电子元器件的检测与选用 9787030229441 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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李钟灵，刘南平 著

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出版社： 科学出版社

ISBN：9787030229441

商品编码：29691172945

包装：平装

出版时间：2009-01-01

基本信息

书名:电子元器件的检测与选用

定价：38.00元

售价：25.8元,便宜12.2元,折扣67

作者:李钟灵,刘南平

出版社：科学出版社

出版日期：2009-01-01

ISBN：9787030229441

字数：

页码：346

版次：1

装帧：平装

开本：16开

商品重量：0.499kg

编辑推荐

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《电子元器件的检测与选用》全书内容全面、讲述透彻，实用性强，配有大量的元器件实物图。

内容提要

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《电子元器件的检测与选用》以常用的电子元器件为核心，介绍它们的基础知识、工作原理、性能特点、识别、检测与选用的方法。全书共13章，内容包括：电阻器的检测与选用；电容器的检测与选用；电感器的检测与选用；变压器的检测与选用；二极管的检测与选用；三极管的检测与选用；场效应管的检测与选用；晶闸管的检测与选用；石英晶体与滤波器的检测与选用；继电器、开关的检测与选用；电声器件的检测与选用；集成电路的检测与选用；传感器的检测与选用。
全书内容全面、讲述透彻，实用性强，配有大量的元器件实物图，大大提高了《电子元器件的检测与选用》的参考阅读价值。《电子元器件的检测与选用》可供广大电子初学者、电子爱好者、电子工程技术人员、维修人员学习、参考阅读。

