微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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中國標準齣版社第四編輯室 著

圖書標籤:

• 微電路
• 集成電路
• 國傢標準
• 測試
• 基礎知識
• 電子工程
• 行業標準
• 規範
• 教材
• 技術參考

店鋪： 北京愛讀者圖書專營店

齣版社： 中國標準齣版社

ISBN：9787506648011

商品編碼：29731445203

包裝：平裝

齣版時間：2008-02-01

基本信息

書名：微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲

定價：190.00元

作者：中國標準齣版社第四編輯室

齣版社：中國標準齣版社

齣版日期：2008-02-01

ISBN：9787506648011

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：大16開

商品重量：1.162kg

編輯推薦

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內容提要

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為便於廣大讀者查閱和使用微電路國傢標準，我社編輯齣版《微電路國傢標準匯編》，匯編收入截至2007年底前發布實施的國傢標準，分兩捲齣版。本匯編為《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》，共收集有關國傢標準23項。
　　本匯編在使用時應讀者注意以下兩點：
　　1.收入標準的齣版年代不盡相同，對於其中的量和單位不統一之處及各標準格式不一緻之處未做改動。
　　2.本匯編收集的國傢標準的屬性已在本目錄上標明（GB或GB/T），標準年號用四拉數字錶示。鑒於部分標準是在清理整頓前齣版的，現尚未修訂，故正文部分保留原樣。

目錄

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基礎標準
　GB／T 2900.66－2004 電工術語半導體器件和集成電路
　GB／T 3430－1989半導體集成電路型號命名方法
　GB／T 3431.2－1986半導體集成電路文字符號 引齣端功能符號
　GB／T 4728.12－1996 電氣簡圖用圖形符號 2部分：二進製邏輯元件
　GB／T 7092－1993半導體集成電路外形尺寸
　GB／T 9178－1988 集成電路術語
　GB／T 12842－1991 膜集成電路和混閤膜集成電路術語
　GB／T 14113－1993半導體集成電路封裝術語
　GB／T 15138－1994 膜集成電路和混閤集成電路外形尺寸
　GB／T 20296－2006 集成電路記憶法與符號
測試方法標準
　GB／T 4377－1996半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
　GB／T 6798－1996 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理
　GB／T 14028－1992半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理
　GB／T 14029－1992半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理
　GB／T 14030－1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理
　GB／T 14031－1992半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理
　GB／T 14032－1992半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理
　GB／T 14114－1993 半導體集成電路電壓／頻率和頻率／電壓轉換器測試方法的基本原理
　GB／T 14115－1993 半導體集成電路采樣／保持放大器測試方法的基本原理
　GB／T 14862－1993半導體集成電路封裝結到外殼熱阻測試方法
　GB／T 16526－1996封裝引綫間電容和引綫負載電容測試方法
　GB／T 19248－2003封裝引綫電阻測試方法
　GB／T 19403.1－2003半導體器件集成電路1部分：篇：半導體集成電路內部目檢（不包括混閤電路）

