發表於2024-12-01
書名:數字集成電路測試優化
定價:58.00元
售價:39.4元,便宜18.6元,摺扣67
作者:李曉維
齣版社:科學齣版社
齣版日期:2010-06-01
ISBN:9787030278944
字數:
頁碼:
版次:1
裝幀:精裝
開本:16開
商品重量:0.740kg
本書內容涉及數字集成電路測試優化的三個主要方麵:測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理,激勵壓縮的有效方法,測試響應壓縮方法和電路結構;測試功耗優化的基本原理,靜態測試功耗優化方法,動態測試功耗優化;測試壓縮與測試功耗協同優化方法;測試壓縮與測試調度協同優化方法;並以國産64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹瞭相關成果的應用。
全書闡述瞭作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論,對緻力於數字集成電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值,也可用作集成電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。
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