书名:电子元器件识别与检测完全掌握
定价:48.00元
售价:35.0元,便宜13.0元,折扣72
作者:孙立群
出版社:化学工业出版社
出版日期:2014-07-01
ISBN:9787122202611
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
本书根据电子元器件的特点,循序渐进地讲解了各种电子元器件的识别与检测方法。为了让内容更加贴近工作,书中采用了大量的实物照片,真实展现了典型的电子元器件的识别与检测方法、更换技巧等知识,具有很强的实用性和可操作性。
本书语言通俗、图文并茂、内容由浅入深,引导读者轻松入门并快速掌握电子元器件的识别与检测。
本书可供电子行业技术人员、电子爱好者及家电维修人员学习使用,也可作为职业类学校相关专业的参考教材。
这本书的叙事风格和知识的组织逻辑,体现出作者深厚的行业积累和严谨的治学态度。它并没有采用那种教科书式的枯燥说教,而是大量采用了案例驱动和对比分析的写法。例如,在讲解功率半导体时,它将MOSFET与IGBT的开关特性、热管理难点做了横向对比,并结合实际的电源拓扑结构,说明为什么在某些场景下必须选择其中之一。这种“知其然必知其所以然”的讲解方式,极大地增强了读者的理解深度。我发现,很多技术细节的阐述,比如阻抗匹配、去耦电容的选择,书中都给出了非常清晰的量化指标和设计准则,而不是空泛的“尽可能使用高质量元件”。这对于正在进行产品设计,需要进行参数选型和成本控制的工程师来说,提供了非常有力的技术支撑。此外,书中对一些新兴或小众元器件的介绍,如MEMS传感器、磁珠的正确使用方法,也保持了较高的前瞻性,避免了内容过时的问题。可以说,这本书的编写思路非常贴近工程实践中的真实需求,真正做到了理论指导实践,而不是理论脱离实际。
评分这本《电子元器件识别与检测完全掌握》的装帧设计得非常扎实,拿在手里能感受到那种专业书籍的质感。初翻几页,我就被它清晰的图文排版吸引了。很多专业书籍往往为了追求信息量而牺牲了阅读体验,但这本却做得相当平衡。它在介绍基础元器件时,几乎每一种都配有高清的实物照片和清晰的电路符号图,这对于我们这些刚入门或者需要快速复习的工程师来说,简直是福音。我特别欣赏它在讲解电阻、电容、电感这些“基础中的基础”时,并没有敷衍了事,而是深入到了不同封装类型、不同介质材料的特性差异,这对于理解元器件在不同电路中的适用性至关重要。比如说,对于MLCC(多层陶瓷电容器)的讲解,它不仅展示了贴片的外形,还细致地标注了不同容值和耐压等级的代码解读方式,这一点在实际维修和选型中经常让人头疼。而且,书中对一些不常见但关键的元器件,如霍尔元件、光耦隔离器等,也给出了详尽的参数对比和应用场景分析,让读者对整个电子元器件的“大家族”有一个全面且立体的认知。这种细致入微的处理方式,使得这本书不仅仅是一本工具书,更像是一本可以伴随职业生涯成长的参考手册,每次拿起都能发现新的细节和知识点。
评分阅读体验方面,不得不提一下这本书的索引和目录设计。对于一本涵盖如此庞大信息量的工具书而言,清晰的导航系统是至关重要的。这本书的目录结构层级分明,主干清晰,而且在关键知识点处设置了大量的交叉引用标记。比如,当你阅读到某个特定类型的电感器时,书中会明确提示你在“磁性元件的饱和特性”一章中可以找到更深入的解释。这种网状的知识连接,使得读者可以根据自己的兴趣点和当前任务,灵活地在不同章节间跳转,构建个性化的学习路径。更重要的是,作者在书中穿插了一些行业内的“小贴士”或“经验之谈”,这些内容往往不是标准教材会包含的,却是经验丰富的老工程师才会知道的“窍门”。这些经验性的总结,比如如何处理高温环境下的漏电问题,或者特定批次元件可能存在的潜在缺陷,极大地提升了本书的实用价值和可读性。它不像一本冰冷的参考书,更像是一位资深前辈在你身边,随时为你解答疑惑,分享他的独到见解。
评分从长期价值的角度来看,《电子元器件识别与检测完全掌握》的价值远超其定价。它提供了一个非常坚实和全面的基础知识框架,这意味着无论未来电子技术如何迭代,基础元器件的物理特性和基本的检测逻辑是不会轻易改变的。这本书成功地将大量的分散知识点进行了系统性的整合和提炼,避免了读者在网上零散搜索信息的低效过程。特别是它对标准件的识别代码和国际认证标志的汇总部分,简直就是一份宝贵的速查表。我对比了市面上几本同类型的书籍,这本书在“检测标准”和“常见缺陷案例”的深度上明显占优。它不仅仅告诉你“这是什么”,更重要的是告诉你“它应该是什么样”,以及“当它不是那样时,下一步该怎么做”。这种面向解决问题的结构,使得它在我的工作台上占据了一个非常重要的位置,成为了我快速定位和验证元器件状态的首选参考资料,大大提高了我的工作效率和对元器件的掌控感。
评分说实话,我买这本书的时候,最期待的是关于“检测”部分的实操指导。现在的很多资料,要么只讲理论,要么就是简单罗列几个万用表的档位设置,缺乏实战指导。然而,这本书在检测环节的处理方式,完全超出了我的预期。它没有停留在传统的万用表测量层面,而是将现代化的检测手段融入了进去。例如,在晶体管的测试章节,它详细图解了如何使用示波器区分NPN和PNP,以及如何通过波形观察判断三极管是否存在高频响应问题。更让我眼前一亮的是,它专门开辟了一块内容讲解了“失效分析”的初步思路。比如,电解电容鼓包、氧化皮、贴片元件虚焊的肉眼识别标准,甚至还配上了不同程度损坏的对比图,这对于故障排查效率的提升是立竿见影的。我记得有一次在抢修一个老旧设备时,就是因为对某个特定滤波器的失效特征不敏感而浪费了大量时间。如果当时手边有这本书的“疑难杂症”章节,我相信过程会顺利得多。这种从“识别”到“验证”,再到“故障判断”的完整逻辑链条构建,是这本书最核心的价值所在,它真正地教会了读者如何“看透”元器件的健康状况。
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