基本信息
書名:三維集成電路設計
定價:58.00元
作者:(美)華斯裏斯 等
齣版社:機械工業齣版社
齣版日期:2013-09-01
ISBN:9787111433514
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.322kg
編輯推薦
內容提要
在21世紀的前十年結束時,基於三維集成技術的“摩爾定律”時代就悄然來臨瞭。具備多個有源器件平麵的三維集成電路(3一DIc),有望提供結構緊湊、布綫靈活、傳輸高速化且通道數多的互連結構,從而為Ic設計者們提供突破“互連瓶頸”的有效手段,而且還能夠有效集成各種異質材料、器件和信號處理形式,成為三維集成技術發展的主要方嚮之一。本書是世界上三維集成電路設計方麵的本專著,既有的理論深度,又有較高的可讀性。它係統、嚴謹地闡釋瞭集成電路三維集成的設計技術基礎,包括3一DIC係統的工藝、互連建模、設計與優化、熱管理、3一D電路架構以及相應的案例研究,提齣瞭可以高效率解決特定設計問題的解決方案,並給齣瞭設計方麵的指南。
本書是一本的技術參考書,適用的讀者範圍包括:超大規模集成電路(VLSI)設計工程師,微處理器和係統級芯片的設計者以及相關電子設計自動化(EDA)軟件的開發者,微機電及微係統集成方麵的設計開發者,以及微電子行業中對未來技術走嚮高度敏感的管理者和投資者。本書也可以作為相關專業研究生的教材和教師的教輔參考書籍。
目錄
作者介紹
文摘
序言
《三維集成電路設計》這本書,對於我這樣一個在光刻和蝕刻領域深耕多年的工藝工程師來說,無疑是一扇通往全新技術疆域的窗戶。我一直關注著半導體製造工藝的每一個微小進步,而3D IC所帶來的工藝革新和挑戰,是我近來思考的焦點。我希望這本書能夠深入剖析3D IC製造過程中所麵臨的獨特工藝難題,以及相應的解決方案。 我尤其希望能看到書中關於TSV(矽通孔)製造工藝的詳細介紹。TSV的精度、良率以及其對芯片性能的影響,都是我們工藝工程師需要重點關注的問題。書中是否會介紹不同TSV製作方法,如深矽刻蝕(DRIE)、激光鑽孔等,以及它們在成本、效率和可靠性方麵的權衡?同時,我也想瞭解TSV填充金屬的選擇、均勻性和集成度對整體良率的影響。 此外,對於堆疊工藝,如晶圓鍵閤(Wafer Bonding)或芯片鍵閤(Die Bonding)技術,書中是否有深入的探討?無論是直接鍵閤(Direct Bonding)還是介質層輔助鍵閤,其溫度、壓力、潔淨度等工藝參數的控製都至關重要。我希望能夠從中學習到不同鍵閤技術的優缺點,以及它們在實現高密度堆疊和可靠互連方麵的考量。 我也期待書中能介紹3D IC中的重布綫層(RDL)和微凸點(Micro-bumps)等關鍵互連技術。這些技術的精度要求極高,尤其是在多層堆疊時,如何保證信號的完整性和功耗的有效管理,是工藝設計的重要課題。書中是否會提供相關的設計指南和工藝窗口分析? 最後,我希望《三維集成電路設計》這本書能為我們工藝工程師提供一些關於3D IC的良率提升和失效分析方麵的參考。例如,如何通過工藝優化來降低TSV缺陷,如何進行可靠性測試和評估,以及如何對失效模式進行溯源和改進。這本書若能為我們帶來一些實用的工藝改進思路和方法,將非常有價值。
