X射綫衍射測試分析基礎教程 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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徐勇，範小紅 編

圖書標籤:

• X射綫衍射
• XRD
• 晶體學
• 材料分析
• 結構分析
• 粉末衍射
• 單晶衍射
• 衍射測試
• 材料科學
• 分析測試

齣版社： 化學工業齣版社

ISBN：9787122185501

版次：1

商品編碼：11385059

包裝：平裝

叢書名： "十二五"普通高等教育本科規劃教材

開本：16開

齣版時間：2014-01-01

用紙：膠版紙

頁數：173

正文語種：中文

內容簡介

　　《X射綫衍射測試分析基礎教程》在簡單介紹X射綫衍射分析原理的基礎上，重點介紹X射綫衍射分析法在材料研究方麵的應用。主要包括晶體學基礎與X射綫運動學衍射原理；現代X射綫衍射儀測試原理；X射綫衍射儀測量方法與分析技術；X射綫衍射譜綫分析與應用；X射綫衍射物相分析；晶體點陣常數精確測定；宏觀內應力測定；織構測定與單晶定嚮；Rietveld方法簡介。
　　《X射綫衍射測試分析基礎教程》可作為高等學校化工、材料類專業有關“測試方法”、“材料結構”課程本科生、研究生的教學用書，也可作為相關科研工作者及廠礦技術人員的參考書。

作者簡介

    徐勇，山東建築大學，副教授，2005~2010年就讀於北京科技大學新金屬材料國傢重點實驗室博士，師從陳國良院士，負責X射綫衍射儀的維護與操作，並參與瞭非晶體材料國傢自然科學基金課題組（項目號50901006）；



    2010年進入山東建築大學材料科學與工程學院工作，承擔大型儀器的教學科研任務，並負責新型X射綫衍射設備的維護和操作至今；



    2011年獲得國傢自然科學基金（項目號51101093）的資助，進行閤金材料的衍射結構研究；



    2012年成為山東省復閤材料學會的理事，以及金屬基復閤材料專業委員會委員；

目錄

第1章 緒論
1.1 衍射技術發展曆史與現狀
1.2 衍射技術應用概述
1.2.1 粉末照相法
1.2.2 多晶衍射儀法
1.2.3 同步輻射技術

第2章 晶體學基礎與X射綫運動學衍射原理
2.1 晶體結構與磁結構
2.1.1 晶體結構類型
2.1.2 周期性和點陣空間
2.1.3 點對稱
2.1.4 點群
2.1.5 磁結構和磁對稱
2.2 X射綫衍射原理
2.2.1 倒易點陣
2.2.2 晶體的極射赤麵投影
2.2.3 衍射幾何理論
2.2.4 單個晶胞散射和理想晶體散射
2.2.5 單個理想小晶體的散射強度
2.2.6 多晶體衍射
2.3 X射綫衍射係統消光規律
2.3.1 晶體結構的消光規律
2.3.2 係統消光與點陣類型和對稱性關係
2.3.3 衍射指數指標化

第3章 現代X射綫衍射儀測試原理
3.1 射綫源
3.1.1 普通X射綫源
3.1.2 同步輻射光源
3.2 測角儀
3.2.1 測角儀結構及布拉格·膊悸姿·諾聚焦原理
3.2.2 狹縫係統及幾何光學
3.2.3 測角儀的調整
3.3 探測器
3.3.1 正比計數器
3.3.2 位置靈敏計數器
3.3.3 平麵位敏計數器
3.3.4 閃爍計數器
3.3.5 Si（Li）半導體固態探測器
3.3.6 前置放大器和主放大器及脈衝成形器
3.3.7 單道脈衝分析器
3.3.8 多道脈衝分析器
3.3.9 定標器
3.3.1 0速率計（計數率計）
3.3.1 1探測器掃測方式及參數
3.3.1 2X射綫衍射能量色散測量
3.4 單色器
3.4.1 單色器的原理
3.4.2 晶體單色器的作用
3.4.3 石墨晶體單色器
3.5 濾色片
3.6 發散狹縫與接收狹縫
3.7 衍射光路

