微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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中国标准出版社第四编辑室 著

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店铺： 北京爱读者图书专营店

出版社： 中国标准出版社

ISBN：9787506648011

商品编码：29731445203

包装：平装

出版时间：2008-02-01

基本信息

书名：微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷

定价：190.00元

作者：中国标准出版社第四编辑室

出版社：中国标准出版社

出版日期：2008-02-01

ISBN：9787506648011

字数：

页码：

版次：1

装帧：平装

开本：大16开

商品重量：1.162kg

编辑推荐

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内容提要

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为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准，我社编辑出版《微电路国家标准汇编》，汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准，分两卷出版。本汇编为《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》，共收集有关国家标准23项。
　　本汇编在使用时应读者注意以下两点：
　　1.收入标准的出版年代不尽相同，对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。
　　2.本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明（GB或GB/T），标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的，现尚未修订，故正文部分保留原样。

目录

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基础标准
　GB／T 2900.66－2004 电工术语半导体器件和集成电路
　GB／T 3430－1989半导体集成电路型号命名方法
　GB／T 3431.2－1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
　GB／T 4728.12－1996 电气简图用图形符号 2部分：二进制逻辑元件
　GB／T 7092－1993半导体集成电路外形尺寸
　GB／T 9178－1988 集成电路术语
　GB／T 12842－1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
　GB／T 14113－1993半导体集成电路封装术语
　GB／T 15138－1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
　GB／T 20296－2006 集成电路记忆法与符号
测试方法标准
　GB／T 4377－1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
　GB／T 6798－1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
　GB／T 14028－1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
　GB／T 14029－1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
　GB／T 14030－1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
　GB／T 14031－1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
　GB／T 14032－1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
　GB／T 14114－1993 半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器测试方法的基本原理
　GB／T 14115－1993 半导体集成电路采样／保持放大器测试方法的基本原理
　GB／T 14862－1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
　GB／T 16526－1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
　GB／T 19248－2003封装引线电阻测试方法
　GB／T 19403.1－2003半导体器件集成电路1部分：篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）

