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书名:实用新型电子元器件
定价:25.00元
作者:张桂红
出版社:福建科技出版社
出版日期:2005-09-01
ISBN:9787533526405
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:
商品重量:0.4kg
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内容提要
全书共分八章。章介绍常用的电子元器件,包括半导体二极管、三极管、电阻器、电容器等。第二章介绍半导体传感器,包括光敏传感器、磁敏传感器、温敏传感器、温敏传感器等。第三章介绍压电器件,包括石英晶体振荡器、陶瓷、滤波器、声表面波滤波器等。第四章介绍电声器件与继电器,包括杨声器、传声器、激光式拾音器等。第五章介绍常用的红外器件,包括红外探测器件和红外成像器件。第六章介绍显示器件,包括数码显示器、液晶显示器、等离子体显示器等。第七章介绍电源,包括直流稳压电源和开关稳压电源。第八章介绍集成电路,列举了一些实用的芯片。
    本书的特点是通俗易懂、新颖实用,使读者能在短的时间内对各种新型电子元器件有全面的了解,并能根据具体设计方案选定所需的元器件。本书从不同设计角度为读者提供了一些简单、实用的电子电器,读者根据本书所介绍的各种电子元器件,在了解其特点和性能后,就可方便地进行制作。其制作成功率高,且器件易于购买。
目录
章 常用电子元器件
 节 半导体二极管
 第二节 半导体三极管
 第三节 电阻器
 第四节 开关
 第五节 电容器
 第六节 晶闸管
 第七节 精密可调基准电源TL431
第二章 半导体传感器
 节 光敏传感器
 第二节 温敏传感器
 第三节 磁敏传感器
 第四节 湿敏传感器
 第五节 气敏传感器
 第六节 压敏电阻器
 第七节 力敏传感器
第三章 压电器件
 节 压电材料
 第二节 石英晶体谐振器
 第三节 陶瓷滤波器
 第四节 声表面波滤波器
 第五节 压电传感器
 第六节 压电蜂鸣器
第四章 电声器件与继电器
 节 电声器件
 第二节 继电器
第五章 红外器件
 节 红外探测器件
 第二节 红外成像器件
第六章 显示器件
 节 数码显示器
 第二节 液晶显示器
 第三节 阴极射线管
 第四节 等离子体显示器
第七章 电源器件
 节 直流稳压电源
 第二节 开关稳压电源
第八章 集成电路应用
 节 线性集成电路
 第二节 数字集成电路
 第三节 555集成电路
 第四节 特殊功能集成电路
作者介绍
文摘
序言
这本书的封面设计,坦白讲,实在算不上吸引人。那种朴素到近乎刻板的排版,配上略显陈旧的字体,让我第一时间联想到的不是前沿科技,而是一本十几年前的大学教材。我原本是带着一丝忐忑翻开它的,毕竟现在市场上的电子元器件资料琳琅满目,很多新出版的书籍都在强调“快速上手”、“实战应用”,而这本给我的感觉却是沉甸甸的、老派的。初读之下,那种对基础理论的扎实铺陈,几乎让人有些喘不过气来。它没有急于展示那些炫目的最新芯片规格,反而花了大量篇幅去深入剖析电阻、电容、电感这些“老朋友”的物理特性和制造工艺的演变。这种叙事方式,对于追求效率的工程师来说,或许会感到有些冗余,但对于我这种希望建立宏观且坚实知识体系的自学者而言,却像是在地基上浇筑混凝土,虽然慢,但足够可靠。我尤其欣赏它对不同年代元器件设计哲学差异的探讨,那种历史的厚重感,让我重新审视了那些被我们视为理所当然的基础元件,它们绝非简单的符号,而是无数次工程权衡与材料科学进步的结晶。