目录

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作者介绍

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文摘

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序言

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电子世界里的基石：探秘电子元器件的奥秘与智慧选用 在浩瀚的电子技术海洋中，每一款精密的仪器、每一件智能的设备，都离不开那些微小却至关重要的“零件”——电子元器件。它们如同建筑中的砖石，是构建复杂电路的基石，是实现各种功能的神奇载体。一本专注于深入剖析这些电子元器件的专著，旨在带领读者穿越迷人的电子世界，揭示它们的核心原理、性能特点以及在实际应用中的精妙选配。 本书并非简单罗列元器件的型号与参数，而是以一种系统、深入的视角，引领读者探寻电子元器件的内在逻辑。我们将从最基础的电阻、电容、电感这些被动元件入手，细致解读它们如何影响电流的流动，如何储存和释放能量，以及它们在电路中扮演的不可或缺的角色。例如，对于电阻，我们会深入探究其阻值的影响因素，不同类型的电阻（如碳膜电阻、金属膜电阻、线绕电阻等）在不同应用场景下的优势与劣势；对于电容，我们将剖析其容值、耐压、漏电流等关键参数，以及不同电介质（陶瓷、电解、钽质等）带来的性能差异，并阐述其在滤波、耦合、储能等方面的广泛用途；对于电感，我们会分析其电感量、品质因数、饱和电流等重要指标，并介绍铁氧体电感、空心电感等常见类型，以及它们在振荡、滤波、变压器等电路中的应用。 在掌握了基本被动元件的原理之后，本书将进一步聚焦于电子世界中那些“活跃分子”——半导体器件。这部分内容将是本书的重中之重，我们不仅会介绍二极管、三极管、场效应管等基本半导体器件的 PN 结原理、工作特性，更会深入探讨它们在电子线路中扮演的多重角色。例如，我们将详细讲解二极管的整流、稳压、开关等功能，并介绍肖特基二极管、稳压二极管等特种二极管的独特性能；对于三极管，我们将深入解析其放大、开关特性，区分 NPN 和 PNP 型三极管的结构与工作方式，并介绍 BJT 和 MOSFET 等不同类型的晶体管，阐述它们在放大电路、开关电路中的应用；场效应管（FET）的介绍将着重于其电压控制特性，分析 JFET 和 MOSFET 的结构差异，以及它们在高输入阻抗放大、功率开关等方面的优势。 当然，电子元器件的丰富性远不止于此。本书还将系统性地介绍集成电路（IC）这一现代电子技术的“核心大脑”。我们将从最基本的逻辑门电路开始，逐步深入到微处理器、微控制器、专用集成电路（ASIC）等复杂集成电路的构成原理和工作方式。对于不同类型的集成电路，我们将详细解析其内部结构、功能模块，以及在数字信号处理、系统控制、通信等领域的广泛应用。例如，数字集成电路部分将涵盖组合逻辑和时序逻辑，介绍各种基础逻辑门（AND, OR, NOT, XOR等）和更复杂的集成器件（如寄存器、计数器、译码器等）的实现与应用；模拟集成电路部分则将聚焦于运算放大器（Op-amp）的原理和应用，介绍其在信号放大、滤波、积分、微分等方面的强大能力，以及各种模拟滤波器、振荡器、电源管理芯片的内部结构和工作机制。 除了上述基础和核心的电子元器件，本书还会关注一些在特定领域扮演着关键角色的特殊元器件。例如，我们将会探讨传感器，介绍其将物理量（如温度、压力、光、声音等）转化为电信号的原理，并介绍不同类型传感器的选型原则和应用方向，例如热敏电阻、光敏电阻、霍尔传感器、超声波传感器等；我们将介绍显示器件，如 LED、OLED、LCD 等，阐述它们的发光原理、驱动方式以及在信息显示方面的应用；我们还将涉及一些电源管理元器件，如稳压器、DC-DC 转换器、充电管理芯片等，解析它们在维持电路稳定供电、提高能源利用效率方面的作用。 然而，一本优秀的电子元器件指南，其价值绝不仅仅在于理论的阐述，更在于实际的指导意义。因此，本书在每一类元器件的介绍中，都将“检测”和“选用”这两个关键环节置于核心地位。 在“检测”方面，我们将提供一套系统性的检测方法和技巧。这不仅包括使用万用表进行基础的通断、电阻、电压、电流测量，还会引入一些更高级的检测手段，例如使用示波器观察波形，利用信号发生器进行激励测试，甚至提及一些常用的集成电路测试仪器。我们将详细讲解如何根据元器件的型号和参数，设计合理的检测电路，判断元器件是否工作正常，是否存在参数漂移或损坏。对于常见的故障现象，例如二极管的反向漏电、三极管的虚焊、电容的失效等，都将提供相应的检测思路和方法，帮助读者快速定位问题。 在“选用”方面，本书将提供一套科学的选型框架和实用指南。我们将强调“匹配”的重要性，即根据具体的电路设计要求，选择最适合的元器件。这包括但不限于：根据工作电压、电流、频率选择合适的耐压、额定功率、截止频率；根据信号的精度、稳定性要求选择合适的容差、温度系数；根据电路的噪声敏感度、功耗需求选择低噪声、低功耗的元器件。本书将深入分析各种元器件的性能参数表，指导读者如何理解和解读这些参数，并从中筛选出最符合设计要求的元器件。同时，我们还将结合实际工程经验，分享一些关于元器件选用中的“潜规则”和注意事项，例如不同品牌元器件的质量差异，某些特殊环境下元器件的选用策略，以及如何平衡成本与性能等问题。 本书的另一个显著特点是其强烈的实践导向。在对各种元器件进行深入剖析的同时，我们会穿插大量的典型电路示例，并详细分析元器件在这些电路中的具体作用和工作原理。例如，在介绍电阻时，我们会分析其在分压电路、限流电路中的应用；在介绍电容时，我们会展示其在滤波电路、耦合电路中的作用；在介绍三极管时，我们会解析其在单管放大器、推挽放大器中的应用；在介绍集成电路时，我们会分析其在数模混合信号处理、嵌入式系统设计中的应用。通过这些生动的实例，读者能够更直观地理解元器件的性能特点，以及它们如何协同工作，共同实现复杂的电子功能。 此外，本书还将关注电子元器件的发展趋势和新兴技术。我们将简要介绍一些在新能源、物联网、人工智能等领域扮演着越来越重要角色的新型元器件，例如功率半导体器件（IGBT、MOSFET等）在电力电子领域的应用，MEMS（微机电系统）传感器在物联网设备中的普及，以及一些用于量子计算或生物电子学的特殊材料和器件。这有助于读者拓宽视野，了解电子技术的前沿动态。 总而言之，这本书并非一本枯燥的元器件手册，而是一本生动、实用、深入的电子元器件百科。它将为电子技术爱好者、学生、工程师提供一个全面而深入的平台，帮助他们掌握电子元器件的“语言”，理解它们的“灵魂”，并最终能够智慧地“选用”它们，将自己的创意转化为现实的电子产品，点亮科技创新的未来。通过对本书的学习，读者将能够更加自信地驾驭电子世界，从每一个微小的元器件开始，构建起属于自己的电子梦想。