第4章 X射綫衍射儀測量方法與分析技術
4.1 樣品製備
4.1.1 粉末粒度要求
4.1.2 樣品試片平麵的準備
4.1.3 樣品試片的厚度
4.1.4 樣品製備要求
4.1.5 製樣技巧
4.2 參數選擇方法
4.2.1 衍射參數
4.2.2 衍射參數選擇
4.3 數據采集
4.3.1 軟件設置
4.3.2 數據格式
4.3.3 誤差分析
4.4 軟件操作與應用
4.4.1 X射綫衍射的一般實驗過程
4.4.2 BrukerD8Advance係列詳細參數指標
4.4.3 粉末衍射儀操作步驟

第5章 X射綫衍射譜綫分析與應用
5.1 X射綫衍射寬化效應
5.1.1 晶粒度引起的寬化效應
5.1.2 微觀應力（應變）引起的寬化效應
5.1.3 堆垛層錯引起的寬化效應
5.2 微晶·參⒂αα街乜砘·效應的分離
5.2.1 近似函數法和最小二乘方法
5.2.2 方差分解法
5.2.3 傅裏葉級數分離法
5.3 晶粒尺寸及統計分布
5.4 應用實例
5.4.1 納米NiO的微結構分析
5.4.2 六方β.Ni（OH）2中的微結構
5.5 實驗指導：微觀應力與亞晶尺寸的測量
5.5.1 實驗目的
5.5.2 實驗原理
5.5.3 實驗方法與實例

第6章 X射綫衍射物相分析
6.1 定性分析
6.1.1 物相定性分析的理論基礎
6.1.2 粉末衍射卡（PDF）
6.1.3 粉末衍射卡索引
6.1.4 定性分析的方法及步驟
6.2 定量分析
6.2.1 理論基礎
6.2.2 分析方法
6.2.3 存在的問題
6.3 實驗指導：物相定性分析和定量分析
6.3.1 物相定性分析
6.3.2 物相定量分析

第7章 晶體點陣常數精確測定
7.1 基本原理
7.2 初始點陣參數的獲得
7.3 點陣常數測定誤差來源
7.3.1 德拜法中的係統誤差
7.3.2 衍射儀中的係統誤差
7.4 精確測定點陣常數的方法
7.4.1 定峰方法
7.4.2 圖解外推法
7.4.3 最小二乘方法
7.4.4 標準樣校正法
7.5 點陣常數精確測定
7.5.1 測角儀固有誤差
7.5.2 測角儀零位麵的調整誤差
7.5.3 試樣錶麵偏軸誤差
7.5.4 試樣平麵性誤差，光束水平與軸嚮發散誤差
7.5.5 試樣透明度誤差
7.5.6 測量記錄綫路滯後、波動導緻的誤差
7.5.7 波長非單色化及色散的影響
7.5.8 波長數值的影響
7.5.9 羅倫茲?財?振因子影響
7.5.1 0溫度誤差
7.5.1 1摺射誤差
7.5.1 2其他誤差
7.6 實際應用
7.6.1 閤金固溶體中溶質元素固溶極限的測定
7.6.2 鋼中馬氏體和奧氏體的碳含量測定
7.6.3 單晶樣品點陣常數的測定
7.7 實驗指導：點陣常數的精確測量
7.7.1 實驗目的
7.7.2 實驗原理
7.7.3 實驗方法與實例

第8章 宏觀內應力測定
8.1 基本原理
8.1.1 應力的分類及其X射綫衍射效應
8.1.2 單軸應力測定的原理和方法
8.1.3 平麵宏觀應力的測定原理
8.2 測定與數據處理方法
8.2.1 平麵宏觀應力的測定方法
8.2.2 應力測定的數據處理方法
8.2.3 三維應力及薄膜應力測量
8.3 實驗指導：宏觀內應力（錶麵殘餘應力）的測量
8.3.1 實驗目的
8.3.2 實驗原理
8.3.3 實驗方法與實例

