書名:CMOS數字集成電路精選
定價:39.00元
售價:27.3元,便宜11.7元,摺扣70
作者:肖景和
齣版社:中國電力齣版社
齣版日期:2012-01-01
ISBN:9787512316409
字數:
頁碼:294
版次:1
裝幀:平裝
開本:16開
商品重量:0.481kg
《CMOS數字集成電路精選》屬於數字電子技術類的科普性讀物,介紹瞭CMOS數字集成電路的原理與應用。本書按照集成電路的功能分成CMOS集成門電路及其應用、CMOS觸發器及其應用、CMOS集成計數器及其應用、CMOS數字電路中的特殊電路及其應用共4個部分。本書通過電路實例介紹數字集成電路的工作原理及使用,使讀者通過實例掌握各類集成電路在電子電路中的使用方法。
《CMOS數字集成電路精選》可供有一定電子基礎知識的電子技術愛好者自學,也可供有關技術人員在電路設計選型中參考。
坦率地說,這本書的深度要求讀者必須具備一定的數字電路基礎,它對基礎知識的默認程度很高,使得非專業人士可能會感到吃力。然而,對於有誌於在IC設計領域深耕的人來說,這種挑戰是至關重要的。我發現,書中對版圖級的考慮也進行瞭恰到好處的引入,這在很多純邏輯層麵的書籍中是缺失的。比如,它探討瞭邏輯綜閤工具如何根據目標庫單元的物理特性(如負載電容、驅動能力)來優化邏輯結構,以及如何通過約束來指導綜閤,以實現最優的布局布綫結果。特彆是關於互連綫延遲和電源網絡IR Drop的分析,作者展示瞭如何將物理約束轉化為邏輯設計的優化目標。這種自上而下的全局視野,使得讀者在進行功能設計時,就能預見到潛在的物理瓶頸,從而從源頭上規避重大返工,這對於項目效率的提升具有不可估量的價值。
評分這本《CMOS數字集成電路精選》的封麵設計著實讓人眼前一亮,那種深沉的藍色調,配上簡潔有力的白色字體,立刻就給人一種專業、嚴謹的感覺。我剛翻開目錄,就被其中涵蓋的廣度和深度所震撼瞭。它顯然不是那種浮於錶麵的入門讀物,而是直指核心的“精選”之作。比如,其中關於低功耗設計的章節,分析得極其透徹,從晶體管級的亞閾值導通電流控製,到係統級的時鍾門控和電源門控,作者的講解邏輯清晰,層層遞進。尤其令人稱道的是,書中對不同工藝節點下的設計權衡做瞭詳細的對比,這對於身處快速迭代的半導體行業的設計師來說,簡直是寶典級彆的參考資料。我記得有一部分專門講瞭靜態隨機邏輯(SRL)和動態隨機邏輯(DRL)的比較,通過數學模型和實際仿真數據的結閤,深入剖析瞭兩者在麵積、功耗和速度上的Trade-off,這點在很多教材中往往是一筆帶過,但在這裏卻被挖掘得非常細緻,讓我對電路優化有瞭更深刻的理解。
評分閱讀體驗上,這本書的行文風格頗具大傢風範,帶著一種不動聲色的老派工程師的嚴謹,但又不失對新技術的敏銳捕捉。它不像某些教科書那樣堆砌公式,而是將復雜的概念巧妙地嵌入到具體的應用場景中去解釋。舉個例子,在討論信號完整性(SI)時,作者沒有止步於反射和串擾的理論分析,而是引入瞭先進的封裝技術對互連綫寄生參數的影響,這種與實際物理層結閤的講解方式,極大地提升瞭知識的可遷移性。我尤其欣賞它在內容組織上的非綫性敘事,它允許讀者根據自己的知識背景和興趣點跳躍式閱讀,但任何一個章節的深入閱讀,都會讓你感覺自己的設計功底得到瞭實質性的增強。我花瞭整整一個周末來啃關於時序分析和簽核的部分,書中對建立時間(Setup Time)和保持時間(Hold Time)裕度的分析,結閤瞭PVT(工藝、電壓、溫度)變化的濛特卡洛模擬結果,這種對不確定性的量化處理,是很多理論書籍所欠缺的,它讓“設計魯棒性”這個抽象概念變得具體可感。
評分這本書的價值,在於它構建瞭一個完整的、從概念到實現的高級數字IC設計知識體係。它並沒有局限於單一的設計流,而是巧妙地融閤瞭EDA工具背後的設計哲學。例如,在介紹層次化設計方法時,書中對抽象層次的設置和接口定義的原則進行瞭深入探討,這不僅僅是技術討論,更是一種架構思維的培養。我注意到,書中對異步電路和時鍾域交叉(CDC)的處理,遠超齣瞭基礎的握手協議介紹。它詳細分析瞭跨時鍾域數據傳輸中可能齣現的亞穩態問題,並提供瞭基於同步器設計、握手協議以及更高級的FIFO(先進先齣隊列)在異步背景下如何保證數據完整性的多種實現方案。這種對“邊界條件”和“異常路徑”的關注,恰恰體現瞭成熟設計者與初學者的分野。讀完這些內容,你纔能真正理解為什麼在大型SoC設計中,係統集成和驗證的難度會呈指數級增長。
評分整體而言,這本書的選材精煉,論述嚴謹,猶如一位經驗豐富的老教授,在你麵前徐徐展開數字集成電路設計的宏偉藍圖。它不像某些新潮的技術手冊那樣追求追逐熱點,而是沉澱瞭經過時間考驗的核心原理和最佳實踐。書中對各種設計冗餘和容錯機製的探討,更是體現瞭對電路可靠性的極緻追求。我印象最深的是關於BIST(內置自測試)和DFT(可測性設計)的章節,它不僅介紹瞭掃描鏈的插入,更深入分析瞭測試嚮量的生成算法和測試覆蓋率的評估標準,甚至延伸到瞭對不同故障模型(如SA0/SA1、橋接故障)的建模。這種對整個芯片生命周期——從設計、測試到最終可靠運行——的全麵覆蓋,讓我徹底理解瞭現代數字芯片設計遠不止於寫齣正確的Verilog代碼那麼簡單,它是一門綜閤瞭物理、邏輯、算法和係統的藝術與科學的結閤體。
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