評分初拿到《三維集成電路設計》這本書,我心中是帶著一份期待與好奇的。作為一名在模擬IC設計領域摸爬滾打多年的工程師,我深知技術更新迭代的速度,而三維集成電路(3D IC)的概念,在我看來,更是未來半導體領域一股不可忽視的力量。我期待這本書能夠為我揭示3D IC設計的全貌,不僅僅是概念的介紹,更能觸及到實際的設計流程、關鍵技術挑戰,以及可能的解決方案。 我特彆想瞭解書中關於不同3D IC堆疊技術的詳細對比。例如,TSV(矽通孔)技術在不同應用場景下的優劣勢,以及其在功耗、信號完整性和散熱方麵帶來的影響。此外,對於近幾年興起的其他堆疊方式,如混閤鍵閤(Hybrid Bonding)等,書中是否有深入的探討?我希望能夠看到相關的案例分析,瞭解這些先進技術在實際産品中的應用情況,比如在高性能計算、移動通信或AI芯片等領域。 更重要的是,我希望能從這本書中學習到3D IC設計的係統化方法論。這包括從架構設計、邏輯綜閤、物理實現,到驗證和測試等各個環節,與傳統2D IC設計相比,3D IC有哪些獨特的考量點和優化策略。例如,如何在多層芯片之間進行高效的通信和電源分配?如何處理不同工藝節點和器件在同一封裝中的集成問題?書中能否提供一些具體的指導和工具鏈的建議? 另外,我對3D IC的可靠性和封裝技術也充滿瞭興趣。將多層芯片堆疊在一起,必然會帶來新的可靠性挑戰,例如熱應力、機械應力以及TSV的缺陷等。書中是否會詳細分析這些潛在的失效模式,並提齣相應的預防和緩解措施?在封裝方麵,我也想瞭解適用於3D IC的先進封裝技術,以及它們如何協同工作,實現高性能、高密度和高可靠性的目標。 最後,作為一個在行業一綫工作的工程師,我更關心的是《三維集成電路設計》這本書的實用性和前瞻性。它是否能為我提供一些切實可行的設計技巧,幫助我應對未來工作中可能遇到的3D IC相關問題?同時,我也希望這本書能展望3D IC技術的未來發展趨勢,例如在材料、製造工藝、設計自動化工具等方麵的突破,從而為我未來的技術規劃和學習方嚮提供一些啓示。
評分從一個門外漢的角度,《三維集成電路設計》這本書帶給我的感受是既充滿挑戰又令人興奮。我一直聽說芯片製造在不斷突破物理極限,而3D IC似乎是將“堆疊”這個概念帶入瞭微觀世界,這本身就足夠吸引我。我希望這本書能用一種比較容易理解的方式,為我解釋清楚3D IC究竟是什麼,它和我們現在用的普通芯片有什麼本質區彆。 我特彆想知道,把芯片一層一層疊起來,究竟能帶來什麼好處?是不是就像蓋樓一樣,占地麵積小瞭,但層數多瞭,裏麵的空間就能利用得更充分?書中是否會用一些形象的比喻或者圖示,來解釋3D IC是如何實現更高集成度和更高性能的?比如,是不是可以把不同的功能模塊,比如CPU、GPU、內存等,都集成到同一個芯片裏,這樣它們之間的溝通就會變得非常快? 關於3D IC的設計過程,我感覺肯定很復雜。書中會不會提到,在設計這種“立體”芯片的時候,需要用到哪些特殊的工具或者軟件?還有,當這麼多層芯片疊在一起的時候,它們之間是怎麼連接的呢?我聽說過“矽通孔”這個詞,不知道書中是否會詳細解釋它是什麼,以及它是如何工作的?以及這種連接方式會不會有什麼問題,比如會不會容易發熱,或者信號傳導會不會受到影響? 我對於3D IC的未來發展也充滿好奇。這本書是否會預測,在不久的將來,我們會不會用到3D IC做的手機、電腦,甚至是其他電子産品?它會不會讓我們的設備變得更小巧、更強大?同時,我也關心這種技術會不會很昂貴,會不會影響到普通消費者的購買力? 總而言之,我希望《三維集成電路設計》這本書能像一本入門指南,用清晰易懂的語言,為我打開3D IC這個新世界的大門。我不想被太多的專業術語嚇到,而是希望能獲得對這個前沿技術有一個整體的、宏觀的瞭解,並且能感受到它所蘊含的巨大潛力。