第9章 織構測定
9.1 織構分類與錶徵
9.1.1 織構的分類
9.1.2 織構的錶徵方法
9.2 極圖與反極圖的測定分析
9.2.1 極圖的測定分析
9.2.2 反極圖的測定分析
9.3 取嚮分布函數
9.4 實驗指導：織構的測定
9.4.1 實驗目的
9.4.2 實驗原理
9.4.3 實驗方法與實例

第10章 Rietveld結構精修
10.1 發展曆程
10.2 基本原理
10.2.1 峰位計算
10.2.2 結構因子和強度分布
10.2.3 整體衍射譜計算
10.2.4 最小二乘法擬閤
10.2.5 擬閤誤差判彆
10.3 測試方法
10.4 分析應用
10.4.1 從頭計算晶體結構
10.4.2 X射綫物相分析
10.4.3 測定晶粒大小和微應變

附錄
附錄1 常用射綫管K係輻射波長以及相關工作參數
附錄2 質量吸收係數（μm=μl/ρ）（單位為cm2/g）
附錄3 原子散射因子（Cromer解析式）
附錄4 德拜溫度Θ
附錄5 德拜函數［（.（x）/x+1/4］
參考文獻

前言/序言

探索物質世界的隱秘語言：X射綫衍射原理與應用 物質世界，從微觀的原子排列到宏觀的晶體結構，都隱藏著無數奧秘。理解這些奧秘，不僅是揭示材料性質、研發新技術的關鍵，更是推動科學進步的基石。而X射綫衍射（XRD），作為一種強大而精確的無損檢測手段，如同開啓物質內部隱藏結構的一把鑰匙，讓我們得以窺探原子尺度下的秩序與規律。本書並非是關於X射綫衍射測試分析的具體操作指南，而是著眼於更深層次的原理探究與應用洞察，旨在為讀者構建一個堅實的理論框架，從而更深刻地理解XRD的“為何”與“如何”。 一、 X射綫的本質與相互作用：開啓洞察之門 要理解X射綫衍射，首先需要深入瞭解X射綫的本質。X射綫並非尋常的光，它是一種高能量的電磁波，其波長介於紫外綫和伽馬射綫之間，通常在0.01納米到10納米的範圍內。這種極短的波長，恰好與晶體材料中原子間的平均距離（約0.1-0.5納米）處於同一量級，這是X射綫衍射現象得以産生的關鍵前提。本書將詳細闡述X射綫的産生原理，從電子槍發射電子轟擊靶材，到靶材受激發射齣特徵X射綫，再到X射綫通過濾片和準直係統形成單色、定嚮的X射綫束。我們將深入探討X射綫的波粒二象性，理解其作為一種能量的傳播形式，如何在與物質相互作用時錶現齣衍射的特性。 X射綫與物質的相互作用是衍射現象發生的物理基礎。當X射綫束照射到晶體材料上時，材料中的電子會受到電磁場的影響而發生振動，並以電磁波的形式嚮外散射。在晶體內部，原子並非雜亂無章地堆積，而是按照特定的晶格結構周期性排列。這種周期性的排列導緻瞭散射波之間會發生相乾疊加。在某些特定的方嚮上，散射波會同相疊加，形成增強的衍射峰；而在其他方嚮上，散射波會異相抵消，錶現為衍射峰的缺失。本書將深入講解X射綫與電子的相互作用機製，如瑞利散射，並重點闡述晶體結構對X射綫散射行為的決定性影響。我們將詳細解釋，為何晶體中的原子排列是産生衍射的關鍵，以及非晶態材料與晶態材料在X射綫衍射行為上的根本區彆。 二、 布拉格定律：衍射現象的數學語言 理解X射綫衍射的核心，離不開對布拉格定律的深刻理解。布拉格定律（Bragg's Law）是描述X射綫衍射現象最基本、最核心的數學公式。它以簡潔優美的形式，定量地解釋瞭為什麼在特定角度下會觀察到強烈的衍射峰。本書將詳細推導布拉格定律，從惠更斯原理齣發，考慮從不同晶麵衍射齣的X射綫之間的相位差。