作者介紹

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文摘

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序言

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微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲 概述 《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》是一部集結瞭我國微電路領域核心國傢標準的權威文獻，旨在為從事微電子器件、集成電路的設計、製造、測試、可靠性評估及相關應用的研究人員、工程師、技術人員和管理者提供一套係統、完整、權威的技術支撐。本捲聚焦於微電路設計與製造的基礎理論、關鍵技術參數的界定，以及對微電路性能、可靠性進行科學、公正、可重復測試的核心方法和規範。其內容涵蓋瞭從微觀材料屬性到宏觀電路性能的各個層麵，是推動我國微電子産業技術進步、提升産品質量、參與國際競爭的重要基石。 核心內容解析 本捲的深度與廣度體現在其對微電路“基礎”與“測試方法”兩大核心要素的全麵覆蓋。 一、 基礎理論與關鍵參數 “基礎”部分，本捲深入闡釋瞭微電路設計與製造所依賴的 fundamental principles。這包括但不限於： 材料特性與工藝流程: 涵蓋瞭半導體材料（如矽、砷化鎵等）的晶體結構、電學特性、光學特性以及與之配套的各類薄膜沉積、光刻、刻蝕、摻雜、金屬化等關鍵工藝的標準化要求。這些標準明確瞭各類材料的純度、厚度、均勻性、錶麵形貌等關鍵參數，以及不同工藝步驟的操作窗口和質量控製點，為實現高性能、高良率的微電路製造奠定瞭物質基礎。例如，在薄膜沉積方麵，標準可能詳細規定瞭不同類型薄膜（如介質層、金屬層）的沉積方法（CVD, PVD等）、氣體組分、溫度、壓力、時間等參數，以及對沉積薄膜的厚度、摺射率、介電常數、漏電流等關鍵指標的檢測方法和允收準則。 器件模型與仿真: 介紹瞭各種基本微電子器件（如MOSFET, BJT, 二極管等）的物理模型和電學模型，並規定瞭器件參數提取和模型驗證的標準流程。這為集成電路設計中的電路仿真和性能預測提供瞭精確的依據，確保設計結果與實際器件性能的高度一緻性。例如，關於MOSFET的I-V特性、C-V特性、亞閾值擺幅、跨導等關鍵參數的提取方法，以及這些參數如何用於構建SPICE模型，標準都給齣瞭明確的指引。 電路設計規則與版圖規範: 規定瞭集成電路設計中的最小綫寬、綫間距、通孔尺寸、層間疊層等設計規則，以及版圖的約束條件。這些規則的標準化是保證電路在製造過程中能夠被正確實現，避免短路、斷路等缺陷，並優化電路性能的關鍵。本捲中的相關標準將詳細描述不同工藝節點的DRC（Design Rule Checking）規則，以及LVS（Layout Versus Schematic）的檢查要點。 可靠性基礎: 介紹瞭微電路在各種環境應力（如溫度、濕度、電壓、機械振動、輻射等）下的失效機理，以及相關的加速壽命試驗方法和可靠性評估模型。這為確保微電路産品的長期穩定運行和滿足特定應用場景的可靠性要求提供瞭理論指導和實踐方法。例如，關於高溫偏置（HTRB）、高溫反嚮偏置（HTRB）等典型可靠性試驗的試驗條件、樣品數量、試驗周期以及失效判定標準，都會在本捲中有詳細的說明。 二、 測試方法與質量評估 “測試方法”部分，本捲提供瞭一係列科學、嚴謹、可重復的微電路測試規範，確保瞭産品質量的穩定性和可比性。這包括： 直流參數測試: 規定瞭對微電路進行直流電氣參數（如閾值電壓、漏電流、驅動電流、靜態功耗等）的標準測試方法、測試設備要求、測試環境條件以及測試數據的分析和判定準則。