作者介绍

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文摘

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序言

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微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷 概述 《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》是一部集结了我国微电路领域核心国家标准的权威文献，旨在为从事微电子器件、集成电路的设计、制造、测试、可靠性评估及相关应用的研究人员、工程师、技术人员和管理者提供一套系统、完整、权威的技术支撑。本卷聚焦于微电路设计与制造的基础理论、关键技术参数的界定，以及对微电路性能、可靠性进行科学、公正、可重复测试的核心方法和规范。其内容涵盖了从微观材料属性到宏观电路性能的各个层面，是推动我国微电子产业技术进步、提升产品质量、参与国际竞争的重要基石。 核心内容解析 本卷的深度与广度体现在其对微电路“基础”与“测试方法”两大核心要素的全面覆盖。 一、 基础理论与关键参数 “基础”部分，本卷深入阐释了微电路设计与制造所依赖的 fundamental principles。这包括但不限于： 材料特性与工艺流程: 涵盖了半导体材料（如硅、砷化镓等）的晶体结构、电学特性、光学特性以及与之配套的各类薄膜沉积、光刻、刻蚀、掺杂、金属化等关键工艺的标准化要求。这些标准明确了各类材料的纯度、厚度、均匀性、表面形貌等关键参数，以及不同工艺步骤的操作窗口和质量控制点，为实现高性能、高良率的微电路制造奠定了物质基础。例如，在薄膜沉积方面，标准可能详细规定了不同类型薄膜（如介质层、金属层）的沉积方法（CVD, PVD等）、气体组分、温度、压力、时间等参数，以及对沉积薄膜的厚度、折射率、介电常数、漏电流等关键指标的检测方法和允收准则。 器件模型与仿真: 介绍了各种基本微电子器件（如MOSFET, BJT, 二极管等）的物理模型和电学模型，并规定了器件参数提取和模型验证的标准流程。这为集成电路设计中的电路仿真和性能预测提供了精确的依据，确保设计结果与实际器件性能的高度一致性。例如，关于MOSFET的I-V特性、C-V特性、亚阈值摆幅、跨导等关键参数的提取方法，以及这些参数如何用于构建SPICE模型，标准都给出了明确的指引。 电路设计规则与版图规范: 规定了集成电路设计中的最小线宽、线间距、通孔尺寸、层间叠层等设计规则，以及版图的约束条件。这些规则的标准化是保证电路在制造过程中能够被正确实现，避免短路、断路等缺陷，并优化电路性能的关键。本卷中的相关标准将详细描述不同工艺节点的DRC（Design Rule Checking）规则，以及LVS（Layout Versus Schematic）的检查要点。 可靠性基础: 介绍了微电路在各种环境应力（如温度、湿度、电压、机械振动、辐射等）下的失效机理，以及相关的加速寿命试验方法和可靠性评估模型。这为确保微电路产品的长期稳定运行和满足特定应用场景的可靠性要求提供了理论指导和实践方法。例如，关于高温偏置（HTRB）、高温反向偏置（HTRB）等典型可靠性试验的试验条件、样品数量、试验周期以及失效判定标准，都会在本卷中有详细的说明。 二、 测试方法与质量评估 “测试方法”部分，本卷提供了一系列科学、严谨、可重复的微电路测试规范，确保了产品质量的稳定性和可比性。这包括： 直流参数测试: 规定了对微电路进行直流电气参数（如阈值电压、漏电流、驱动电流、静态功耗等）的标准测试方法、测试设备要求、测试环境条件以及测试数据的分析和判定准则。这些测试是评估器件性能和功能完整性的最基本环节。例如，针对特定的逻辑器件，标准会规定其输入电压范围、输出电压等级、扇出能力等关键参数的测试方法和允收范围。 交流参数测试: 涵盖了对微电路进行交流电气参数（如开关速度、频率响应、噪声系数、增益等）的测试方法。这些测试对于评估高速、高频应用场景下的微电路性能至关重要。例如，标准会详细描述如何使用示波器、频谱分析仪等设备测量器件的上升时间、下降时间、传播延迟、带宽等关键指标。 功能测试: 规定了对微电路进行功能验证的标准测试程序和测试向量，以确保电路按照设计要求正常工作，实现预期的逻辑功能。这包括对组合逻辑电路和时序逻辑电路的全面功能检测。例如，针对微处理器或FPGA，标准会提供一套完整的测试套件，覆盖其指令集、中断处理、I/O接口等各个功能模块。 可靠性测试: 详细阐述了各种加速寿命试验（如高低温循环、温度骤变、功率老化、电迁移等）的具体实施方案、试验设备、试验周期、数据采集和分析方法。这些测试旨在通过模拟长时间使用条件下的环境和工作应力，预测微电路的长期可靠性。本卷会提供关于MTTF（平均无故障时间）、FIT（故障率）等可靠性指标的计算和评估方法。 环境与机械测试: 规定了微电路在各种环境条件（如高温、低温、高湿、低压）下的性能表现以及在机械应力（如振动、冲击、跌落）下的耐受能力测试方法。这对于确保微电路在不同应用环境下的稳定性至关重要。例如，标准会规定在不同温度和湿度条件下，器件的各项电参数是否会超出规定范围。 电磁兼容性（EMC）测试: 涵盖了对微电路的电磁辐射发射和电磁敏感性进行评估的测试方法，确保微电路在复杂的电磁环境中不会产生相互干扰，也不会受到外部电磁干扰的影响。这包括传导发射、辐射发射、静电放电（ESD）抗扰度等测试项目。 适用范围与重要意义 《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》的适用范围极其广泛，几乎涵盖了所有与微电路相关的行业和领域： 半导体制造企业: 为晶圆制造、封装测试等环节提供统一的技术规范，确保生产过程的稳定性和产品质量。 集成电路设计公司: 为IC设计工程师提供设计规则、模型参数等基础数据，保障设计的可制造性和性能。 电子整机及系统制造商: 为其采购和评估微电路组件提供客观的技术依据，确保整机产品的可靠性与性能。 科研机构与高等院校: 作为微电子领域的权威参考资料，为教学和科研提供坚实的基础。 质量检测与认证机构: 为微电路产品的检测和认证工作提供标准化的依据。 行业监管与政策制定部门: 为微电子产业的健康发展提供技术支撑和政策参考。 本卷的出版与应用，具有极其重要的战略意义： 提升国家微电子产业核心竞争力: 统一的技术标准是国家产业升级和技术自主的关键。本卷的实施将有效提升我国微电路产品的整体技术水平和国际竞争力。 保障国家信息安全: 掌握核心的微电路技术标准，对于维护国家在信息技术领域的信息安全和战略自主至关重要。 促进产业协同与国际交流: 统一的国家标准为国内企业之间的协同合作提供了便利，同时也为与国际标准的对接与接轨奠定了基础。 降低技术壁垒，规范市场秩序: 标准的建立能够有效降低因技术标准不统一而产生的贸易壁垒，促进公平竞争，规范市场秩序。 加速技术创新与应用: 明确的标准能够引导企业将研发力量聚焦于关键技术和瓶颈问题的突破，加速科技成果的转化和应用。 结语 《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》不仅是一部技术性极强的工具书，更是我国微电子产业蓬勃发展、追求卓越的时代印记。通过系统性地学习、理解和应用本卷中的各项标准，相关从业者能够站在巨人的肩膀上，进一步推动微电路技术的创新与发展，为实现我国在关键技术领域的自主可控和产业升级贡献力量。它将成为每一位投身于微电路事业的专业人士案头必备的宝典。