评分☆☆☆☆☆

与其他同类书籍相比，这本书的另一个显著优点在于它对新旧技术迭代的兼容性。虽然电子元器件的世界日新月异，新的材料和封装层出不穷，但本书没有沉溺于追逐最新的热点，而是花了大量的篇幅奠定坚实的物理和电学基础。它用很长的篇幅去解释PN结的形成原理，即便现在有了更先进的器件，但万变不离其宗，理解了基础原理，学习新技术就只是换个“外壳”而已。例如，它对MOSFET的栅极氧化层电容和导通电阻（$R_{DS(on)}$）关系的阐述，即使面对SiC或GaN器件，其核心的电容-导通特性思维框架依然是适用的。这种“打地基”式的教学方法，让这本书的生命周期大大延长了，我确信未来很多年，它依然会是案头常备的工具书，而不是很快就会过时的快速指南。

评分☆☆☆☆☆

这本书的封面设计得非常朴实，带着一种严谨的学院派气息，拿到手里沉甸甸的，一看就知道内容量是相当扎实的。我一开始是冲着“选用”这两个字去的，因为我手头很多DIY项目总是卡在选型这一关，要么性能过剩，要么就是买了完全不兼容的东西回来。这本书的结构安排得很清晰，它没有急于展示那些高深莫测的电路图，而是花了大量的篇幅来讲解每一个基础元器件的“脾气秉性”。比如电容，它细致地剖析了介质材料对等效串联电阻（ESR）的影响，这一点对于高频应用来说简直是救命稻草。我记得有一章专门讲了二极管的反向恢复时间，这个参数在开关电源设计中至关重要，但很多初级参考书都是一带而过。这本书却配了大量的图表和实际的测试数据，让人能直观地感受到参数变化带来的实际后果。读完这部分，我再去翻阅元器件规格书时，那种“雾里看花”的感觉顿时消散了，看数据参数也变得有逻辑、有目的性了许多，不再是机械地抄录数字，而是带着理解去挑选最适合自己需求的那个型号。

评分☆☆☆☆☆

作为一名维修工程师，我最看重的是“检测”部分。过去我们处理故障，很多时候就像大海捞针，尤其是面对一些间歇性故障或者漂移性的参数异常，光靠万用表测一下通断或者直流电压往往找不到问题所在。这本书在故障诊断这一块的处理方式，堪称教科书级别的典范。它不仅仅告诉你“用什么仪器测什么参数”，更重要的是告诉你“在什么工作状态下测”以及“测到这个值说明什么问题”。它深入探讨了半导体器件的老化机制，比如晶体管的 $eta$ 值随温度和时间的变化曲线，这对于判断一个使用了很久的设备为何突然不稳定提供了理论支撑。我特别欣赏它在无源器件故障判断上的细致描述，比如如何通过观察电阻的色环氧化情况来初步判断过载的程度，或者如何通过听声辨位来初步判断电感器内部是否松动。这些经验性的知识点，往往是那些纯理论书籍里找不到的，但却是我们一线人员最需要的“实战秘籍”。它教会我们如何构建一个高效的故障排查流程，而不是被现象牵着鼻子走。

评分☆☆☆☆☆

我尤其欣赏作者在讨论“选用”环节时，那种极其审慎和客观的态度。他反复强调，不存在“最好的”元器件，只有“最适合”当前工作环境和成本预算的元器件。在介绍高精度电阻时，他会详细对比金属膜、线绕和厚膜电阻在温度系数、噪声和成本上的权衡；在讨论存储器芯片时，他会明确指出SRAM、DRAM和Flash各自的读写时序特性以及它们对系统功耗的影响。这种全面对比和多维度考量的叙事方式，帮助我彻底摆脱了那种盲目追求“高性能”的误区。过去我总觉得用最顶级的元件就一定能做出最好的产品，但这本书让我明白，过度的规格冗余不仅浪费成本，还可能因为更高的功耗或更复杂的散热要求，反而引入新的设计风险。这是一本真正从工程实践和经济效益角度出发的经典著作。

评分☆☆☆☆☆

这本书的排版和插图质量非常高，这对于理解复杂的物理结构和电气特性至关重要。很多技术书籍的图注往往潦草不清，或者示意图与实际结构脱节，但本书在这方面做到了极致的专业。它展示了许多元器件的内部剖面图，例如薄膜电阻的螺旋切槽结构是如何实现精密阻值的，还有钽电容的烧结体是如何形成高比容的。这种从微观到宏观的解释方式，极大地满足了我对“知其所以然”的求知欲。当我看到电感线圈的绕制工艺对电磁屏蔽性能的影响时，我立刻联想到了我正在设计的一个高灵敏度接收模块中存在的串扰问题。这本书没有直接提供解决方案，但它提供的知识基础，让我能够自己推导出优化绕线结构的方向，从而避开了走弯路。这种授人以渔的教学方式，远比直接给出标准答案要宝贵得多。