評分作為一名長期關注半導體産業發展動態的科技愛好者,《三維集成電路設計》這本書的名字立刻吸引瞭我。我一直對摩爾定律的延續和芯片性能的提升感到好奇,而3D IC無疑是實現這一目標的重要途徑之一。我希望能通過這本書,深入理解3D IC技術的核心原理,以及它將如何改變我們對集成電路設計的認知。 我尤其對書中關於提升芯片性能和降低功耗的策略感興趣。3D IC通過垂直堆疊,極大地縮短瞭芯片內部的互連距離,這對於提高信號傳輸速度和降低功耗具有顯著意義。書中是否會詳細闡述不同堆疊架構在性能和功耗方麵的權衡,以及如何通過精細化的設計來最大化收益?比如,關於電源完整性和信號完整性在3D IC設計中的挑戰,以及相應的解決方案,我對此非常期待。 此外,我希望這本書能對3D IC的設計流程和 EDA 工具鏈進行深入的介紹。從前端的邏輯設計到後端的物理實現,3D IC的設計流程與傳統2D IC存在顯著差異。書中能否提供一些關於3D IC特定設計規則、約束以及驗證方法的指導?對於市麵上主流的EDA工具,它們在支持3D IC設計方麵有哪些特點和發展方嚮,我也希望能有所瞭解。 封裝技術在3D IC中扮演著至關重要的角色,我希望書中能詳細探討這一點。例如,TSV的製造工藝、良率控製以及其對信號完整性的影響。同時,我也對先進的封裝技術,如扇齣型封裝(Fan-out Packaging)和2.5D/3D封裝等,在3D IC集成中的應用以及它們所帶來的優勢和挑戰感興趣。 最後,我關注3D IC技術對整個半導體産業鏈的影響。這本書能否分析3D IC技術在不同應用領域,如數據中心、人工智能、5G通信和消費電子等方麵的潛在應用前景?以及它將如何推動半導體製造、設備和材料等相關産業的發展,我期待書中能有相關的市場分析和發展預測。
評分《三維集成電路設計》這本書,對我而言,不僅僅是一本技術手冊,更是一種對未來計算架構的探索。作為一名資深芯片架構師,我一直在思考如何突破現有2D芯片的瓶頸,而3D IC所帶來的顛覆性潛力,讓我倍感振奮。我希望這本書能夠從架構的層麵,深入解析3D IC的設計思想和帶來的機遇。 我尤其關注書中關於不同3D IC架構設計的權衡。例如,將邏輯、內存、I/O等不同功能模塊進行垂直集成,如何最優地分配資源,如何設計高效的片內網絡(NoC)來實現模塊間的通信,以及如何管理跨層級的時鍾和電源域。書中是否會提供具體的架構設計案例,分析不同架構在性能、功耗、麵積和成本方麵的取捨? 此外,我希望書中能深入探討3D IC在異構集成方麵的優勢。通過將不同工藝、不同材料的芯片進行集成,可以實現傳統2D技術難以企肴的功能。例如,將高性能CPU與低功耗的NPU、高速DRAM以及RF模塊等集成在一起。書中是否會介紹實現這種異構集成的關鍵技術和設計方法? 我也期待書中能對3D IC的設計驗證和測試流程進行詳細的論述。3D IC的設計復雜度遠高於2D IC,驗證的難度也隨之增加。書中是否會介紹針對3D IC特點的驗證方法學,如功能驗證、性能驗證、功耗驗證以及可靠性驗證?對於測試,如何有效地對多層堆疊的芯片進行功能和性能測試,降低測試成本,也是我非常關心的問題。 最後,我希望《三維集成電路設計》這本書能夠展望3D IC技術未來的發展方嚮。例如,在AI芯片、高性能計算、自動駕駛等前沿領域的應用前景,以及在材料、工藝、EDA工具等方麵的技術演進。這本書若能為我們提供前瞻性的洞察和戰略性的指導,將對我們未來的架構設計和技術路綫規劃具有重要的意義。
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