统的设计流程中，从源头上提升产品的可维护性和可靠性。我期待这本书能成为我解决实际工程问题的有力工具。

评分☆☆☆☆☆

这本《正版新书--数字系统测试和可测试性设计》的名字，听起来就充满了学术深度和实践价值。我一直在寻找关于数字系统测试和可测试性设计的权威书籍，这本书的出现，让我眼前一亮。作者[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)，作为一个在国际上享有盛誉的专家，他的著作无疑具有很高的参考价值。我尤其关注的是，这本书是否能够系统地介绍数字系统测试的各种技术，例如故障建模、测试向量生成、故障诊断等，并且深入探讨如何将可测试性设计融入到系统的整个生命周期中，从需求分析到最终产品交付。我希望这本书能够为我提供清晰的理论框架和实用的技术指南，帮助我更好地理解数字系统测试的复杂性，并掌握设计高可测试性数字系统的关键技术，从而提升整个电子产品的质量和可靠性。

评分☆☆☆☆☆

初见《正版新书--数字系统测试和可测试性设计》，书名中的“数字系统测试”和“可测试性设计”就牢牢抓住了我的眼球。作为一名对电子工程领域充满热情的研究者，我一直在寻找能够系统性地讲解这些关键概念的权威著作。这本书的作者，[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)，其名字本身就散发着一种专业和严谨的气息，让我对书中内容的深度和广度充满了信心。我个人非常看重书籍的结构和逻辑性，希望这本书能够清晰地梳理出从基础理论到高级应用的发展脉络，能够循序渐进地引导读者理解数字系统测试的各个环节，以及如何在系统设计阶段就融入可测试性的考量。我相信，一本优秀的教材不仅能传授知识，更能培养解决问题的能力，我期待这本书能够提供丰富的例证和实践指导，帮助我更好地应对实际工程中遇到的各种挑战，并在学术研究上有所突破。

评分☆☆☆☆☆

拿到这本《正版新书--数字系统测试和可测试性设计》，说实话，我抱着一种既兴奋又略带忐忑的心情。兴奋是因为“数字系统测试”这个话题一直是我在工作和学习中想要深入了解的方向，而“可测试性设计”更是让我觉得，这不仅仅是关于如何发现问题，而是关于如何在设计之初就规避问题，这是一种更高级的思维方式。我猜想，这本书的作者，[美] 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedi)，一定是一位在这个领域深耕多年的专家，他的经验和见解，对我们这些从业者来说，无疑是宝贵的财富。我特别关注的是，书中是否会介绍一些在实际工程中被广泛应用、并且行之有效的测试方法和设计原则。例如，在复杂的数字电路中，如何有效地设计测试点，如何进行逻辑综合以提高可测试性，又如何在有限的资源下，最大化测试覆盖率等等。这本书的厚度也让我觉得内容应该相当充实，希望能让我对这个复杂而重要的领域有一个全面而深入的认识，并且能启发我思考一些新的解决问题的方法。