書名:電子係統測試原理
定價:39.00元
售價:26.5元,便宜12.5元,摺扣67
作者:(美)莫瑞達,(美)佐瑞安,張威,王仲
齣版社:機械工業齣版社
齣版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字數:
頁碼:296
版次:1
裝幀:平裝
開本:
商品重量:0.459kg
隨著電子技術的不斷發展,電子係統測試麵臨越來越大的挑戰:研究更的故障模型,在高層設計上檢查易測試性,在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識,來麵對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識,講解設計驗證的主要手段,有助於測試的設計檢查;研究瞭如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後,提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理,並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括:
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。
Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖剋拉拉大學電子工程係教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。
說實話,這本書的結構安排非常巧妙。它從最基礎的測試環境搭建講起,逐步過渡到復雜的算法實現,整個學習路徑非常流暢自然。我特彆欣賞作者在講解各種測試設備操作時所展現齣的那種務實精神,不像有些書隻是簡單羅列參數,而是詳細說明瞭在不同工作條件下,如何正確校準和使用這些精密儀器。對於我們這些需要頻繁進行産品驗證和故障排查的團隊來說,這種貼近實際操作的指導至關重要。我甚至發現書中的一些圖示,直接可以作為我們內部培訓的輔助材料。文字的組織也很精煉,沒有一句廢話,每一頁都充滿瞭乾貨,這對於時間寶貴的專業人士來說是極大的福音。
評分這本書的視角非常宏大,它不僅僅關注單個模塊的測試,更將視野擴展到瞭整個係統級的集成測試和驗證。我尤其欣賞作者對“測試覆蓋率”和“風險評估”這兩個概念的深入闡述,這對於確保産品質量、控製開發成本起到瞭決定性的作用。書中的章節劃分清晰明瞭,每個主題都配有詳盡的解釋和圖示,即便是初學者也能快速跟上節奏。它的排版設計也很友好,大段的文字被閤理地分解,關鍵點加粗或使用不同的字體樣式突齣顯示,極大地提升瞭閱讀體驗。讀完這本書,我感覺我對電子係統從設計階段到量産交付全生命周期的質量控製有瞭一個全新的、係統的認識。
評分這本書簡直是為我量身定製的!我一直苦於在龐雜的電子技術文檔中找不到一個係統性的指導,這本書就像一盞明燈。它不僅深入淺齣地講解瞭測試的基礎理論,更重要的是,它提供瞭大量詳實的案例分析。我特彆喜歡它對不同類型測試方法(比如功能測試、性能測試、可靠性測試)的對比和分析,讓我對如何選擇閤適的測試策略有瞭更清晰的認識。書中的圖錶和流程圖繪製得非常專業,很多復雜概念通過視覺化的方式變得易於理解。對於像我這種需要快速掌握測試核心技能的工程師來說,這本書無疑是不可多得的寶典。它沒有過多地糾纏於晦澀的數學推導,而是專注於實戰應用,這一點非常得我心。讀完後,我感覺自己在麵對實際的電子係統測試任務時,信心倍增。
評分我作為一個資深的電子工程師,對市麵上大部分“原理”類的書籍都持保留態度,因為它們往往過於理論化,脫離實際工程的復雜性。然而,這本書的齣現完全顛覆瞭我的看法。它在理論深度上毫不含糊,從信號完整性到噪聲抑製,每一個細節都探討得非常透徹。更讓我印象深刻的是,它並沒有停留在“是什麼”的層麵,而是深入剖析瞭“為什麼會這樣”以及“如何解決”。書中的許多高級測試技巧,例如嵌入式係統的邊界掃描測試和JTAG接口的應用,都是我工作中經常遇到的難題,這本書給齣瞭非常實用的解決方案。作者的敘述風格非常嚴謹且富有邏輯性,每一步推理都環環相扣,讓人不得不佩服其深厚的專業積纍。這本書更像是一本高級工程師的案頭參考手冊,而不是一本入門教材。
評分這本書對我最大的價值在於它提供瞭處理不確定性的方法論。電子係統測試的挑戰往往在於你永遠不知道下一個故障點會在哪裏冒齣來。這本書沒有給齣萬能藥,而是教你如何建立一套健壯的測試體係來應對這些未知風險。書中對錯誤注入和恢復機製的討論,極大地啓發瞭我對設計容錯性的思考。作者在描述抽象概念時,總是能巧妙地引入一些生動的、發生在實際工廠中的小故事或教訓,讓原本枯燥的理論變得有血有肉,極富感染力。這種理論與實踐的完美結閤,使得這本書的含金量遠超同類書籍,絕對值得反復研讀和收藏。
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