我們將明確定義布拉格方程：$nlambda = 2dsin heta$，其中，$n$代錶衍射級數（一個整數），$lambda$是X射綫的波長， $d$是晶麵間距，$ heta$是入射X射綫束與晶麵的夾角（布拉格角）。 我們將深入剖析布拉格定律的物理意義。它錶明，隻有當X射綫波長、晶麵間距和衍射角滿足特定關係時，纔會發生相乾散射，形成可見的衍射峰。這意味著，通過測量衍射峰的位置（即$ heta$角），並已知X射綫的波長$lambda$，我們就可以精確計算齣材料的晶麵間距$d$。而晶麵間距是晶體結構的基本參數，直接反映瞭原子在三維空間中的排列方式。本書將通過大量的圖示和實例，幫助讀者直觀地理解布拉格定律的幾何意義，以及它在揭示晶體結構信息中的核心作用。我們還會探討不同晶係（如立方晶係、四方晶係、六方晶係等）中，晶麵間距的計算公式，以及它們如何與衍射峰的位置關聯起來。 三、 晶體結構與衍射圖樣的關聯：破譯原子密碼 晶體結構是原子在三維空間中按照一定規律周期性排列的宏觀體現。不同的晶體結構，例如麵心立方（FCC）、體心立方（BCC）、六方密堆積（HCP）等，具有不同的原子堆積方式和晶麵排列規律，因此會産生各自獨特的X射綫衍射圖樣。本書將係統地介紹常見的晶體結構類型，並詳細闡述它們與X射綫衍射圖樣之間的對應關係。 我們將深入解析為什麼不同的晶體結構會産生不同的衍射圖樣。這涉及到晶格矢量、倒易點陣等概念。倒易點陣是實空間晶格在倒易空間中的錶示，而X射綫衍射的衍射點就對應著倒易點陣中的節點。因此，通過分析衍射圖樣中衍射峰的相對位置和強度，我們可以反推齣材料的晶格類型、晶胞參數，甚至推斷齣原子的占據位置。 本書還將探討影響衍射峰強度的因素，如原子散射因子、多重散射、織構效應、擇優取嚮以及晶粒大小等。例如，不同原子對X射綫的散射能力不同，這會影響衍射峰的相對強度。織構效應是指材料中晶粒存在一定擇優取嚮，這會改變衍射峰的強度分布，甚至導緻某些衍射峰的齣現或消失。晶粒大小也是一個重要的因素，當晶粒尺寸減小到納米尺度時，衍射峰會發生展寬，其展寬程度與晶粒大小呈反比關係（謝勒公式）。通過對衍射峰強度和寬度的綜閤分析，我們可以獲得關於材料微觀結構的更豐富信息。 四、 X射綫衍射技術的原理與發展：工具的演進 X射綫衍射技術並非一成不變，它隨著科學技術的發展而不斷演進，湧現齣多種多樣的衍射技術，以適應不同的研究需求。本書將概述X射綫衍射技術的曆史發展，從早期的粉末衍射到現在的各種先進技術。 我們將重點介紹幾種經典的X射綫衍射技術： 粉末X射綫衍射（PXRD）： 這是最常用、最基礎的X射綫衍射技術。當樣品呈粉末狀時，其中包含大量取嚮隨機的微小晶粒，這使得在任何可能的衍射角度下都能找到滿足布拉格條件的晶粒，從而産生一個代錶性的衍射圖樣。PXRD主要用於物相鑒定（確定樣品中存在的物相）、定量相分析、晶粒度測定、內應力分析等。 單晶X射綫衍射（SXRD）： 當樣品是單個大晶體時，可以采用SXRD技術。通過鏇轉單晶體，並精確測量在不同角度下的衍射點，可以獲得更詳細的晶體結構信息，包括晶胞參數、原子坐標、鍵長鍵角等，最終可以解析齣晶體結構。這是確定新化閤物晶體結構的金標準。 勞厄法（Laue Method）： 這種方法使用連續譜的X射綫照射單晶體，並測量在特定取嚮下的衍射花樣。通過分析勞厄圖樣，可以確定晶體的對稱性、晶帶軸，以及評估晶體的質量。 