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周源泉，李宝盛，张正平，丁为航，岳文龙著

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出版社：科学出版社

ISBN：9787030530301

版次：1

商品编码：12114627

包装：精装

开本：16开

出版时间：2017-06-01

用纸：胶版纸

页数：189

字数：255000

正文语种：中文

具体描述

内容简介

　　《可靠性统计分析》用经典方法、贝叶斯方法、信赖方法，深入地研究，完整地解决双参数指数分布、左截尾双参数指数分布、正态（对数正态）分布、韦布尔分布、位置尺度族分布、对数位置尺度族分布及幂律可靠性增长模型的置信估计问题。
　　《可靠性统计分析》所研究的问题基本都是当今国内外尚未解决的理论和技术难题，《可靠性统计分析》汇集作者近十五年来的新研究成果。这些研究成果对准确把握和提高产品可靠性具有重要作用，并且具有广泛的工程应用价值。
　　《可靠性统计分析》适用于深入学习、研究可靠性工程和理论统计分析的大学本科生、研究生以及科研单位技术人员和管理人员。

内页插图

前言/序言

　　1997年，拙著《质量可靠性增长与评定方法》出版，经陈希孺院士推荐，被评为国防科技工业优秀图书。但陈先生对该书并不太满意，认为它有向工程师妥协的倾向，他希望我们撰写既有助于提高工程师数理统计水平，又有新内容可供应用的书籍。鉴于此，我们多年没有动笔。直到2009年，我们给出了（对数）位置尺度族分布的单双样精确预测区间与Z个未来样本的顺序统计量的精确预测区间，这是国际上30年来未能解决的课题，解决了（对数）位置尺度族分布及其重要成员的可靠性评估问题，加上对幂律模型的检验与贝叶斯区间估计、双参数指数分布可靠性评估等工作内容，就构成了本书。
　　在研究过程中，李宝盛研究员、丁为航先生与本人密切合作，将本书的理论部分给予了计算机编程实现，给本书的各个新模型编制了高精度软件，数值验证了本书的各命题，使本书成果的推广和应用成为可能。
　　本书的出版得到了北京强度环境研究所领导的大力支持。
　　本书在编写过程中得到了北京航天动力研究所有关领导的有力支持。
　　郭建英教授将本书的部分手稿编辑为电子稿，本书的前两章承陈希孺院士、中国科学院系统科学研究所成平研究员审查指正，又得到了谢光选、黄瑞松两位院士的推荐。作者对以上提到的诸位深表敬意。
　　50年前，钱学森同志指出国防科技工业要搞质量控制可靠性，并指定本人为质量控制可靠性的第一个新兵，每忆及此，感慨良多。谨以本书作为向祖国质量可靠性事业50周年的献礼！
　　由于作者水平所限，不足之处在所难免，敬请专家与读者批评指正。