书名:电子系统测试原理
定价:39.00元
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作者:(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲
出版社:机械工业出版社
出版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字数:
页码:296
版次:1
装帧:平装
开本:
商品重量:0.459kg
随着电子技术的不断发展,电子系统测试面临越来越大的挑战:研究更的故障模型,在高层设计上检查易测试性,在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识,来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识,讲解设计验证的主要手段,有助于测试的设计检查;研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后,提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理,并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括:
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。
Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。
这本书对我最大的价值在于它提供了处理不确定性的方法论。电子系统测试的挑战往往在于你永远不知道下一个故障点会在哪里冒出来。这本书没有给出万能药,而是教你如何建立一套健壮的测试体系来应对这些未知风险。书中对错误注入和恢复机制的讨论,极大地启发了我对设计容错性的思考。作者在描述抽象概念时,总是能巧妙地引入一些生动的、发生在实际工厂中的小故事或教训,让原本枯燥的理论变得有血有肉,极富感染力。这种理论与实践的完美结合,使得这本书的含金量远超同类书籍,绝对值得反复研读和收藏。
评分说实话,这本书的结构安排非常巧妙。它从最基础的测试环境搭建讲起,逐步过渡到复杂的算法实现,整个学习路径非常流畅自然。我特别欣赏作者在讲解各种测试设备操作时所展现出的那种务实精神,不像有些书只是简单罗列参数,而是详细说明了在不同工作条件下,如何正确校准和使用这些精密仪器。对于我们这些需要频繁进行产品验证和故障排查的团队来说,这种贴近实际操作的指导至关重要。我甚至发现书中的一些图示,直接可以作为我们内部培训的辅助材料。文字的组织也很精炼,没有一句废话,每一页都充满了干货,这对于时间宝贵的专业人士来说是极大的福音。
评分我作为一个资深的电子工程师,对市面上大部分“原理”类的书籍都持保留态度,因为它们往往过于理论化,脱离实际工程的复杂性。然而,这本书的出现完全颠覆了我的看法。它在理论深度上毫不含糊,从信号完整性到噪声抑制,每一个细节都探讨得非常透彻。更让我印象深刻的是,它并没有停留在“是什么”的层面,而是深入剖析了“为什么会这样”以及“如何解决”。书中的许多高级测试技巧,例如嵌入式系统的边界扫描测试和JTAG接口的应用,都是我工作中经常遇到的难题,这本书给出了非常实用的解决方案。作者的叙述风格非常严谨且富有逻辑性,每一步推理都环环相扣,让人不得不佩服其深厚的专业积累。这本书更像是一本高级工程师的案头参考手册,而不是一本入门教材。
评分这本书简直是为我量身定制的!我一直苦于在庞杂的电子技术文档中找不到一个系统性的指导,这本书就像一盏明灯。它不仅深入浅出地讲解了测试的基础理论,更重要的是,它提供了大量详实的案例分析。我特别喜欢它对不同类型测试方法(比如功能测试、性能测试、可靠性测试)的对比和分析,让我对如何选择合适的测试策略有了更清晰的认识。书中的图表和流程图绘制得非常专业,很多复杂概念通过视觉化的方式变得易于理解。对于像我这种需要快速掌握测试核心技能的工程师来说,这本书无疑是不可多得的宝典。它没有过多地纠缠于晦涩的数学推导,而是专注于实战应用,这一点非常得我心。读完后,我感觉自己在面对实际的电子系统测试任务时,信心倍增。
评分这本书的视角非常宏大,它不仅仅关注单个模块的测试,更将视野扩展到了整个系统级的集成测试和验证。我尤其欣赏作者对“测试覆盖率”和“风险评估”这两个概念的深入阐述,这对于确保产品质量、控制开发成本起到了决定性的作用。书中的章节划分清晰明了,每个主题都配有详尽的解释和图示,即便是初学者也能快速跟上节奏。它的排版设计也很友好,大段的文字被合理地分解,关键点加粗或使用不同的字体样式突出显示,极大地提升了阅读体验。读完这本书,我感觉我对电子系统从设计阶段到量产交付全生命周期的质量控制有了一个全新的、系统的认识。
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