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:49.00元
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作者:(印)D.Roy Choudhury,Shail B.Jain ,陈力颖
出版社:科学出版社
出版日期:2010-07-01
ISBN:9787030274311
字数:458000
页码:370
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.522kg
本书版写于1991年,多次再版,重印,是一本线性集成电路设计课程的经典教材。
  本书共10章;。详细介绍了IC的生产工艺、741系列运放的应用、555计时器、565 PLL、线性稳压器IC、78/9XX、723、A/D和D/A转换器,采用741的有源滤波器、开关电容滤波器以及OTA等器件的特性、功能、结构及设计方法。本书内容阐述简明扼要,条理清晰,各章都配有大量例题和习题,便于自学。
  本书可作为高等院校电气工程、计算机工程等相关专业师生的参考用书,也可供相关科研工作者及工程技术人员参考。
这本书的结构安排非常巧妙,它遵循了从宏观到微观,再到系统集成的逻辑脉络。我特别喜欢它在介绍某一类电路(比如电流镜或振荡器)时,不仅给出了经典结构,还深入剖析了各种变体的优缺点和适用场景。这种对比分析极大地拓宽了我的设计视野。例如,书中对比了不同类型的斩波技术在低频噪声抑制上的表现,并配有详细的数学模型推导和仿真数据佐证,让人信服。再者,关于电源管理集成电路(PMIC)的部分,虽然篇幅相对精炼,但对开关模式调节器(SMPS)的环路设计和瞬态响应优化给出了独到的见解,这一点在很多纯模拟教材中是找不到的。阅读这本书的过程,就像是跟着一位经验丰富的导师在进行一对一的指导,他既关注理论的严谨性,也时刻提醒我们工程实践的复杂性。它迫使我跳出“教科书电路”的舒适区,去思考真实世界中各种非理想因素的影响。
评分坦白讲,这本书的阅读体验是具有挑战性的,但绝对是值得的。它不像某些入门书籍那样刻意简化复杂性以迎合读者,而是直面了模拟IC设计中那些难以回避的难题。对于初次接触的读者,可能需要反复研读才能完全消化其中的数学推导和模型假设。然而,正是这种不妥协的态度,让它成为了我案头上最常翻阅的工具书之一。当我需要回顾或验证某个特定环节的设计准则时,这本书总能提供最权威的解释。特别是关于匹配、失配以及工艺角分析的章节,其详尽程度远超我的预期。作者不仅提供了如何计算失配的公式,还深入探讨了失配的物理来源,比如晶体管尺寸、掺杂浓度不均等,这种对底层物理的关注,是构建鲁棒电路的关键。这本书更像是一部详尽的设计手册,而非简单的课程讲义。
评分从整体的知识体系构建来看,这本书展现了一种超越时代的设计哲学。它没有过度依赖于最新的工艺节点或时髦的器件结构,而是将重点放在了那些无论技术如何发展都将保持核心地位的设计原则上。这使得这本书的生命力非常强劲。我尤其欣赏其在混合信号接口部分的讲解,它清晰地阐释了ADC和DAC的架构选择是如何受到采样理论、量化噪声和电路复杂度相互制约的。作者对噪声分析的讲解极为细致入微,从热噪声、闪烁噪声到环境噪声耦合,都有系统的建模和抑制策略讨论。这本书的强大之处在于,它不仅教你如何搭建一个电路,更教你如何像一个资深的设计师那样去思考——即如何在性能、功耗和面积(PPA)这三个互相牵制的要素之间找到最优的平衡点。每一次重读,我都能从已有的知识结构中提取出新的洞察,它无疑是模拟集成电路领域的经典之作。
评分拿到这本书的时候,首先吸引我的是它详实且严谨的论证过程。它不像市面上很多偏重于“工具使用”的书籍,这本书的核心价值在于对“原理”的深刻挖掘。作者似乎非常注重培养读者的批判性思维,书中很多地方都提出了“为什么”以及“如何权衡”的问题,而不是简单地给出“最优解”。这种教学方式极大地提升了我的设计内功。在处理诸如频率补偿和稳定性分析这类关键章节时,我发现作者采用了多角度的阐释方法,结合了波特图、根轨迹分析以及时域响应的直观感受,使得原本抽象的稳定性概念变得触手可及。我尤其欣赏其中对版图效应和寄生参数影响的探讨,这些往往是仿真与实际电路出现偏差的主要原因,而这本书却毫不避讳地将其纳入讨论范围,体现了其专业性和实用性。对于有一定基础,希望从“能做”跨越到“做好”的工程师来说,这本书的价值无可估量。
评分这本教材的深度和广度确实令人印象深刻,它不仅仅是知识的堆砌,更像是一张精心绘制的地图,引导我们在错综复杂的集成电路设计世界中找到方向。特别是对于初学者而言,它提供了一个非常扎实的基础,从最基础的半导体物理原理讲起,逐步过渡到复杂的电路拓扑结构。作者在阐述基本概念时,总是能够用非常直观的例子来辅助理解,这在很多同类书籍中是比较少见的。比如,当他们讲解MOSFET的工作原理时,不仅仅停留在理论公式上,还会结合实际的器件特性和工艺限制来进行分析,这使得我们能够真正理解为什么在实际设计中需要做出某种妥协。对于那些希望深入理解模拟IC设计,特别是运放、反馈网络以及噪声分析的读者来说,这本书无疑是教科书级别的参考资料。书中对各种失真和非线性效应的讨论也相当到位,这对于设计高性能、高保真度的电路至关重要。总的来说,这本书为我构建了一个清晰、坚实的理论框架,让我能够自信地面对更高级的设计挑战。
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