除瞭這些經典技術，我們還將簡要介紹一些更先進或具有特定功能的衍射技術，例如： 同步輻射X射綫衍射（Synchrotron XRD）： 利用同步輻射光源産生的強白光X射綫，具有極高的亮度、良好的單色性以及寬廣的能量範圍，能夠實現更快速、更靈敏的衍射測量，甚至可以進行原位（in-situ）和時程（time-resolved）的衍射研究。 能量色散X射綫衍射（EDXRD）： 這種方法使用固定角度的X射綫束，通過探測器測量不同能量（波長）的X射綫衍射信號。它在一些特殊應用中具有優勢，例如對樣品厚度要求不高、需要快速掃描等。 雇傭式X射綫衍射（Grazing Incidence XRD, GIXRD）： 當需要研究樣品錶麵薄膜或淺層結構時，采用掠入射角入射X射綫，可以顯著增強錶麵區域的衍射信號，減少基底的乾擾。 本書將深入闡述不同衍射技術的原理、儀器配置以及它們各自的優勢和適用範圍，幫助讀者理解如何根據研究對象和研究目的選擇最閤適的衍射技術。 五、 X射綫衍射的應用領域：解鎖物質性能的鑰匙 X射綫衍射作為一種普適性極強的分析手段，其應用領域幾乎涵蓋瞭所有與物質結構相關的科學研究和工程應用。本書將通過詳實的案例分析，展示X射綫衍射在各個領域的關鍵作用。 材料科學與工程： 物相分析與鑒定： 確定材料是由何種晶體相組成，對於理解材料的性能至關重要。例如，鋼鐵的性能與其相組成（如奧氏體、馬氏體、貝氏體）密切相關。 結構解析： 確定新材料的晶體結構，為理論設計和性能預測提供基礎。 相變研究： 實時監測材料在溫度、壓力等條件變化過程中的相變行為，理解相變機製。 應力與形變分析： 通過測量晶格參數的變化，量化材料內部的殘餘應力或外加應力，這對於理解材料的力學性能、失效機製至關重要。 晶粒尺寸與形貌分析： 瞭解材料的微觀晶粒結構，對材料的強度、延展性等性能有顯著影響。 薄膜與塗層研究： 分析薄膜的晶體結構、取嚮、界麵結構等，對於電子器件、光學器件等至關重要。 化學與地質學： 礦物分析： 鑒定岩石、土壤中的礦物成分，對於地質勘探、環境監測有重要意義。 催化劑研究： 分析催化劑的晶體結構、活性相，理解其催化機理。 藥物晶型研究： 藥物的晶型會影響其溶解度、生物利用度，XRD是研究藥物晶型的重要手段。 生物學與醫學： 蛋白質與核酸結構解析： 單晶X射綫衍射是確定生物大分子三維結構的最重要手段之一，對於理解生命過程、藥物設計具有不可估量的價值。 骨骼與牙齒分析： 通過X射綫衍射分析骨骼和牙齒的礦物成分和結構，有助於疾病診斷和治療。 工業生産與質量控製： 水泥、陶瓷、玻璃的成分分析與質量控製。 金屬材料的性能檢測與故障分析。 高分子材料的結晶度與取嚮分析。 本書將通過具體的應用案例，例如分析某種閤金的相組成如何影響其強度，或者解析某種藥物的晶型如何影響其療效，來生動展示X射綫衍射技術的強大威力。我們將強調，對X射綫衍射原理的深刻理解，能夠使研究者和工程師更有效地利用這一工具，解決實際問題，推動技術創新。 結語 X射綫衍射，作為一門交叉學科，連接瞭物理學、化學、材料科學、工程學等多個領域。本書旨在提供一個全麵而深入的視角，超越簡單的操作層麵，引領讀者走進X射綫衍射的理論世界，理解其背後深刻的物理原理，掌握其分析方法的核心思想，並認識其在廣闊應用領域中的無限可能。希望通過本書的學習，讀者能夠真正掌握解讀物質世界隱秘語言的能力，從而在各自的研究和工作中，都能有所啓發，有所成就。

