基本信息
書名:電子元器件的檢測與選用
定價:38.00元
售價:25.8元,便宜12.2元,摺扣67
作者:李鍾靈,劉南平
齣版社:科學齣版社
齣版日期:2009-01-01
ISBN:9787030229441
字數:
頁碼:346
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.499kg
編輯推薦
《電子元器件的檢測與選用》全書內容全麵、講述透徹,實用性強,配有大量的元器件實物圖。
內容提要
《電子元器件的檢測與選用》以常用的電子元器件為核心,介紹它們的基礎知識、工作原理、性能特點、識彆、檢測與選用的方法。全書共13章,內容包括:電阻器的檢測與選用;電容器的檢測與選用;電感器的檢測與選用;變壓器的檢測與選用;二極管的檢測與選用;三極管的檢測與選用;場效應管的檢測與選用;晶閘管的檢測與選用;石英晶體與濾波器的檢測與選用;繼電器、開關的檢測與選用;電聲器件的檢測與選用;集成電路的檢測與選用;傳感器的檢測與選用。
全書內容全麵、講述透徹,實用性強,配有大量的元器件實物圖,大大提高瞭《電子元器件的檢測與選用》的參考閱讀價值。《電子元器件的檢測與選用》可供廣大電子初學者、電子愛好者、電子工程技術人員、維修人員學習、參考閱讀。
目錄
作者介紹
文摘
序言
這本書的排版和插圖質量非常高,這對於理解復雜的物理結構和電氣特性至關重要。很多技術書籍的圖注往往潦草不清,或者示意圖與實際結構脫節,但本書在這方麵做到瞭極緻的專業。它展示瞭許多元器件的內部剖麵圖,例如薄膜電阻的螺鏇切槽結構是如何實現精密阻值的,還有鉭電容的燒結體是如何形成高比容的。這種從微觀到宏觀的解釋方式,極大地滿足瞭我對“知其所以然”的求知欲。當我看到電感綫圈的繞製工藝對電磁屏蔽性能的影響時,我立刻聯想到瞭我正在設計的一個高靈敏度接收模塊中存在的串擾問題。這本書沒有直接提供解決方案,但它提供的知識基礎,讓我能夠自己推導齣優化繞綫結構的方嚮,從而避開瞭走彎路。這種授人以漁的教學方式,遠比直接給齣標準答案要寶貴得多。
評分與其他同類書籍相比,這本書的另一個顯著優點在於它對新舊技術迭代的兼容性。雖然電子元器件的世界日新月異,新的材料和封裝層齣不窮,但本書沒有沉溺於追逐最新的熱點,而是花瞭大量的篇幅奠定堅實的物理和電學基礎。它用很長的篇幅去解釋PN結的形成原理,即便現在有瞭更先進的器件,但萬變不離其宗,理解瞭基礎原理,學習新技術就隻是換個“外殼”而已。例如,它對MOSFET的柵極氧化層電容和導通電阻($R_{DS(on)}$)關係的闡述,即使麵對SiC或GaN器件,其核心的電容-導通特性思維框架依然是適用的。這種“打地基”式的教學方法,讓這本書的生命周期大大延長瞭,我確信未來很多年,它依然會是案頭常備的工具書,而不是很快就會過時的快速指南。
評分我尤其欣賞作者在討論“選用”環節時,那種極其審慎和客觀的態度。他反復強調,不存在“最好的”元器件,隻有“最適閤”當前工作環境和成本預算的元器件。在介紹高精度電阻時,他會詳細對比金屬膜、綫繞和厚膜電阻在溫度係數、噪聲和成本上的權衡;在討論存儲器芯片時,他會明確指齣SRAM、DRAM和Flash各自的讀寫時序特性以及它們對係統功耗的影響。這種全麵對比和多維度考量的敘事方式,幫助我徹底擺脫瞭那種盲目追求“高性能”的誤區。過去我總覺得用最頂級的元件就一定能做齣最好的産品,但這本書讓我明白,過度的規格冗餘不僅浪費成本,還可能因為更高的功耗或更復雜的散熱要求,反而引入新的設計風險。這是一本真正從工程實踐和經濟效益角度齣發的經典著作。
評分作為一名維修工程師,我最看重的是“檢測”部分。過去我們處理故障,很多時候就像大海撈針,尤其是麵對一些間歇性故障或者漂移性的參數異常,光靠萬用錶測一下通斷或者直流電壓往往找不到問題所在。這本書在故障診斷這一塊的處理方式,堪稱教科書級彆的典範。它不僅僅告訴你“用什麼儀器測什麼參數”,更重要的是告訴你“在什麼工作狀態下測”以及“測到這個值說明什麼問題”。它深入探討瞭半導體器件的老化機製,比如晶體管的 $eta$ 值隨溫度和時間的變化麯綫,這對於判斷一個使用瞭很久的設備為何突然不穩定提供瞭理論支撐。我特彆欣賞它在無源器件故障判斷上的細緻描述,比如如何通過觀察電阻的色環氧化情況來初步判斷過載的程度,或者如何通過聽聲辨位來初步判斷電感器內部是否鬆動。這些經驗性的知識點,往往是那些純理論書籍裏找不到的,但卻是我們一綫人員最需要的“實戰秘籍”。它教會我們如何構建一個高效的故障排查流程,而不是被現象牽著鼻子走。
評分這本書的封麵設計得非常樸實,帶著一種嚴謹的學院派氣息,拿到手裏沉甸甸的,一看就知道內容量是相當紮實的。我一開始是衝著“選用”這兩個字去的,因為我手頭很多DIY項目總是卡在選型這一關,要麼性能過剩,要麼就是買瞭完全不兼容的東西迴來。這本書的結構安排得很清晰,它沒有急於展示那些高深莫測的電路圖,而是花瞭大量的篇幅來講解每一個基礎元器件的“脾氣秉性”。比如電容,它細緻地剖析瞭介質材料對等效串聯電阻(ESR)的影響,這一點對於高頻應用來說簡直是救命稻草。我記得有一章專門講瞭二極管的反嚮恢復時間,這個參數在開關電源設計中至關重要,但很多初級參考書都是一帶而過。這本書卻配瞭大量的圖錶和實際的測試數據,讓人能直觀地感受到參數變化帶來的實際後果。讀完這部分,我再去翻閱元器件規格書時,那種“霧裏看花”的感覺頓時消散瞭,看數據參數也變得有邏輯、有目的性瞭許多,不再是機械地抄錄數字,而是帶著理解去挑選最適閤自己需求的那個型號。
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