评分☆☆☆☆☆

这本书带给我的最大震撼在于它对“基础”二字的深刻理解和贯彻。我本来以为，既然是“汇编”和“标准”，重点应该放在最新的技术规范上，但作者巧妙地将最新的测试方法与最核心的基础原理紧密结合起来。它没有急于展示炫酷的先进技术，而是耐心地回顾了构建微电路所需的基础知识体系，并且把这些基础知识放在国家标准的大背景下重新审视。这就像盖摩天大楼，地基打得牢不牢，决定了上层建筑能建多高。很多行业新人都容易忽略基础的扎实性，而这本书恰恰弥补了这一点。每当我在某个测试环节遇到瓶颈时，翻回去看看它对基础原理的阐述，总能找到新的启发点。这本书的价值就在于，它既能满足专业人士对标准细节的查阅需求，又能为初学者构建一个坚实可靠的知识框架，这种平衡做得非常到位，绝非一般的工具书可以比拟。

评分☆☆☆☆☆

从装帧和排版上来看，这本书也体现了出版方对专业读者的尊重。纸张的质量很好，印刷清晰，即便是那些复杂的矢量图和表格，也能保证线条锐利，不会因为印刷质量影响阅读体验，这对于需要频繁翻阅和对照的专业书籍来说，太重要了。另外，索引系统的设计也值得称赞，检索某个特定标准号或者某个专业术语非常方便快捷，极大地提高了查阅效率。对于像我这样需要经常在设计和测试之间切换的人来说，时间效率就是金钱。总的来说，这本书的整体设计思路非常“以人为本”，它深知目标读者群体的阅读习惯和专业需求。它不仅仅是国家标准的文本记录，更是一份经过精心提炼、组织和优化的学习资源。它成功地将原本可能让人望而生畏的官方标准，转化成了一套系统、易于理解且极具操作指导意义的知识体系。

评分☆☆☆☆☆

说实话，一开始我抱着将信将疑的态度翻开这本书的，毕竟涉及“国家标准”的题材，总觉得会有些冷冰冰的官方腔调。但《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》完全颠覆了我的预期。它的语言风格相当接地气，尽管内容是极其专业和严谨的，但作者似乎非常擅长用一种平易近人的方式来阐述那些复杂的概念。我感觉自己不是在啃一本标准汇编，而是在听一位经验丰富的工程师在现场指导。特别是关于测试方法的章节，它没有简单地罗列标准条款，而是详细解析了每项测试背后的物理意义和潜在风险，这一点对我帮助太大了。我过去总是在执行测试，却不完全理解“为什么”要这么测，这本书直接打通了我的任督二脉。它让我明白，标准不是死的教条，而是经过无数实践检验后凝练出的最佳实践。对于想要深入理解行业规范和提高测试准确性的读者来说，这本书简直是不可多得的宝藏。

评分☆☆☆☆☆

拿到这本《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》后，我立刻被它那份严谨的学术态度所折服。书中的每一个公式推导、每一个参数定义，似乎都经过了最严格的校对和验证，这在电子工程领域至关重要，因为一个微小的错误可能导致整个系统的失效。更值得称赞的是，它在介绍测试方法时，充分考虑了不同应用场景下的兼容性和适用性。它并没有给出“一刀切”的解决方案，而是提供了多种测试策略，并分析了各自的优缺点。例如，在介绍抗干扰测试时，书中对电磁兼容性（EMC）的描述非常深入，不仅涉及标准要求，还延伸到了实际屏蔽设计的考量。这使得这本书的实用价值远远超出了简单的“标准查询手册”的范畴，更像是一本集理论深度、实践指导和行业规范于一体的百科全书。读完之后，我对如何设计出符合国际标准的可靠微电路产品，心中有了更清晰的蓝图。

评分☆☆☆☆☆

哇，我最近刚入手了一本很有意思的书，叫《微电路国家标准汇编 基础及测试方法卷》。我本来以为这会是一本枯燥的技术手册，没想到它在很多方面都给了我惊喜。首先，这本书的结构编排得非常清晰，从基础概念的引入到具体的测试流程，逻辑链条一环扣一环，读起来一点都不费劲。它似乎特别注重实操层面的应用，而不是停留在理论的空中楼阁上。比如，在讲到某个特定的标准时，它会立刻引用一个实际案例来说明这个标准在工业生产中的重要性，这对于我们这些需要将理论知识转化为实际操作的人来说，简直是福音。而且，书中的图表设计也很有水准，很多复杂的电路原理图和测试流程图，通过精心的设计，变得直观易懂，大大减少了理解上的难度。我尤其欣赏它对细节的把控，很多教科书里一带而过的关键点，这本书都会深入剖析，让人感觉作者对微电路领域的理解非常透彻。这本书不仅仅是知识的堆砌，更像是一份实用的操作指南，让我对微电路的理解上升到了一个新的高度。