评分这本书的行文风格有一种独特的、近乎于“冷峻”的严谨性。你很难在其中找到那些鼓舞人心的口号,或者充满激情的案例分析。通篇都是基于物理定律的推导、公式的引用,以及对实验数据的客观呈现。每一次引入一个新的元器件类型,作者都会先建立一个理想化的模型,然后逐步引入寄生参数、环境影响等实际因素,来“修正”这个模型,直到它能更贴近现实世界的表现。这种层层递进的论证过程,虽然使得阅读节奏相对缓慢,但对于理解复杂系统的非线性响应至关重要。例如,在讲解MOSFET的开关损耗时,它不仅仅罗列了$E_{on}$和$E_{off}$的计算公式,更深入分析了栅极驱动电阻、米勒效应电容以及负载电感对实际关断时间的微妙影响。这种对细节的执着,使得读者在遇到那些看似简单的“开关”问题时,能够从根本上找到其性能瓶颈的源头。它要求读者具备一定的数学基础,否则,那些密集的推导过程很容易让人望而却步,因为它确实没有为了迎合初学者而刻意“简化”那些本质上就复杂的物理过程。
评分这本书的结构安排,给我一种从微观到宏观、从基础到应用的脉络感。它没有采用那种按照“数字电路”和“模拟电路”简单划分的传统结构,而是围绕着“元器件的物理本质如何决定其电路功能”这一核心线索来展开的。例如,它会先用一整个章节来剖析特定半导体材料的能带结构,然后才自然地过渡到二极管的单向导电性,接着再深入到不同类型的晶体管的导通特性。这种“先理解物质,再使用物质”的教学方法,极大地增强了知识的连贯性。即便是涉及到一些现代化的组件,如光电器件,作者也倾向于从其光电效应的基本原理入手,而不是直接介绍某个厂商的产品型号。对我而言,最大的收获在于,它打破了我过去对元器件的“黑盒”认知,让我明白了每一个看似标准化的元件背后,都隐藏着一个完整的材料科学和半导体物理学的故事。这本书与其说是一本“技术手册”,不如说是一部关于电子元器件“生命史”的百科全书,厚重、详实,且充满智慧。
评分说实话,我买这本书的动机其实是想快速解决一个电路调试中的疑难杂症,期望它能像一本“电子元器件使用手册”那样,直接给出故障排除的速查表。然而,这本书的内核显然不是指向“速查”的。它更像是一位经验丰富的老专家,耐心地拉着你的手,从最基本的半导体PN结的形成讲起,一步步引导你理解电流如何在特定材料中流动、如何在不同温度和频率下表现出非线性行为。我记得在讨论某一种特定封装的电解电容时,作者花了近十页的篇幅来阐述其内部的介电层老化机制,以及这种老化如何影响高频信号的滤波性能。这种深度,远超出了我通常阅读的那些以应用为导向的资料。当我试图在书中寻找关于最新一代SiC(碳化硅)功率器件的应用案例时,发现这些内容非常稀疏,或者是以一种非常学术化的、偏向材料科学的角度被提及,而非侧重于具体的驱动电路设计。这让我意识到,这本书的价值不在于告诉你“现在该用什么”,而在于帮你理解“为什么过去的技术是那样设计的,以及未来的发展趋势应该如何去推导”。它培养的是一种底层思维模式,而不是即时的工具箱。
评分相较于市面上那些注重“速度”和“集成度”的现代电子技术书籍,这本著作的视角显得尤为独特,它似乎更关心“可靠性”和“长寿命”。我注意到,在对很多关键元器件的讨论中,作者反复强调了制造过程中的公差控制、长期热循环对材料结构的影响,以及如何通过合理的降额设计来确保系统在极端条件下的稳定性。书中对“失效分析”的部分着墨颇多,详细描述了焊点疲劳、塑封材料老化、引线键合断裂等多种失效模式的微观机理。这种关注点,让这本书更像是面向航空航天、工业控制这类对MTBF(平均故障间隔时间)要求极高的领域而编写的参考书,而非面向快速迭代消费电子产品的指南。当我阅读到关于电位器机械磨损特性和可变电容器的介质击穿电压的讨论时,我清晰地感受到,作者是在用一种近乎工匠精神的态度去审视这些看似平凡的组件。这种对“耐用性”的深度挖掘,对于我理解如何设计一个能稳定运行十年以上的设备,提供了坚实的理论支撑。
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