評分☆☆☆☆☆

這本書我早就想入手瞭，聽說它涵蓋瞭X射綫衍射這個領域的方方麵麵，從最基礎的原理到實際操作，再到數據分析，簡直就是一個寶藏。我尤其期待它在實際應用方麵的講解，比如在材料科學、地質學、化學分析等不同領域，X射綫衍射是如何發揮作用的，有哪些典型的案例分析，這本書能否提供一些深入的見解？ 我對這個測試方法在晶體結構解析方麵的應用也充滿好奇，希望書中能夠詳細介紹如何通過衍射圖譜來確定物質的晶體結構，包括晶格常數、晶麵指數、空間群等等。當然，實際操作中的一些技巧和注意事項也是我非常關注的，比如樣品製備、儀器校準、數據采集的優化等。如果這本書能夠提供一些實操性的指導，那就太有價值瞭。 我還想瞭解一下，這本書是否會對常見的X射綫衍射儀進行介紹，以及它們的優缺點和適用範圍。畢竟，不同的儀器設備可能會影響測試結果的準確性和效率。 如果這本書能夠涵蓋一些高級的應用，比如多晶體衍射、單晶衍射、小角X射綫散射等，那就更完美瞭。 作為一個新手，我希望這本書能夠循序漸進，由淺入深，即使沒有太多專業背景的讀者也能理解。

評分☆☆☆☆☆

我一直在尋找一本能夠深入講解X射綫衍射數據處理和分析的書籍，而這本《X射綫衍射測試分析基礎教程》似乎在這方麵有所側重。 我特彆想瞭解的是，書中對於衍射數據的預處理過程，例如背景扣除、峰擬閤、平滑處理等，是否有詳細的算法介紹和實際操作演示？ 我希望它能提供一些關於如何選擇閤適的擬閤函數，如何處理重疊峰，以及如何評估擬閤結果的準確性的方法。 此外，在物相分析方麵，書中能否介紹一些常用的數據庫檢索策略，以及如何根據衍射數據來確定物質的相組成和相對含量？ 我對Rietveld精修方法也充滿興趣，希望書中能對其原理、步驟以及在定量分析中的應用進行深入的探討。 另外，對於衍射圖譜中可能齣現的織構效應、多重衍射等現象，書中是否有相關的解釋和處理方法？ 我也希望它能涵蓋一些關於晶體缺陷、應變和疇結構分析的技術，這些都是X射綫衍射在材料科學中非常重要的應用方嚮。 如果這本書能夠提供一些實際案例，展示如何運用這些數據分析技術來解決具體的科學問題，那就更有參考價值瞭。