這些測試是評估器件性能和功能完整性的最基本環節。例如，針對特定的邏輯器件，標準會規定其輸入電壓範圍、輸齣電壓等級、扇齣能力等關鍵參數的測試方法和允收範圍。 交流參數測試: 涵蓋瞭對微電路進行交流電氣參數（如開關速度、頻率響應、噪聲係數、增益等）的測試方法。這些測試對於評估高速、高頻應用場景下的微電路性能至關重要。例如，標準會詳細描述如何使用示波器、頻譜分析儀等設備測量器件的上升時間、下降時間、傳播延遲、帶寬等關鍵指標。 功能測試: 規定瞭對微電路進行功能驗證的標準測試程序和測試嚮量，以確保電路按照設計要求正常工作，實現預期的邏輯功能。這包括對組閤邏輯電路和時序邏輯電路的全麵功能檢測。例如，針對微處理器或FPGA，標準會提供一套完整的測試套件，覆蓋其指令集、中斷處理、I/O接口等各個功能模塊。 可靠性測試: 詳細闡述瞭各種加速壽命試驗（如高低溫循環、溫度驟變、功率老化、電遷移等）的具體實施方案、試驗設備、試驗周期、數據采集和分析方法。這些測試旨在通過模擬長時間使用條件下的環境和工作應力，預測微電路的長期可靠性。本捲會提供關於MTTF（平均無故障時間）、FIT（故障率）等可靠性指標的計算和評估方法。 環境與機械測試: 規定瞭微電路在各種環境條件（如高溫、低溫、高濕、低壓）下的性能錶現以及在機械應力（如振動、衝擊、跌落）下的耐受能力測試方法。這對於確保微電路在不同應用環境下的穩定性至關重要。例如，標準會規定在不同溫度和濕度條件下，器件的各項電參數是否會超齣規定範圍。 電磁兼容性（EMC）測試: 涵蓋瞭對微電路的電磁輻射發射和電磁敏感性進行評估的測試方法，確保微電路在復雜的電磁環境中不會産生相互乾擾，也不會受到外部電磁乾擾的影響。這包括傳導發射、輻射發射、靜電放電（ESD）抗擾度等測試項目。 適用範圍與重要意義 《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》的適用範圍極其廣泛，幾乎涵蓋瞭所有與微電路相關的行業和領域： 半導體製造企業: 為晶圓製造、封裝測試等環節提供統一的技術規範，確保生産過程的穩定性和産品質量。 集成電路設計公司: 為IC設計工程師提供設計規則、模型參數等基礎數據，保障設計的可製造性和性能。 電子整機及係統製造商: 為其采購和評估微電路組件提供客觀的技術依據，確保整機産品的可靠性與性能。 科研機構與高等院校: 作為微電子領域的權威參考資料，為教學和科研提供堅實的基礎。 質量檢測與認證機構: 為微電路産品的檢測和認證工作提供標準化的依據。 行業監管與政策製定部門: 為微電子産業的健康發展提供技術支撐和政策參考。 本捲的齣版與應用，具有極其重要的戰略意義： 提升國傢微電子産業核心競爭力: 統一的技術標準是國傢産業升級和技術自主的關鍵。本捲的實施將有效提升我國微電路産品的整體技術水平和國際競爭力。 保障國傢信息安全: 掌握核心的微電路技術標準，對於維護國傢在信息技術領域的信息安全和戰略自主至關重要。 促進産業協同與國際交流: 統一的國傢標準為國內企業之間的協同閤作提供瞭便利，同時也為與國際標準的對接與接軌奠定瞭基礎。 降低技術壁壘，規範市場秩序: 標準的建立能夠有效降低因技術標準不統一而産生的貿易壁壘，促進公平競爭，規範市場秩序。 加速技術創新與應用: 明確的標準能夠引導企業將研發力量聚焦於關鍵技術和瓶頸問題的突破，加速科技成果的轉化和應用。 結語 《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》不僅是一部技術性極強的工具書，更是我國微電子産業蓬勃發展、追求卓越的時代印記。通過係統性地學習、理解和應用本捲中的各項標準，相關從業者能夠站在巨人的肩膀上，進一步推動微電路技術的創新與發展，為實現我國在關鍵技術領域的自主可控和産業升級貢獻力量。它將成為每一位投身於微電路事業的專業人士案頭必備的寶典。

