| 图书基本信息 | |
| 图书名称 | 2014全国第十五届微波集成电路与移动通信学术年会论文集 |
| 作者 | 朱晓维,杜正伟 |
| 定价 | 168.00元 |
| 出版社 | 东南大学出版社 |
| ISBN | 9787564152703 |
| 出版日期 | 2014-10-01 |
| 字数 | |
| 页码 | |
| 版次 | 1 |
| 装帧 | 平装 |
| 开本 | 大16开 |
| 商品重量 | 0.4Kg |
| 内容简介 | |
| 移动通信的迅速发展和普及应用是全球信息化进程中引人注目的成就, 极大地推动了社会的发展, 并对人们的生活方式带来了深刻的影响。移动通信系统大量的信息技术、新体制的发展和应用对微波集成电路技术与工艺技术提出了许多新的研究课题, 大量的相关技术和理论有待研究解决。全国“微波集成电路与移动通信学术年会”论文集内容包括无线通信与系统、微波及射频电路、天线、微波集成电路及工艺和其他共5个部分。对微波集成电路与移动通信领域的科研、生产、教学能起到的推动作用。 |
| 作者简介 | |
| 目录 | |
| 编辑推荐 | |
| 文摘 | |
| 序言 | |
作为一名资深射频工程师,我更关心的是那些能够横向整合不同技术领域的创新成果。现在的集成电路设计越来越依赖于系统级的优化,单纯的电路模块优化已经很难带来质的飞跃。因此,我期待在这本会议记录中能看到更多关于“系统级设计”与“电路级实现”之间反馈机制的讨论。比如,如何根据通信协议对电路性能提出的动态要求(例如瞬时带宽变化或跳频),来设计具有自适应能力的功放或压控振荡器?此外,对于射频前端的集成化趋势,如将滤波器、LNA、混频器等元件集成在单个芯片甚至单个封装内,所面临的隔离度、寄生参数建模和热效应管理等关键问题,有没有来自产业界的、具有实际工程验证的案例分享?单纯的学术推演已经无法满足我们对实用性的要求。
评分对于像“全国微波集成电路与移动通信学术年会”这样的行业盛会,我总有一种期待,即它能成为连接基础研究与产业化应用的桥梁。我更关注那些在小型化、高可靠性和成本控制方面取得显著进展的研究。比如,在微波器件的封装技术上,有没有新的低成本、高精度键合工艺被验证?这直接关系到最终产品的可制造性。在移动通信特别是面向特定工业应用(如高精度定位或远程控制)时,对信道估计和抗干扰性能的要求远超普通消费电子。因此,涉及数字预失真(DPD)技术在嵌入式处理器上的高效实现,或者基于AI/ML算法的动态均衡技术在快速变化的信道环境下的鲁棒性表现,这些都属于我重点关注的范畴。如果论文集能提供在这些高难度应用场景下的具体实践经验,那它对我的工作指导价值将大大提升。
评分这本厚重的文集,光是封面上传递出的信息就让人对其中蕴含的学术深度有所期待。作为一名长期关注射频与微波领域发展的工程技术人员,我深知这类年会论文集是追踪前沿技术脉络的绝佳窗口。然而,坦白说,我更关注的是那些突破性的、具有颠覆性潜力的新型器件和系统架构。比如,当前在毫米波和太赫兹频段,如何实现低噪声、高效率的功率放大器设计?面对日益复杂的电磁兼容性挑战,新的电磁仿真与优化方法取得了哪些实质性进展?尤其是新材料,如宽禁带半导体GaN或SiC在更高工作频率下的性能极限,以及它们在小型化、集成化趋势下的挑战与机遇,这些才是真正能推动行业进步的关键议题。我希望看到更多关于面向未来5G-Advanced乃至6G系统需求的基础研究成果,例如基于超材料的智能表面(RIS)在波束赋形中的应用潜力,或者新型的低损耗传输线结构在高速电路中的实现细节。期待这些论文中能闪烁出真正具有前瞻性的火花,而非仅仅是对既有理论的重复验证。
评分说实话,我对这类会议论文集的印象往往是“内容庞杂,良莠不齐”,需要花费大量时间去筛选真正有价值的内容。阅读时,我更倾向于寻找那些能提供具体、可复现设计思路和详实测试数据的文章。例如,在滤波器设计方面,单纯展示一个优异的S参数曲线是不够的,我需要了解其物理结构是如何与工艺限制相结合的,所采用的耦合机制有何独到之处,以及在不同温度和功率负载下的稳定性表现。此外,移动通信领域的发展日新月异,对于新的调制解调技术、多址接入方案在微波集成电路实现层面遇到的瓶颈,也应该有深入的探讨。如何在高集成度下有效管理功耗和热量,同时保持极高的线性度,这始终是电路设计师面临的“阿喀琉斯之踵”。如果这本论文集能在这些工程实际的痛点上给出扎实的解决方案,那它的价值就无可估量了。
评分最近在忙着为下一代物联网设备选型合适的收发前端模块,对低功耗宽带射频前端的集成技术特别感兴趣。我希望看到更多关于CMOS或SiGe工艺在实现高Q值无源器件和高线性度混频器上的最新突破。传统的结论性文章我已经看腻了,真正吸引我的是那些具体到工艺节点、能看到版图细节的“干货”。例如,在天线设计方面,对于UWB(超宽带)或多频段集成天线,其交叉极化隔离度和带宽的优化策略,是否有了超越传统方法的创新点?再者,在测试测量技术方面,对于高频S参数的去嵌(De-embedding)和误差修正技术,有没有新的算法或工具被提出,以应对快速增长的测试频率和更小的封装尺寸带来的挑战?一本优秀的论文集应当是行业内技术路线的缩影,而非仅仅是理论的堆砌。
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