評分☆☆☆☆☆

這本書的排版和圖示風格，讓我有點不太習慣。雖然內容本身可能還算紮實，但整體的呈現方式，總覺得有些不夠現代，或者說不夠吸引人。 比如，圖錶的清晰度和精美度，還有待提高。有些衍射圖譜的麯綫不夠平滑，噪點比較明顯，放大後細節模糊，這在分析一些微弱信號時，可能會造成睏擾。我希望書中能使用更高質量的圖片，並且在圖錶的標注和說明方麵更加詳盡。 另外，對於實際操作部分的描述，我感覺不夠具體和細緻。例如，在講解樣品製備時，對於不同類型樣品的製備方法，比如粉末、薄膜、塊體等，是否有更詳細的步驟和注意事項？ 在儀器操作方麵，對於不同型號的X射綫衍射儀，是否有通用的操作指南，或者針對不同儀器的特殊設置和調整？ 我比較關心的問題是，書中能否提供一些關於數據采集參數優化的建議，比如掃描速度、步長、管電壓、管電流等，如何根據不同的樣品和分析目的來選擇閤適的參數？ 同時，我也希望書中能提供一些關於儀器維護和故障排除的知識，這對於保證測試的穩定性和準確性非常重要。

評分☆☆☆☆☆

讀完這本書，我感覺它在一些更前沿或者更具挑戰性的X射綫衍射應用方麵，似乎有所缺失。 比如，對於單晶X射綫衍射在解析復雜有機分子結構中的應用，書中是否有足夠的篇幅和深度？ 我對如何通過單晶衍射數據來確定分子的三維結構、立體化學、構象等方麵的內容非常感興趣。 另外，對於X射綫衍射在納米材料錶徵中的應用，比如納米顆粒的尺寸、形狀、晶格畸變等，書中是否有相關的介紹和分析方法？ 我也希望它能涵蓋一些關於X射綫衍射與同步輻射源結閤的應用，以及如何利用高能X射綫進行穿透性成像和衍射分析。 在材料性能錶徵方麵，書中是否涉及利用X射綫衍射來研究材料在高溫、高壓、磁場等極端條件下的相變行為和結構演化？ 我對這些能夠揭示材料在動態過程中的結構變化的應用場景非常關注。 如果這本書能夠提供一些更具啓發性、更具探索性的內容，那就更能滿足我作為一名研究人員的需求瞭。

評分☆☆☆☆☆

剛拿到這本書，迫不及待地翻瞭一下，感覺它在理論部分的講解上，似乎用力有些過猛瞭。對於X射綫的産生機製、衍射定律（布拉格方程）的推導，以及衍射晶體學的一些基礎概念，雖然嚴謹，但對於我這種更側重實際應用的人來說，可能稍微有些枯燥。我更希望它能快速切入正題，直接講解如何利用X射綫衍射來解決實際問題。比如，在材料錶徵方麵，它能否更詳細地闡述如何通過衍射峰的強度、位置、寬度來判斷材料的晶體結構、相組成、結晶度、晶粒尺寸、應力等關鍵信息？ 對於新手來說，理解這些概念背後的物理意義，以及它們與宏觀性質之間的關聯，可能比純粹的理論推導更重要。我期待這本書能有更多直觀的圖示和生動的比喻，來幫助我們理解這些抽象的概念。 另外，我對衍射圖譜的解讀部分也抱有一些疑問，書中能否提供一些係統性的解讀方法和流程？ 比如，如何從復雜的衍射圖譜中識彆齣主要的衍射峰，如何根據峰的位置來確定晶係和晶格常數，如何利用數據庫進行物相檢索，以及如何處理一些可能齣現的乾擾峰和異常現象。 如果能提供一些具體的圖例和分析案例，相信會對我的學習大有裨益。

評分☆☆☆☆☆

編寫的太糙

評分☆☆☆☆☆

編寫的太糙

評分☆☆☆☆☆

X射綫衍射測試分析基礎教程

評分☆☆☆☆☆

X射綫衍射測試分析基礎教程

評分☆☆☆☆☆

X射綫衍射測試分析基礎教程

評分☆☆☆☆☆

正版圖書，給力！！！！

評分☆☆☆☆☆

挺好的

評分☆☆☆☆☆

書不錯，很好用，質量不錯，是正品，價格也閤適

評分☆☆☆☆☆

編寫的太糙