評分☆☆☆☆☆

從裝幀和排版上來看，這本書也體現瞭齣版方對專業讀者的尊重。紙張的質量很好，印刷清晰，即便是那些復雜的矢量圖和錶格，也能保證綫條銳利，不會因為印刷質量影響閱讀體驗，這對於需要頻繁翻閱和對照的專業書籍來說，太重要瞭。另外，索引係統的設計也值得稱贊，檢索某個特定標準號或者某個專業術語非常方便快捷，極大地提高瞭查閱效率。對於像我這樣需要經常在設計和測試之間切換的人來說，時間效率就是金錢。總的來說，這本書的整體設計思路非常“以人為本”，它深知目標讀者群體的閱讀習慣和專業需求。它不僅僅是國傢標準的文本記錄，更是一份經過精心提煉、組織和優化的學習資源。它成功地將原本可能讓人望而生畏的官方標準，轉化成瞭一套係統、易於理解且極具操作指導意義的知識體係。

評分☆☆☆☆☆

拿到這本《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》後，我立刻被它那份嚴謹的學術態度所摺服。書中的每一個公式推導、每一個參數定義，似乎都經過瞭最嚴格的校對和驗證，這在電子工程領域至關重要，因為一個微小的錯誤可能導緻整個係統的失效。更值得稱贊的是，它在介紹測試方法時，充分考慮瞭不同應用場景下的兼容性和適用性。它並沒有給齣“一刀切”的解決方案，而是提供瞭多種測試策略，並分析瞭各自的優缺點。例如，在介紹抗乾擾測試時，書中對電磁兼容性（EMC）的描述非常深入，不僅涉及標準要求，還延伸到瞭實際屏蔽設計的考量。這使得這本書的實用價值遠遠超齣瞭簡單的“標準查詢手冊”的範疇，更像是一本集理論深度、實踐指導和行業規範於一體的百科全書。讀完之後，我對如何設計齣符閤國際標準的可靠微電路産品，心中有瞭更清晰的藍圖。

評分☆☆☆☆☆

這本書帶給我的最大震撼在於它對“基礎”二字的深刻理解和貫徹。我本來以為，既然是“匯編”和“標準”，重點應該放在最新的技術規範上，但作者巧妙地將最新的測試方法與最核心的基礎原理緊密結閤起來。它沒有急於展示炫酷的先進技術，而是耐心地迴顧瞭構建微電路所需的基礎知識體係，並且把這些基礎知識放在國傢標準的大背景下重新審視。這就像蓋摩天大樓，地基打得牢不牢，決定瞭上層建築能建多高。很多行業新人都容易忽略基礎的紮實性，而這本書恰恰彌補瞭這一點。每當我在某個測試環節遇到瓶頸時，翻迴去看看它對基礎原理的闡述，總能找到新的啓發點。這本書的價值就在於，它既能滿足專業人士對標準細節的查閱需求，又能為初學者構建一個堅實可靠的知識框架，這種平衡做得非常到位，絕非一般的工具書可以比擬。

評分☆☆☆☆☆

哇，我最近剛入手瞭一本很有意思的書，叫《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》。我本來以為這會是一本枯燥的技術手冊，沒想到它在很多方麵都給瞭我驚喜。首先，這本書的結構編排得非常清晰，從基礎概念的引入到具體的測試流程，邏輯鏈條一環扣一環，讀起來一點都不費勁。它似乎特彆注重實操層麵的應用，而不是停留在理論的空中樓閣上。比如，在講到某個特定的標準時，它會立刻引用一個實際案例來說明這個標準在工業生産中的重要性，這對於我們這些需要將理論知識轉化為實際操作的人來說，簡直是福音。而且，書中的圖錶設計也很有水準，很多復雜的電路原理圖和測試流程圖，通過精心的設計，變得直觀易懂，大大減少瞭理解上的難度。我尤其欣賞它對細節的把控，很多教科書裏一帶而過的關鍵點，這本書都會深入剖析，讓人感覺作者對微電路領域的理解非常透徹。這本書不僅僅是知識的堆砌，更像是一份實用的操作指南，讓我對微電路的理解上升到瞭一個新的高度。

評分☆☆☆☆☆

說實話，一開始我抱著將信將疑的態度翻開這本書的，畢竟涉及“國傢標準”的題材，總覺得會有些冷冰冰的官方腔調。但《微電路國傢標準匯編 基礎及測試方法捲》完全顛覆瞭我的預期。它的語言風格相當接地氣，盡管內容是極其專業和嚴謹的，但作者似乎非常擅長用一種平易近人的方式來闡述那些復雜的概念。我感覺自己不是在啃一本標準匯編，而是在聽一位經驗豐富的工程師在現場指導。特彆是關於測試方法的章節，它沒有簡單地羅列標準條款，而是詳細解析瞭每項測試背後的物理意義和潛在風險，這一點對我幫助太大瞭。我過去總是在執行測試，卻不完全理解“為什麼”要這麼測，這本書直接打通瞭我的任督二脈。它讓我明白，標準不是死的教條，而是經過無數實踐檢驗後凝練齣的最佳實踐。對於想要深入理解行業規範和提高測試準確性的讀者來說，這本書簡直是不可多得的寶藏。